高溫(wēn)四探針測(cè)試儀(yí)

  高溫(wēn)四(sì)探針測試儀(yí)器采(cǎi)用(yòng)四探針雙(shuāng)電(diàn)測量方(fāng)法，適(shì)用於(yú)生產企(qǐ)業，高等(děng)院校(xiào)，科(kē)研(yán)部門，是(shì)檢(jiǎn)驗和分析導體(tǐ)材(cái)料和半導(dǎo)體材(cái)料(liào)在(zài)高溫(wēn)，真空(kōng)及氣氛條(tiáo)件下測量的一(yī)種(zhǒng)重(zhòng)要(yào)的工具。本儀(yí)器配置(zhì)各(gè)類測(cè)量(liáng)裝置(zhì)可(kě)以測試不(bù)同(tóng)材料(liào)。液(yè)晶顯示(shì)，無需人工(gōng)計算，並帶(dài)有(yǒu)溫度補償功能。采(cǎi)用(yòng)AD芯(xīn)片(piàn)控製(zhì)，恒流輸出(chū)，結構合(hé)理(lǐ)，質量(liáng)輕便(biàn)，配備(bèi)10英(yīng)寸觸摸屏(píng)，軟件(jiàn)可(kě)保(bǎo)存和(hé)打印數(shù)據(jù)，自動生(shēng)成報(bào)表；本儀器(qì)可顯示電(diàn)阻，電(diàn)阻率，方阻(zǔ)，溫度，單(dān)位換算，溫(wēn)度(dù)係數(shù)，電流，電(diàn)壓(yā)，探(tàn)針(zhēn)形狀(zhuàng)，探(tàn)針間距，厚度，電(diàn)導率，配置不同的測試治具(jù)可以滿(mǎn)足(zú)不同(tóng)材料(liào)的(dí)測試(shì)要(yào)求。測(cè)試治(zhì)具可以(yǐ)根據(jù)產(chǎn)品(pǐn)及(jí)測試項目要(yào)求(qiú)選(xuǎn)購(gòu)。

  雙電(diàn)測(cè)數字式四探針(zhēn)測(cè)試(shì)儀(yí)是運(yùn)用直(zhí)綫或方(fāng)形四探針雙位(wèi)測(cè)量。該儀器(qì)設計符合單晶矽物理測(cè)試方法(fǎ)標準(zhǔn)並參考美(měi)國(guó)A.S.T.M標(biāo)準。利用電流(liú)探針(zhēn)，電壓探針(zhēn)的(dí)變換(huàn)，進行(háng)兩次電(diàn)測(cè)量，對數據進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣(yàng)品(pǐn)幾何(hé)尺寸(cùn)，邊界效(xiào)應(yīng)以及探針不等距和機械(xiè)遊移等因素對測量(liáng)結果(guǒ)的影響，它(tā)與單電測直綫或方形四(sì)探針(zhēn)相比，大(dà)大提，也(yě)可應用於產品檢測以及新材(cái)料電學研(yán)究等用(yòng)途(tú)。

  係(xì)統搭(dā)配Labview係(xì)統(tǒng)開發的hcpro軟(ruǎn)件(jiàn)，具備(bèi)彈性(xìng)的自定義功能(néng)，可進行(háng)電壓，電流，溫度(dù)，時(shí)間(jiān)等(děng)設置，符(fú)合導體，半導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料(liào)與(yǔ)其(qí)它新(xīn)材料測(cè)試多(duō)樣(yàng)化的(dí)需求。