高溫(wēn)四探針(zhēn)測(cè)試(shì)儀(yí)的(dí)主要(yào)功能特(tè)點介紹(shào)
更(gēng)新時間：2020-04-23 點擊(jī)次(cì)數：1809
高溫(wēn)四(sì)探(tàn)針測(cè)試(shì)儀(yí)采(cǎi)用由四(sì)端測(cè)量方(fāng)法(fǎ)測試電(diàn)阻(zǔ)率係統與高溫(wēn)試驗(yàn)箱為一(yī)體的的高(gāo)溫測試(shì)係統，滿(mǎn)足半導體(tǐ)及(jí)導體材料因溫度(dù)變化(huà)對電阻值變化(huà)的(dí)測量要求，通以在(zài)高(gāo)溫 ，真空，氣(qì)氛(fēn)的條件下(xià)測(cè)量導電材(cái)料電阻和電(diàn)阻率，可(kě)以分(fēn)析被測(cè)樣的電阻和(hé)電阻(zǔ)率(shuài)隨溫度， 時間變化的曲(qū)綫(xiàn)。目(mù)前主要針對(duì)圓片，方塊(kuài)，長條等樣(yàng)品(pǐn)進(jìn)行測(cè)試。
高(gāo)溫四(sì)探(tàn)針測試(shì)儀廣泛用於(yú)碳係導電材料(liào)， 金(jīn)屬係導(dǎo)電材料， 金(jīn)屬氧(yǎng)化物(wù)係導電材料，結 構型高(gāo)分子(zǐ)導電材(cái)料(liào)，復(fù)合(hé)導(dǎo)電(diàn)材料(liào)等材(cái)料(liào)的電阻率測量。 主要有生產(chǎn)企(qǐ)業(yè)，高等院(yuàn)校(xiào)，科(kē)研部門對導電陶瓷，矽，鍺(zhě)單晶(jīng)（棒料，晶(jīng)片）電阻率(shuài)，測定(dìng)矽(guī)外(wài)延(yán)層(céng)，擴(kuò)散(sàn)層和離(lí)子注入(rù)層的方(fāng)塊電阻以及測(cè)量(liáng)導電玻(bō)璃（ITO）和其(qí)它(tā)導電(diàn)薄膜(mó)的方塊電阻，電阻率和電導率(shuài)數據。
1，采(cǎi)用(yòng)雙(shuāng)電測(cè)組合(hé)測(cè)量模式，不(bù)用進行係數修正；
2，可以測(cè)量高(gāo)溫(wēn)，真空(kōng)，氣氛(fēn)條件下薄膜方塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ)和(hé)薄層(céng)電(diàn)阻率；
3，可以(yǐ)分(fēn)析(xī)方塊(kuài)電(diàn)阻和(hé)電(diàn)阻(zǔ)率隨溫(wēn)度變(biàn)化(huà)的(dí)曲(qū)綫；
4，可以(yǐ)自動(dòng)調節施加在樣品的(dí)測(cè)試(shì)電壓，以(yǐ)防樣(yàng)品擊(jī)穿(chuān)；
5，可以(yǐ)與(yǔ)美國keithley2400數字源表配(pèi)套(tào)測(cè)量(liáng)半(bàn)導(dǎo)體材(cái)料(liào)；
6，可以通過USB傳(chuán)輸(shū)數據(jù)，數(shù)據格式是Excel格(gé)式(shì)。
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