表麵體積電(diàn)阻(zǔ)率測試儀操作注意事項

Huace-200A表(biǎo)麵體積電阻率(shuài)測試儀既可(kě)測量(liáng)高電阻(zǔ)，又可(kě)測微電流。在進行(háng)高(gāo)阻(zǔ)測量(liáng)時一定要嚴(yán)格按使用(yòng)方法步驟進行(háng)，否則(zé)有可(kě)能(néng)損壞儀器(qì)或(huò)者電人 。

　　1， 應(yīng)在(zài)“Rx"兩(liǎng)端(duān)開路(lù)時調零  如(rú)接(jiē)在(zài)電阻箱(xiāng)或被測(cè)量物(wù)體上(shàng)時調(tiáo)零後(hòu)測(cè)量會(huì)產生(shēng)很(hěn)大的(dí)誤差。一(yī)般一次調零後在測試過(guò)程中(zhōng)不(bù)需(xū)再(zài)調零(líng)，但(dàn)改變(biàn)測(cè)量(liáng)電壓(yā)後(hòu)可能(néng)要重新調零。

　　2， 禁止將“Rx"兩(liǎng)端短路(lù)，以(yǐ)免(miǎn)微電流(liú)放大器(qì)受大電(diàn)流衝擊  。

　　3， 在測試過程中(zhōng)不要(yào)隨(suí)意(yì)改(gǎi)動(dòng)測量(liáng)電壓(yā)，因為這樣可能因(yīn)電壓(yā)過高或電(diàn)流過(guò)大導致(zhì)被(bèi)測試(shì)器(qì)件或測(cè)試儀(yí)器的損壞(huài)，且(qiě)有的材(cái)料是非綫性(xìng)的(dí)(即電(diàn)壓(yā)與電(diàn)流(liú)是(shì)不(bù)符(fú)合歐(ōu)姆(mǔ)定律)，有改(gǎi)變電(diàn)壓(yā)時由(yóu)於電流不是(shì)綫(xiàn)性變(biàn)化，因(yīn)此測(cè)量(liáng)的電阻也(yě)會(huì)產(chǎn)生(shēng)相應的變化(huà)。

　　4， 測量(liáng)時(shí)從(cóng)低(dī)次檔逐漸拔往(wǎng)高次(cì)檔(dàng)  每撥一次稍(shāo)停(tíng)留(liú)1～2秒(miǎo)以便觀察顯示數字，當(dāng)有(yǒu)顯(xiǎn)示值(zhí)時(shí)應停(tíng)下，記錄(lù)當(dāng)前(qián)的數字(zì)即(jí)是被測電阻值。若顯示“1"時，表(biǎo)示欠量程應往高次檔拔(bá)。直到(dào)有(yǒu)顯示數字(zì)時為止。當(dāng)有顯(xiǎn)示(shì)數字時不能(néng)再往(wǎng)高次(cì)檔撥，否則有(yǒu)可(kě)能(néng)損(sǔn)壞(huài)儀(yí)器(qì)(機內有(yǒu)過電流(liú)保(bǎo)護電路(lù))。除(chú)104 Ω檔(dàng)之(zhī)外，當顯示低(dī)於1.99，表(biǎo)示(shì)過(guò)量程(chéng)應換低(dī)檔。

　　5， 大(dà)部分(fēn)絕緣材料(liào)，特(tè)別是(shì)防靜(jìng)電材料的電(diàn)阻值(zhí)在加電壓後會有(yǒu)一定變化(huà)而引起數字(zì)變化(huà)   由(yóu)於(yú)本(běn)儀器的分辨(biàn)率(shuài)很(hěn)高(gāo)，因而顯示值(zhí)的(dí)末(mò)尾(wěi)幾(jī)位(wèi)數(shù)也會(huì)產生(shēng)變化，這(zhè)不(bù)是儀(yí)器本身(shēn)的(dí)問題，而是(shì)被(bèi)測(cè)量對(duì)象(xiàng)的導電(diàn)機理復雜而使(shǐ)得阻值有(yǒu)些變化(huà)。在這(zhè)種情況下(xià)往往取(qǔ)2位(wèi)有(yǒu)效(xiào)數就夠(gòu)了。

　　6 ，接(jiē)通電(diàn)源(yuán)後，手指不能(néng)觸(chù)及(jí)高壓綫的(dí)金(jīn)屬部分   本(běn)儀表有(yǒu)二連(lián)根綫：高壓(yā)綫(紅)和(hé)微電流測(cè)試(shì)綫(xiàn)。在(zài)使(shǐ)用時要注(zhù)意高壓(yā)綫(xiàn)，開機(jī)後(hòu)人(rén)不(bù)能觸(chù)及(jí)高(gāo)壓綫(xiàn)，以(yǐ)免(miǎn)電(diàn)人(rén)或麻手(shǒu)。

　　7 ，測試(shì)過程中(zhōng)不能觸摸(mō)微電流測試端      微(wēi)電(diàn)流測試端怕(pà)受(shòu)到(dào)大(dà)電流或人體感(gǎn)應電壓(yā)及(jí)靜(jìng)電(diàn)的(dí)衝(chōng)擊。所以在(zài)開(kāi)機後和(hé)測試(shì)過(guò)程(chéng)中不能與(yǔ)微電(diàn)流測試端接(jiē)觸(chù)，以免(miǎn)損(sǔn)壞儀(yí)表(biǎo)。

　　8， 在測(cè)量高阻(zǔ)時，應采用(yòng)屏蔽(bì)盒將(jiāng)被測(cè)物體(tǐ)屏(píng)蔽。 在測量大(dà)於(yú)1010 Ω以(yǐ)上(shàng)時(shí)，為防(fáng)止外界幹擾(rǎo)麵而引(yǐn)起(qǐ)讀數(shù)不穩。

　　9， 每(měi)次測量(liáng)完(wán)後(hòu)應將量程開(kāi)關(guān)撥回(huí)“104 "檔再進行下(xià)次測試(shì)  在測量時應逐(zhú)漸將量程開關撥(bō)到(dào)高(gāo)阻(zǔ)檔，測(cè)完(wán)後應將(jiāng)量(liáng)程開關(guān)撥(bō)回(huí)低檔，以確保下次(cì)開(kāi)機時量程開關處(chǔ)在(zài)低阻量程檔。