高溫(wēn)鐵電材料(liào)測(cè)試(shì)儀用途：

 1，高(gāo)溫電壓提(tí)高至(zhì)：0-20KV

 2，高(gāo)溫頻率提(tí)高(gāo)至(zhì)：0-15KHZ

 3.計(jì)算機自(zì)動控製直接讀出(chū)數(shù)據，測(cè)試準確(què)

 4. 配置(zhì)高壓(yā)信(xìn)號發生(shēng)器，可(kě)測(cè)量(liáng)陶(táo)瓷(cí)材料的鐵電(diàn)。

 5.不(bù)僅能(néng)畫(huà)出鐵電薄膜(mó)的電(diàn)滯(zhì)回綫(xiàn)，還(huán)可(kě)以定量(liáng)得到鐵電(diàn)薄膜(mó)材(cái)料的(dí)飽(bǎo)和極(jí)化Ps，剩餘極化Pr，矯頑場Ec，漏(lòu)電流等參(cān)數(shù)，還可以(yǐ)進行鐵電薄(báo)膜材料(liào)的(dí)鐵電(diàn)疲勞，鐵(tiě)電保持的(dí)測(cè)試，電阻測(cè)量，漏電流測(cè)量。

產品介(jiè)紹

高(gāo)溫鐵電測試儀(yí)用於(yú)鐵電體(tǐ)的鐵電(diàn)測(cè)量，。本測試係統主(zhǔ)要(yào)包括可編程信號源(yuán)，微電流放大器，積分(fēn)器，放(fàng)大(dà)倍數(shù)可(kě)編程放大(dà)器，模/數轉換(huàn)器數/模(mó)轉(zhuǎn)化器(qì)，微(wēi)機(jī)接(jiē)口(kǒu)部(bù)分(fēn)，微(wēi)機(jī)和應用軟件(jiàn)等部分(fēn)組成。

本(běn)測試係(xì)統采(cǎi)用虛(xū)地(dì)模式測(cè)量(liáng)電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此(cǐ)電(diàn)路取消了(liǎo)外(wài)接電(diàn)容，可減小(xiǎo)寄(jì)生(shēng)元件(jiàn)的影(yǐng)響。此電路的測試精度(dù)僅取決於積(jī)分器積分(fēn)電容(róng)的(dí)精(jīng)度，減(jiǎn)少(shǎo)了對測試的影響環節，比較(jiào)容易(yì)定標和，並且能(néng)實現較(jiào)高(gāo)的測量(liáng)準(zhǔn)確(què)度(dù)，它不僅能(néng)畫出鐵電薄(báo)膜(mó)的電滯(zhì)回綫，還(huán)可(kě)以(yǐ)定(dìng)量(liáng)得(dé)到(dào)鐵(tiě)電薄膜材料的飽和(hé)極化ps，剩餘(yú)極化(huà)Pr，矯頑場Ec，漏(lòu)電流(liú)Ik等(děng)參數，以(yǐ)及對鐵電薄(báo)膜材(cái)料(liào)鐵(tiě)電(diàn)疲(pí)勞，鐵電(diàn)保持(chí)的測(cè)試。。儀(yí)器(qì)采(cǎi)用一體(tǐ)化(huà)設計，實現測(cè)試(shì)結果全數(shù)字(zì)化，操作簡單(dān)方便。

鐵(tiě)電材料(liào)參數測(cè)試儀(yí)主(zhǔ)要(yào)是(shì)由(yóu)正(zhèng)弦波，三(sān)角(jiǎo)波，間歇(xiē)三(sān)角(jiǎo)波，梯形(xíng)波發(fā)生器(qì)及正，負矩(jǔ)形(xíng)脈衝和(hé)雙(shuāng)極性雙(shuāng)脈衝(chōng)發生(shēng)器(qì)外加(jiā)鐵(tiě)電材料(liào)電滯回綫(xiàn)，I-V特(tè)性及開(kāi)關特性測量電(diàn)路構成(chéng)。適用於鐵電(diàn)薄膜，鐵電體材(cái)料的(dí)電測量，可測量(liáng)鐵電薄膜電滯(zhì)回(huí)綫，I-V特(tè)性(xìng)及開關(guān)特(tè)性，可準確地(dì)測出具(jù)有(yǒu)非(fēi)對稱(chēng)電(diàn)滯(zhì)回綫(xiàn)鐵(tiě)電薄(báo)膜(mó)的Pr值(zhí)。可(kě)測(cè)鐵電(diàn)體(tǐ)材料(liào)的(dí)電滯回綫及(jí)IV特性。同時也可作為一台通(tōng)用信號發生器，高壓信號(hào)發生器(qì)使用。

