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對於(yú)電壓擊穿試(shì)驗(yàn)儀(yí)的選(xuǎn)擇不(bù)得不了解的(dí)幾個問(wèn)題?
做(zuò)一個產品(pǐn)不(bù)難(nán),難在做精一(yī)個(gè)產(chǎn)品,生產電(diàn)試驗儀的產品的廠(chǎng)家(jiā)不在(zài)少(shǎo)數。各有(yǒu)千(qiān)秋(qiū)?PLC控製(zhì)的(dí),ARM控製的。手動(dòng)控(kòng)製的(dí)等(děng)。對於(yú)電壓(yā)擊穿(chuān)試驗(yàn)儀的(dí)選(xuǎn)擇(zé)不(bù)得不(bù)了解的以(yǐ)下(xià)幾個(gè)問題(tí)?
一, 電壓(yā)擊穿(chuān)試驗儀(yí)在(zài)電(diàn)磁幹(gān)擾(rǎo)下如何保證(zhèng)長(cháng)期(qī)穩(wěn)定(dìng)的工(gōng)作(zuò);目前(qián)的(dí)電子元器件在長(cháng)期(qī)的電(diàn)磁(cí)幹(gān)擾情況(kuàng)下,其必然(rán)受到影響。如(rú)何(hé)處(chǔ)理;
二(èr),無(wú)論(lùn)是(shì)PLC還是(shì)電(diàn)路(lù)板(bǎn)控(kòng)製(zhì),又(yòu)將如何(hé)處理其輸(shū)入(rù)控(kòng)製高壓的之間的(dí)保(bǎo)護;因(yīn)電路(lù)板(bǎn)或(huò)PLC晶(jīng)體(tǐ)管輸入都(dū)大(dà)約在(zài)24V以下工(gōng)作。雖(suī)然(rán)說有(yǒu)光耦等(děng)其(qí)保護,但(dàn)其高(gāo)壓(yā)反(fǎn)饋及(jí)高壓(yā)電磁(cí)幹擾(rǎo)下,顯得(dé)及其(qí)力(lì)不從(cóng)心(xīn);
三,如何又保證,高壓放電(diàn)等情況下的通(tōng)訊正(zhèng)常及(jí)其保護(hù);
四(sì),電(diàn)網(wǎng)電源(yuán)的(dí)雜波(bō)幹擾及(jí)電網汙(wū)染的(dí)情(qíng)況(kuàng)下(xià),電子(zǐ)控(kòng)製係(xì)統(tǒng)的(dí)穩定(dìng)性(xìng)可想(xiǎng)而知(zhī);在(zài)一種控製係統在供電不穩(wěn)的情況下,又(yòu)將如(rú)何工(gōng)作
五(wǔ),材料擊(jī)穿瞬(shùn)間的放(fàng)電過(guò)程,同(tóng)時夾(jiā)雜著(zhuó)幹擾勢必(bì)影響采(cǎi)集電穿(chuān)的(dí)過程(chéng),又將如何(hé)保(bǎo)證(zhèng)擊(jī)穿瞬(shùn)間電(diàn)壓的真(zhēn)值(zhí)。
六(liù),,無論(lùn)是(shì)失(shī)壓,門等(děng)一(yī)係(xì)的(dí)保護(hù)下。在控(kòng)製(zhì)單元(yuán)萬一失效的(dí)情況(kuàng)下,又將(jiāng)如何(hé)保證。

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