四探針(zhēn)測(cè)試儀

產品名稱(chēng)：四(sì)探(tàn)針(zhēn)測(cè)試(shì)儀(yí)

產(chǎn)品型(xíng)號：HCTZ-2S

品(pǐn)牌：北京(jīng)華測

產(chǎn)品介紹

HCTZ-2S四探針(zhēn)測試(shì)儀(yí)器是運用四探針(zhēn)測(cè)量原理的多(duō)用途(tú)綜合(hé)測量設備。該儀器(qì)按照單晶(jīng)矽物(wù)理(lǐ)測試(shì)方法標(biāo)準(zhǔn)並參(cān)考(kǎo)美國 A.S.T.M 標(biāo)準而(ér)設(shè)計的，於測試半導體(tǐ)材(cái)料電(diàn)阻(zǔ)率及(jí)方塊電阻(薄層電阻(zǔ))的儀(yí)器。儀器由主機(jī)，測(cè)試台(tái)，四(sì)探針(zhēn)探頭(tóu)，計算機等部分(fēn)組(zǔ)成，測量數據既可(kě)由主(zhǔ)機直(zhí)接顯示，亦可由計算機(jī)控(kòng)製測(cè)試(shì)采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機中加以分(fēn)析(xī)，然後(hòu)以表(biǎo)格，圖形方式(shì)統計(jì)分(fēn)析顯示測(cè)試結(jié)果。

HCTZ-2S雙(shuāng)電測數字式四(sì)探(tàn)針測試儀是運(yùn)用(yòng)直綫(xiàn)或方形(xíng)四探針雙位測量(liáng)。該(gāi)儀器(qì)設(shè)計(jì)符(fú)合單晶矽(guī)物理測試(shì)方法(fǎ)標(biāo)準(zhǔn)並參(cān)考美(měi)國A.S.T.M.標準。利(lì)用電流(liú)探(tàn)針，電壓(yā)探(tàn)針(zhēn)的變換，采用(yòng)兩(liǎng)次電測(cè)量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行(háng)雙電(diàn)測(cè)分析(xī)，自動(dòng)消(xiāo)除樣品幾(jī)何尺寸，邊界效(xiào)應(yīng)以及(jí)探(tàn)針不等(děng)距(jù)和機械遊移(yí)等(děng)因素(sù)對測(cè)量結果(guǒ)的影(yǐng)響，它與單(dān)電(diàn)測直(zhí)綫或方形四探針相比(bǐ)，大大提(tí)高度，也可應用於產(chǎn)品(pǐn)檢測(cè)以(yǐ)及(jí)新(xīn)材料電學(xué)研究等(děng)用途(tú)。

四(sì)探針軟(ruǎn)件測試係統(tǒng)是一(yī)個(gè)運行在計(jì)算機(jī)上(shàng)擁有友(yǒu)好(hǎo)測試(shì)界(jiè)麵的用(yòng)戶程(chéng)序(xù)，通(tōng)過此測(cè)試(shì)程(chéng)序輔助使用戶簡便地(dì)進行各(gè)項測試及獲得測(cè)試(shì)數據(jù)並對測(cè)試數(shù)據進行統(tǒng)計(jì)分析。

測(cè)試程(chéng)序(xù)控製四(sì)探針(zhēn)測試儀進行測(cè)量並(bìng)采(cǎi)集(jí)測(cè)試(shì)數(shù)據，把(bǎ)采集到(dào)的(dí)數據在計算機(jī)中加以(yǐ)分(fēn)析，然後(hòu)把測試(shì)數(shù)據以表格(gé)，圖形(xíng)直(zhí)觀(guān)地記錄，顯(xiǎn)示(shì)出來。用(yòng)戶(hù)可對(duì)采(cǎi)集到的(dí)數據在電(diàn)腦中(zhōng)保存(cún)或(huò)者(zhě)打印以(yǐ)備日後參考和(hé)查看(kàn)，還可(kě)以把采(cǎi)集到的數據輸出到Excel中，讓用戶(hù)對數據進行各種(zhǒng)數據分析。

產(chǎn)品(pǐn)應用(yòng)

HCTZ-2S四(sì)探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀(yí)器采用四探(tàn)針雙(shuāng)電測(cè)量方法(fǎ)，適用(yòng)於(yú)生產(chǎn)企業(yè)，高等院校(xiào)，科研部門，是(shì)檢驗(yàn)和分析導體材料和半導體(tǐ)材(cái)料在高溫，真空及氣(qì)氛條(tiáo)件(jiàn)下(xià)測量的(dí)一(yī)種(zhǒng)重要(yào)的工具。本儀器(qì)配(pèi)置(zhì)各類(lèi)測(cè)量裝(zhuāng)置可以測(cè)試不同材料(liào)。液(yè)晶(jīng)顯示，無需人工計算，並(bìng)帶(dài)有(yǒu)溫(wēn)度補償(cháng)功(gōng)能(néng)。采用AD芯(xīn)片控製，恒(héng)流輸(shū)出(chū)，結(jié)構(gòu)合理(lǐ)，質量輕便，配(pèi)備10英(yīng)寸觸(chù)摸(mō)屏，軟件(jiàn)可保存和(hé)打(dǎ)印(yìn)數據(jù)，自動生成(chéng)報(bào)表(biǎo)；本儀器(qì)可顯(xiǎn)示(shì)電(diàn)阻，電(diàn)阻率，方阻，溫度，單位換算，溫度係(xì)數，電(diàn)流(liú)，電壓，探針形狀，探針(zhēn)間距(jù)，厚度，電導率(shuài)，配備(bèi)不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測試(shì)要(yào)求。測試(shì)治具(jù)可以(yǐ)根據(jù)產(chǎn)品(pǐn)及測試項目要求選(xuǎn)購。