產品特(tè)點(diǎn)

• 電(diàn)滯回綫測量(liáng)，鐵(tiě)電材料的飽和極(jí)化±Ps，剩(shèng)餘(yú)極(jí)化±Pr，矯(jiǎo)頑場(cháng)±Ec，電容量C等(děng)參(cān)數
• 鐵電疲勞測量(liáng)
• 鐵(tiě)電保(bǎo)持(chí)測(cè)量(liáng)
• 電阻(zǔ)測量
• 漏電(diàn)流測量
• 三維(wéi)移動(dòng)平(píng)台

軟件功(gōng)能

HC5000係列測試係(xì)統的軟件平(píng)台(tái)hacepro,采用labview係(xì)統(tǒng)開發(fā)，符(fú)合導體，半導體材料的各(gè)項測試(shì)需求(qiú)，具備(bèi)穩定性與(yǔ)性，並(bìng)具(jù)備(bèi)斷電資(zī)料的(dí)保存功(gōng)能(néng)，圖(tú)像資(zī)料可保存恢(huī)復(fù)，。兼(jiān)容(róng)，XP，win7，win10係(xì)統(tǒng)。

友(yǒu)善的使用(yòng)界麵(miàn)

多語界麵(miàn)：支(zhī)持中(zhōng)文(wén)/英文 兩(liǎng)種語(yǔ)言界麵；

即(jí)時監控(kòng)：係(xì)統測試狀態即時(shí)瀏(liú)覽，無(wú)需等待；

圖(tú)例(lì)管(guǎn)理：通過(guò)軟件中的(dí)狀態(tài)圖(tú)示(shì)，一目了然，立(lì)即對(duì)狀態(tài)說明，了解(jiě)測(cè)試狀態；

使用(yòng)權限(xiàn)：可設定(dìng)使用(yòng)者的權限(xiàn)，方便(biàn)管(guǎn)理；

故(gù)障狀態(tài)：軟(ruǎn)件具(jù)有設備的(dí)故障報警(jǐng)功能(néng)。

硬件支持

• 集成[email protected]雙(shuāng)核處理(lǐ)器(qì)
• 集(jí)成打(dǎ)印(yìn)機接(jiē)口(kǒu)，大(dà)可(kě)擴充8個USB接(jiē)口
• 支(zhī)持16G內(nèi)存(cún)，60G固體(tǐ)硬(yìng)盤(pán)，讓係統(tǒng)運(yùn)行流暢(chàng)。

應用(yòng)領(lǐng)域

• 鐵電材料(liào)的(dí)電滯(zhì)回綫（動(dòng)態與(yǔ)靜(jìng)態(tài)），漏(lòu)電流(liú)等(děng)特(tè)性。
• 測(cè)量(liáng)記(jì)錄在薄膜樣品上施(shī)加階躍電壓(yā)時的電(diàn)流響應(yīng)。
• 超晶(jīng)格(gé)材(cái)料(liào)在方波(bō)脈衝電(diàn)壓激(jī)勵下的(dí)自漏電(diàn)特(tè)性。

技(jì)術參數

1，電壓範圍(wéi)：±30V（可擴(kuò)展至±4KV）

2，輸出電流(liú)峰(fēng)值：±1A

3，大負(fù)荷(hé)電(diàn)容：1μF

4，動(dòng)態(tài)電滯回綫測試頻(pín)率：0.001Hx～100kHz

5，鐵電(diàn)材料(liào)漏電流(liú)的測試：10pA～100mA

6，小脈衝寬(kuān)度：25ns

7，上(shàng)升時間：7ns

8，極化(huà)測(cè)試到：10fC

9，塊體(tǐ)材料樣品盒可(kě)進(jìn)行室溫～1200℃電滯(zhì)回(huí)綫測定