產品(pǐn)優勢(shì)

華測導電(diàn)與(yǔ)防靜電體積(jī)表麵(miàn)電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)測(cè)試儀將半導電材料檢(jiǎn)測(cè)穩定(dìng)性做(zuò)到(dào)ji致(zhì)，偏差(chà)1/60，抗幹擾(rǎo)提(tí)高300倍(bèi)。

升級了的2kV浮(fú)動電(diàn)路

HC浮動電路(lù)與三軸連接(jiē)器組(zǔ)合使(shǐ)用可有(yǒu)效(xiào)增強對(duì)電(diàn)源(yuán)幹擾(rǎo)或外(wài)來(lái)幹擾的(dí)穩定性(重復精度)大幅提升(shēng)。普通的(dí)使用(yòng)環境的偏差為(wéi)0.007%(代表(biǎo)值(zhí))與以往(wǎng)機型(xíng)相(xiāng)比(bǐ)減(jiǎn)少(shǎo)至(zhì)1/60，值(zhí)得(dé)一提(tí)的是(shì)在摻雜(zá)50V突發(fā)幹擾(rǎo)的(dí)條件下減(jiǎn)少至1/300。

16mm 大口(kǒu)徑三軸(zhóu)連(lián)接(jiē)器

電流輸(shū)入(rù)端口全(quán)新(xīn)采用大口徑(jìng)三軸(zhóu)連接器(qì)，是將內(nèi)部屏蔽連接(jiē)至 GUARD(COM)綫，外部(bù)屏(píng)蔽連接至(zhì) GROUND的(dí) 3 層同(tóng)軸設計。

兼顧抗(kàng)幹擾的穩(wěn)定性和高壓檢查(chá)時(shí)的(dí)性(xìng)。

適用(yòng)標準

GB/T 11210-2014
《硫化橡(xiàng)膠(jiāo)抗(kàng)靜電(diàn)和(hé)導電(diàn)製品(pǐn)電阻的(dí)測(cè)定(dìng)》
ISO1853-2011
《導電(diàn)和防(fáng)靜電橡膠-電阻(zǔ)率測量》
GB/T2439-2001
《導電和(hé)抗靜電橡(xiàng)膠電阻(zǔ)率（係數）的測(cè)定方(fāng)法(fǎ)》
GB/T15662-1995
《導(dǎo)電，防靜電(diàn)塑料體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)率測試方(fāng)法》
ASTM D991
《橡膠特(tè)性(xìng)---導電材(cái)料(liào)及防(fáng)靜電產品的體積電(diàn)阻的標準(zhǔn)測試方(fāng)法》
GB/T 15738-2008
《導電和抗(kàng)靜電纖維(wéi)曾強塑料電阻(zǔ)率(shuài)試(shì)驗(yàn)方(fāng)法(fǎ)》
GB/T 3048.3-2007
《電(diàn)綫(xiàn)電纜電(diàn)試(shì)驗(yàn)方法(fǎ)第03部(bù)分：半(bàn)導電橡(xiàng)塑(sù)材(cái)料體積(jī)電阻(zǔ)率試驗》

配合材料和用(yòng)途(tú)的(dí)多種(zhǒng)電(diàn)極(jí)

體積電阻(zǔ)測量用電極 Huace9001可以直接(jiē)測(cè)量片狀， 薄膜(mó)，板(bǎn)狀的(dí)產品以及材料的體(tǐ)積電阻率

電阻(zǔ)率的測(cè)量(liáng)

在測量(liáng)導電材(cái)料(liào)電(diàn)阻(zǔ)率若(ruò)采用(yòng)三(sān)電極或(huò)二(èr)電極(jí)測量時會(huì)因(yīn)為(wéi)電極(jí)與被測量材料(liào)表(biǎo)麵電阻而影響(xiǎng)測(cè)量準確性，本(běn)裝置采(cǎi)用(yòng)四(sì)電極(jí)(四(sì)點探針(zhēn)或四(sì)探(tàn)針)法測(cè)量導(dǎo)電和(hé)防(fáng)靜電(diàn)材料體積(jī)電阻(zǔ)率，可以克服表麵(miàn)接觸電(diàn)阻造成的(dí)誤(wù)差影(yǐng)響，Huace991係列配(pèi)備可提(tí)供超穩(wěn)定直流電源與電流采集(jí)係統(tǒng)，可測(cè)量半(bàn)導體，導(dǎo)體材(cái)料的(dí)體(tǐ)積(jī)電阻率。

平板測試用電(diàn)極(jí) SME-8311

采用(yòng)GB或(huò)ASTM測試方(fāng)法進(jìn)行的計算(suàn)，可(kě)以確定(dìng)材料的體(tǐ)積(jī)電阻率式中(zhōng)
ρV =體(tǐ)積(jī)電(diàn)阻率(shuài)歐姆厘米(Ω);
V=電(diàn)位電(diàn)極（B-B′）或為電(diàn)流通(tōng)過試(shì)樣（A-A'）的(dí)電(diàn)位(wèi)差(V)；
W =試樣寬度(dù)(cm)；
d =試(shì)樣厚(hòu)度(dù)（cm）;
I=電流的平(píng)均(jūn)值(A);
L=與試樣接觸的(dí)兩(liǎng)個電(diàn)位電極之(zhī)間(jiān)的距離(lí)（cm）。