產(chǎn)品(pǐn)特(tè)點
 1.TVS瞬(shùn)間抑(yì)製防護技術： 光耦與隔(gé)離無(wú)非是(shì)提高儀器的采(cǎi)集的抗幹擾(rǎo)處理,對於(yú)閃絡放電過(guò)程中的浪湧(yǒng)對(duì)控(kòng)製(zhì)係(xì)統(tǒng)的(dí)防護起不到(dào)任(rèn)何(hé)作用(yòng)。華測獨(dú)立開(kāi) 發的(dí)TVS瞬間(jiān)抑製防(fáng)護技術(shù)，。
 2.多級循環溫度采(cǎi)集技術： 設備采(cǎi)用(yòng)PID算(suàn)法(fǎ)，以及多(duō)級(jí)循環(huán)溫度采集以保證(zhèng)溫度(dù)的(dí)有效值。控(kòng)溫和(hé)測溫采(cǎi)用同一(yī)個傳(chuán)感器，保證樣品每(měi)次采集(jí)的溫(wēn)度都 是(shì)樣(yàng)品(pǐn)實際(jì)溫度.
 3.雙係(xì)統(tǒng)互鎖(suǒ)技術及(jí)隔離屏(píng)蔽技(jì)術(shù)： 本(běn)設備(bèi)不僅具備(bèi)過(guò)壓，過流保(bǎo)護係(xì)統(tǒng)，它(tā)*的(dí)雙係(xì)統互(hù)鎖機製(zhì)，當(dāng)任(rèn)何(hé)元器件出現(xiàn)問題(tí)或(huò)單係(xì)統出現故障時，將(jiāng)瞬間切斷(duàn) 電(diàn)源。采(cǎi)用低通(tōng)濾波(bō)電(diàn)流檢測技(jì)術(shù)以保證采(cǎi)集電(diàn)流的(dí)有(yǒu)效(xiào)值(zhí) ，以及電流(liú)抗(kàng)幹(gān)擾的(dí)屏(píng)蔽。
 4.SPWM電子(zǐ)升壓技術(shù) 目前設備大都采用(yòng)SPWM電(diàn)子升壓(yā)技術(shù)，這一技術(shù)具(jù)有升壓速(sù)度平穩(wěn)，精度高。便(biàn)於維(wéi)護(hù)等(děng)優(yōu)點(diǎn)是(shì)調壓(yā)器*的(dí)。

軟件(jiàn)平台(tái)

HCTZ-800係(xì)統(tǒng)搭(dā)配(pèi)Labview係(xì)統(tǒng)開發的(dí)hcpro軟件(jiàn)，具(jù)備(bèi)彈性(xìng)的(dí)自定(dìng)義(yì)功(gōng)能，可進行電(diàn)壓(yā)，電流，溫(wēn)度(dù)，時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)體，半導體材料(liào)與其(qí)他(tā)新材(cái)料測試多(duō)樣(yàng)化的需求。

測試(shì)係統(tǒng)的軟件平(píng)台hcpro，采(cǎi)用(yòng)labview係統開(kāi)發，符合(hé)導(dǎo)體，半(bàn)導體材(cái)料的(dí)各項(xiàng)測試需求，具備穩(wěn)定(dìng)性和性，並(bìng)具備斷(duàn)電(diàn)資(zī)料的保存(cún)功能，圖像資(zī)料(liào)可保(bǎo)存恢復(fù)，支(zhī)持的(dí)標準。兼容XP，win7，win10係(xì)統。

軟件功(gōng)能

• 可編(biān)輯樣品(pǐn)名(míng)稱(chēng)，牌(pái)號，試驗條(tiáo)件，試驗單位等；
• 具(jù)有(yǒu)試驗電壓(yā)設(shè)置功能(néng)；
• 可選(xuǎn)擇試(shì)驗標(biāo)準
• 可選(xuǎn)擇(zé)是否自(zì)定義(yì)或自(zì)動試驗
• 截(jié)止條件：時間/電壓(yā)/電(diàn)流/溫(wēn)度;
• 語(yǔ)音提(tí)示(shì):可選擇是(shì)否語(yǔ)音提示功(gōng)能。
• 統(tǒng)計報告(gào)：可自定報表格(gé)式(shì)
• 可生(shēng)出(chū)PDF，CSV，XLS文件格式
• 分析功(gōng)能：可(kě)對測試(shì)的數(shù)據進行(háng)統(tǒng)計。大/小(xiǎo)值(zhí)，平(píng)均值等(děng)。

技術(shù)參(cān)數

測量範(fàn)圍

電(diàn)  阻：1×10^-4~2×10⁵Ω，     分(fēn)辨(biàn)率：1×10^-5~1×10²Ω

電阻(zǔ)率(shuài)：1×10^-4~2×10⁵Ω-cm，  分辨(biàn)率(shuài)：1×10^-5~2×10²Ω-cm

方(fāng)  阻：5×10^-4~2×10⁵Ω/□，  分辨率：5×10^-5~1×10²Ω/□

數(shù)字電壓表

1. 量程：20.00mV~2000mV
2. 誤(wù)差(chà)：±0.1%讀(dú)數±2字

數控(kòng)恒(héng)流源(yuán)

1. 量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A
2. 誤(wù)差：±0.1%讀數(shù)±2字

四探針(zhēn)探頭(tóu)

1. 碳化(huà)鎢探(tàn)針：Ф0.5mm，直流(liú)探針(zhēn)間距(jù)1.0mm，探針壓(yā)力(lì)：0~2kg可調