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薄膜電(diàn)弱點測試(shì)儀的研(yán)製
電氣用塑料薄膜的生產(chǎn)過程(chéng)中,會出(chū)現(xiàn)薄膜穿(chuān)孔(kǒng),導電(diàn)顆粒(lì)積(jī)聚,
劃傷等(děng)影(yǐng)響(xiǎng)電氣的電(diàn)弱點。根據標準《GB/T 13541-92 電(diàn)氣
用塑料(liào)薄膜(mó)試驗方(fāng)法(fǎ)》,電氣(qì)用塑料(liào)薄膜要(yào)求進行電弱(ruò)點(diǎn)測試(shì),在(zài)給
定(dìng)直流電壓下每平方(fāng)米(mǐ)的擊(jī)穿(chuān)點(diǎn)(電(diàn)弱(ruò)點)數成(chéng)為衡(héng)量(liáng)薄膜(mó)質量(liáng)的(dí)重(zhòng)
要指(zhǐ)標。設計(jì)的薄膜電弱(ruò)點測試(shì)儀(yí),無(wú)須將(jiāng)膜(mó)卷分切成小(xiǎo)卷(juàn),根據(jù)薄(báo)
膜的使(shǐ)用寬(kuān)度(dù)直(zhí)接(jiē)進(jìn)行電(diàn)弱點(diǎn)測試。由(yóu)於(yú)薄(báo)膜在生產過程中極易引(yǐn)起
縱向(xiàng)劃(huá)傷(shāng),該(gāi)儀器(qì)*引用“電(diàn)弱(ruò)綫(xiàn)”概念(niàn),即在規定的時(shí)間內檢測
到(dào)的試樣漏電流均超過 1 mA 時,認定為該薄(báo)膜(mó)試樣(yàng)在生產(chǎn)過程(chéng)中(zhōng)存
在(zài)縱向劃痕,從(cóng)而(ér)產生(shēng)“電弱綫”,測(cè)試儀統(tǒng)計(jì)的(dí)電弱點總數為(wéi)電(diàn)弱
點數與電弱綫(xiàn)數之和,這(zhè)樣的測試數據能真實(shí)地反映薄(báo)膜的(dí)質(zhì)量(liáng)水(shuǐ)
平(píng),且有助於分(fēn)析(xī)生產過程(chéng)中(zhōng)存(cún)在的問(wèn)題(tí),從而有(yǒu)針對(duì)地提出(chū)解(jiě)決問(wèn)
題的方(fāng)案(àn)。
工作原理:
被測(cè)試(shì)的薄(báo)膜卷(juàn)置於(yú)放(fàng)卷臂上,通過絕緣導(dǎo)向(xiàng)輥將被(bèi)測試的(dí)薄膜(mó)牽
引(yǐn)至(zhì)收(shōu)卷臂上,伺服(fú)電(diàn)機驅動收(shōu)卷臂使被(bèi)測(cè)試的(dí)薄膜移動,構(gòu)成走膜
裝置。通過固(gù)定在速(sù)度(dù)檢測(cè)輥的增(zēng)量光(guāng)電(diàn)編碼(mǎ)器檢測薄膜(mó)移(yí)動長(cháng)度(dù),
根(gēn)據被(bèi)測(cè)試(shì)薄膜的(dí)寬(kuān)度(dù)設定(dìng)測試(shì)寬(kuān)度(dù),從而算出被測(cè)試(shì)的薄(báo)膜(mó)測(cè)試麵(miàn)
積。
測(cè)試(shì)的直流電(diàn)壓(yā)正極接(jiē)在(zài)導電(diàn)橡(xiàng)膠(jiāo)安裝(zhuāng)軸上,通(tōng)過導(dǎo)電橡膠與(yǔ)移(yí)動
的(dí)薄(báo)膜一麵(miàn)接觸(chù),形成(chéng)上(shàng)電極(jí)。移(yí)動的薄膜另(lìng)一麵(miàn)與構成下電(diàn)極的銅(tóng)
輥接觸,銅輥(gǔn)通過(guò)漏電(diàn)流采樣(yàng)電(diàn)阻與直(zhí)流電壓負極(jí)連接,導(dǎo)電橡膠與
銅輥構(gòu)成加(jiā)壓裝置(zhì)。
由走膜(mó)裝(zhuāng)置(zhì),絕緣(yuán)導(dǎo)向(xiàng)輥(gǔn),速(sù)度(dù)檢測輥等(děng)構成(chéng)被測試薄(báo)膜(mó)的(dí)麵積檢
測(cè)係(xì)統;由加(jiā)壓裝置(zhì),漏(lòu)電流(liú)采(cǎi)樣電阻等構成被測(cè)試(shì)薄膜(mó)的(dí)電弱(ruò)點(diǎn)檢
測(cè)係統(tǒng)。
測試儀結構:
薄膜電弱點測試(shì)儀外(wài)形(xíng)為櫃狀(zhuàng)一(yī)體(tǐ)化(huà)設計,左(zuǒ)側(cè)為走膜(mó)及加壓裝
置,右(yòu)側為(wéi)控製(zhì)係(xì)統及操作(zuò)麵板。


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