華(huá)測(cè)高(gāo)溫(wēn)四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀(yí)器(qì)采用四探(tàn)針雙(shuāng)電測量(liáng)方法(fǎ)，適(shì)用(yòng)於(yú)生產企(qǐ)業，高(gāo)等(děng)院(yuàn)校(xiào)，科研(yán)部門(mén)，是檢(jiǎn)驗(yàn)和分析導(dǎo)體(tǐ)材料和半導(dǎo)體材料在高(gāo)溫(wēn)，真空(kōng)及氣氛條(tiáo)件下(xià)測量的(dí)一種(zhǒng)重要的工(gōng)具(jù)。本儀器配(pèi)置(zhì)各類(lèi)測量(liáng)裝(zhuāng)置(zhì)可以(yǐ)測(cè)試不(bù)同(tóng)材料(liào)。液晶(jīng)顯(xiǎn)示(shì)，無需人工計算，並(bìng)帶有溫度補償(cháng)功能(néng)。采(cǎi)用AD芯片(piàn)控(kòng)製，恒流輸(shū)出(chū)，結(jié)構合理，質量輕(qīng)便，配備(bèi)10英寸觸摸(mō)屏，軟件可保存和(hé)打印數(shù)據，自(zì)動(dòng)生(shēng)成報(bào)表；本儀(yí)器可顯示電阻，電阻率(shuài)，方(fāng)阻，溫(wēn)度(dù)，單位(wèi)換算，溫度(dù)係(xì)數(shù)，電(diàn)流，電壓，探針形狀，探針間距(jù)，厚(hòu)度(dù)，電(diàn)導率，配置不同(tóng)的(dí)測試(shì)治具可以滿(mǎn)足(zú)不(bù)同材(cái)料的(dí)測試(shì)要(yào)求(qiú)。測試治具可以(yǐ)根(gēn)據產品(pǐn)及測試(shì)項(xiàng)目(mù)要求(qiú)選(xuǎn)購(gòu)。

   雙電測數(shù)字式四(sì)探針測試(shì)儀是(shì)運用直綫或方形(xíng)四(sì)探(tàn)針雙(shuāng)位(wèi)測量。該儀器設計符合(hé)單(dān)晶矽物理測試(shì)方法標(biāo)準(zhǔn)並(bìng)參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利(lì)用(yòng)電(diàn)流(liú)探(tàn)針，電壓(yā)探(tàn)針的變換，進行兩(liǎng)次(cì)電(diàn)測(cè)量，對數據(jù)進行雙電測分析，自(zì)動消(xiāo)除樣品幾何尺寸(cùn)，邊界效(xiào)應以及探(tàn)針(zhēn)不(bù)等(děng)距和(hé)機(jī)械(xiè)遊(yóu)移等(děng)因素(sù)對(duì)測(cè)量結(jié)果(guǒ)的影(yǐng)響，它(tā)與(yǔ)單(dān)電(diàn)測直綫(xiàn)或方形(xíng)四探(tàn)針(zhēn)相比，大(dà)大提，也可(kě)應用(yòng)於(yú)產品檢(jiǎn)測以及(jí)新(xīn)材料電(diàn)學(xué)研究(jiū)等(děng)用(yòng)途。

    采用開(kāi)發(fā)電子護(hù)係(xì)統(tǒng)，設(shè)備的性(xìng)；選(xuǎn)用熱(rè)電偶(ǒu)保定(dìng)溫(wēn)度(dù)的采(cǎi)集有效值，采用(yòng)的(dí)SPWM電(diàn)子升(shēng)壓技(jì)術，電壓輸出穩定性好(hǎo)。配備電壓，電(diàn)流傳感器以保證試(shì)驗(yàn)數據的有效性。

   係統(tǒng)搭(dā)配Labview係統開發(fā)的hcpro軟(ruǎn)件，具(jù)備彈(dàn)性(xìng)的(dí)自定(dìng)義(yì)功能，可進行電壓(yā)，電流，溫(wēn)度，時間等設置，符(fú)合導體，半(bàn)導(dǎo)體材料與其(qí)它(tā)新(xīn)材(cái)料測試多(duō)樣(yàng)化(huà)的需(xū)求。

   高度的輸出與(yǔ)測量(liáng)規格(gé)，保障(zhàng)檢(jiǎn)測結(jié)果的(dí)，適(shì)用於(yú)新材(cái)料數據的檢測。例(lì)如(rú)：多(duō)晶(jīng)矽材料，石(shí)墨(mò)烯材(cái)料(liào)，導電功能(néng)薄(báo)膜材(cái)料，半導體(tǐ)材料，也可做為(wéi)科研院所新材(cái)料的(dí)耐電弧(hú)性材料的(dí)測試。

   針(zhēn)對高溫(wēn)四(sì)探(tàn)針測試儀(yí)做(zuò)了多(duō)項(xiàng)設(shè)計(jì)，測(cè)試過(guò)程中(zhōng)有過(guò)電壓(yā)，過電流，超溫等異(yì)常情況以(yǐ)保(bǎo)證(zhèng)測(cè)試過程的；資(zī)料(liào)保(bǎo)存(cún)機製：當遇(yù)到電腦(nǎo)異(yì)常瞬(shùn)時(shí)斷電(diàn)可將資料保(bǎo)存(cún)於控製(zhì)器(qì)中，不丟失試驗數所新開(kāi)啟(qǐ)動後(hòu)可恢復(fù)原(yuán)有試驗數(shù)據(jù)。