測(cè)試電(diàn)路法可分恒電(diàn)壓(yā)和恒(héng)電流兩(liǎng)種測(cè)量(liáng)電路。恒電(diàn)壓(yā)測(cè)量電路如(rú)圖(tú)4.5-33所示(shì)。圖(tú)中(zhōng)分(fēn)壓(yā)電(diàn)阻R_i的阻值與信號發(fā)生(shēng)器(qì)的輸出阻抗相(xiāng)匹(pǐ)配。一(yī)般(bān)取(qǔ)R_T1=R_T2，終端電(diàn)阻(zǔ)R_T2的取值應與(yǔ)試樣(yàng)的動(dòng)態電阻(zǔ)R₁相應(yīng)，參(cān)考值(zhí)為5.1Ω。A-B間的(dí)分(fēn)布電(diàn)容C_AB遠(yuǎn)低於試(shì)樣的自(zì)由電容C^T，分布電容(róng)C_T1，C_T2的電抗(kàng)應滿足：1/ωC_T1>R_T1, 1/ωC_T2>R_T2。

      恒(héng)流源傳輸測試綫(xiàn)路(lù)如圖4.5-34所(suǒ)示(shì)。圖中匹配電(diàn)阻(zǔ)R_T3阻值與信號(hào)發生器的(dí)輸出(chū)阻抗相(xiāng)匹配，限(xiàn)流(liú)電阻R_T4的(dí)取值(zhí)應(yīng)遠(yuǎn)大於試(shì)樣(yàng)的動態(tài)電阻R₁，參考值為1kΩ。A-B間(jiān)的分(fēn)布(bù)電(diàn)容C_AB遠低於(yú)試樣(yàng)的(dí)自(zì)由(yóu)電容 C^T 。

圖(tú)4.5-33恒壓(yā)源(yuán)傳輸(shū)測試綫路 ~ -信號發生(shēng)器；-I  I-一(yī)試(shì)樣(yàng)；f一數(shù)字頻率計(jì)；V一(yī)高頻電壓表；R_i一(yī)分(fēn)壓電阻；R_TI一(yī)分壓電(diàn)阻；R_T2一(yī)終端電阻；C_TI，C_T2一分布電容(róng)   

圖4.5-34恒(héng)流(liú)源(yuán)傳輸(shū)測(cè)試(shì)綫路(lù) ~ -信號發生器(qì)；f一數(shù)字(zì)頻率(shuài)計(jì)；V一高頻電壓(yā)表(biǎo)；-I  I-一試樣；R_T3一匹配電(diàn)阻；R_T4-限流電阻(zǔ)

      要求(qiú)信(xìn)號(hào)發生器的頻率瞬時(shí)穩(wěn)定度(dù)高(gāo)於(yú)待(dài)測頻率(shuài)的準(zhǔn)確(què)度(dù)，輸(shū)出波形為正(zhèng)弦波(bō)。諧波(bō)失真抑製大於(yú)30dB。頻率計的測試(shì)誤(wù)差小於士(shì)1Hz，輸入阻抗遠大(dà)於(yú)信號發(fā)生器輸(shū)出(chū)阻抗，且(qiě)不影響信(xìn)號(hào)發(fā)生器輸出(chū)電(diàn)平(píng)。

      電(diàn)壓表的(dí)輸(shū)入(rù)阻抗大於1MΩ，輸(shū)入電(diàn)容不大(dà)於40pF，頻率(shuài)範圍高於待測頻率(shuài)，靈(líng)敏度高。

      屏(píng)蔽盒與(yǔ)各儀表(biǎo)連接用短屏蔽綫(xiàn)，屏(píng)蔽(bì)盒(hé)應妥(tuǒ)善接地(dì)，接插件采(cǎi)用通用(yòng)高頻插(chā)頭。試樣支架夾持力要小(xiǎo)，並保證夾具與試樣電(diàn)極麵(miàn)接觸(chù)良好，接觸點的(dí)直徑(jìng)為(wéi)φ0.3~1mm，夾持點要(yào)求(qiú)夾在試樣電(diàn)極麵(miàn)上(shàng)接(jiē)近圓邊(biān)外(wài)，如(rú)φ20×2 mm推薦(jiàn)試樣夾持點距圓邊2mm左右。支(zhī)架應絕緣(yuán)良好(hǎo)。

       試樣支(zhī)架(jià)示意圖見(jiàn)圖4.5-35。試(shì)樣徑向固定，有利於厚度(dù)方(fāng)向(xiàng)伸縮振動自由。用彈性銅電極接觸試(shì)樣電極麵上(shàng)接(jiē)近

圖4.5-35標準推薦的試樣(yàng)支架(jià)示意圖1一圓形膠木支架框；2一試(shì)樣(yàng)徑向(xiàng)固(gù)定的夾緊螺栓；3一(yī)銅(tóng)彈(dàn)簧電極，3與(yǔ)5相(xiāng)連(lián)；4一膠木(mù)支架(jià)座；5-接(jiē)入測(cè)試綫(xiàn)路(lù)的(dí)支(zhī)架插頭；6一被測(cè)試(shì)樣，電極(jí)麵(miàn)與3接觸圓邊(biān)處，壓力小(xiǎo)且(qiě)接觸(chù)良好。

      試樣為(wéi)薄圓片，兩主平麵不(bù)平行度(dù)不大於(yú)厚度公差(chà)的一(yī)半(bàn)，在兩(liǎng)主(zhǔ)平(píng)麵上全部被覆金(jīn)屬層作(zuò)為(wéi)電(diàn)極(jí)，沿厚度方向進(jìn)行(háng)極(jí)化處理(lǐ)。試(shì)樣(yàng)直徑(jìng)d與厚(hòu)度(dù)t之比(bǐ)應(yīng)滿足單純(chún)厚度振(zhèn)動模式(shì)的(dí)要(yào)求，根據不(bù)同瓷(cí)料(liào)，選擇(zé)一定(dìng)的(dí)試樣尺寸比，直(zhí)徑(jìng)d和(hé)厚度t之(zhī)比(bǐ)d/t為(wéi)6~12。推薦(jiàn)試(shì)樣尺寸為(wéi)φ20mm×2mm。

      測(cè)試(shì)前試(shì)樣(yàng)應保持清(qīng)潔幹燥(zào)，根據(jù)不(bù)同瓷料(liào)要求，極(jí)化(huà)後存(cún)放(fàng)一(yī)定時間(jiān)，並(bìng)在規定(dìng)的(dí)環(huán)境下(xià)放(fàng)置二小(xiǎo)時後進(jìn)行(háng)測試(shì)。

      正常試驗(yàn)環境(jìng)為大氣條件(jiàn)，溫度為(wéi)20~30℃，相對濕度45%~75%，氣(qì)壓86~106kPa。仲裁試驗環境(jìng)為(wéi)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件，溫(wēn)度(dù)25士1℃，相對濕度(dù)48%~52%，氣壓86~106kPa。

       試樣兩端測(cè)試電場(cháng)E的要求(qiú)為(wéi)：①測電容E≤5V/mm；②測試頻(pín)率(shuài)及(jí)動態電阻E≤30mV/mm。