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當前(qián)位(wèi)置:首(shǒu)頁(yè) > 技術(shù)文章 > 電(diàn)壓擊穿試(shì)驗儀(yí)不得(dé)不了(liǎo)解的(dí)幾(jī)個(gè)問(wèn)題做一個(gè)產(chǎn)品不難(nán),難(nán)在做精一(yī)個產(chǎn)品,生產電試驗儀的產(chǎn)品的廠(chǎng)家(jiā)不在少數,各有千(qiān)秋。PLC控製(zhì)的,ARM控製的(dí),手(shǒu)動控製(zhì)的等。對於(yú)電壓擊穿(chuān)試(shì)驗儀的(dí)選擇不(bù)得不了(liǎo)解的(dí)以(yǐ)下幾個問題?
一, 電(diàn)壓擊(jī)穿試(shì)驗(yàn)儀在電(diàn)磁幹擾(rǎo)下(xià)如(rú)何(hé)保證(zhèng)長期(qī)穩定的工作;目(mù)前的(dí)電子元器件在長期的電磁(cí)幹擾情(qíng)況(kuàng)下,其必然(rán)受到影(yǐng)響。如(rú)何(hé)處(chǔ)理;
二,無(wú)論是PLC還是電(diàn)路板(bǎn)控製(zhì),又(yòu)將如(rú)何處(chǔ)理其輸(shū)入控製高壓的(dí)之間(jiān)的保護;因(yīn)電(diàn)路(lù)板或PLC晶體管輸(shū)入(rù)都大約(yuē)在(zài)24V以下(xià)工(gōng)作。雖(suī)然說(shuō)有(yǒu)光(guāng)耦等(děng)其(qí)保護,但(dàn)其高(gāo)壓(yā)反(fǎn)饋(kuì)及高壓電磁幹擾下(xià),顯(xiǎn)得及其(qí)力不(bù)從(cóng)心;
三,如(rú)何(hé)又保證,高壓放電等(děng)情況下的通訊正常(cháng)及(jí)其(qí)保護(hù);
四,電(diàn)網電源的雜波(bō)幹擾(rǎo)及電網汙染(rǎn)的情況下(xià),電子控製係(xì)統(tǒng)的(dí)穩(wěn)定性可(kě)想而(ér)知;在一種控(kòng)製係統在供電(diàn)不(bù)穩(wěn)的(dí)情況下(xià),又(yòu)將如何(hé)工(gōng)作
五,材料(liào)擊(jī)穿瞬(shùn)間的(dí)放電過(guò)程,同時(shí)夾雜著(zhuó)幹擾(rǎo)勢必(bì)影(yǐng)響采集(jí)電(diàn)穿的過(guò)程(chéng),又(yòu)將如何(hé)保證(zhèng)擊穿瞬間電壓的真值(zhí)。
六,,無(wú)論(lùn)是失壓,門等(děng)一係(xì)的保護下(xià)。在控製(zhì)單(dān)元萬一失效(xiào)的(dí)情況下(xià),又(yòu)將如何保(bǎo)證(zhèng)。
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