高溫鐵電(diàn)測試(shì)儀的係統優(yōu)勢(shì)及(jí)應(yīng)用領域(yù)一覽
更新(xīn)時(shí)間:2021-03-19 點擊次(cì)數(shù):2011
高(gāo)溫鐵電測試儀可(kě)以測量(liáng)鐵(tiě)電材(cái)料(liào)的電(diàn)滯(zhì)回綫,飽(bǎo)和(hé)極化Ps,剩餘極化Pr,矯(jiǎo)頑場Ec,漏電流(liú),疲(pí)勞,保(bǎo)持,I-V和開關特(tè)性(xìng)等(děng)的(dí)測試,。目前該係統測量(liáng)溫度(dù)800°C,可配置(zhì)薄膜和(hé)塊(kuài)體測量夾具(jù),可(kě)廣泛(fàn)應用(yòng)於薄膜,厚膜和(hé)塊狀陶瓷,鐵(tiě)電器(qì)件(jiàn)及(jí)存儲(chǔ)器(qì)等領(lǐng)域的(dí)研究。
高溫(wēn)鐵電測試(shì)儀測試(shì)係統采用(yòng)虛(xū)地模式(shì)測(cè)量電路,與(yǔ)傳(chuán)統(tǒng)的(dí)Sawyer-Tower模式相比,此(cǐ)電(diàn)路取(qǔ)消了外接(jiē)電(diàn)容,可減(jiǎn)小(xiǎo)寄生元(yuán)件(jiàn)的影(yǐng)響。此電路的(dí)測(cè)試精(jīng)度僅(jǐn)取決於積分器積(jī)分電容的(dí)精度,減(jiǎn)少(shǎo)了(liǎo)對(duì)測試(shì)的影響環(huán)節(jié),比較(jiào)容易定標和,並且(qiě)能實現較(jiào)高的(dí)測量準確度,它(tā)不僅能(néng)畫(huà)出鐵電(diàn)薄膜的電滯回綫(xiàn),還(huán)可以(yǐ)定量(liáng)得到鐵電薄膜(mó)材料的飽(bǎo)和(hé)極化ps,剩餘(yú)極化Pr,矯頑場Ec,漏(lòu)電流Ik等參數,以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞,鐵(tiě)電保(bǎo)持的測試。。儀器采用一體化設(shè)計,實(shí)現測試結果全數(shù)字化,操作(zuò)簡單(dān)方便(biàn)。
高(gāo)溫鐵電測(cè)試儀應用領(lǐng)域
1.鐵(tiě)電(diàn)材料的(dí)電(diàn)滯(zhì)回綫(xiàn)(動(dòng)態與靜態(tài)),漏電(diàn)流等(děng)特性。
2.測(cè)量(liáng)記錄(lù)在(zài)薄膜(mó)樣品上施(shī)加(jiā)階(jiē)躍電(diàn)壓時(shí)的電流響(xiǎng)應。
3.超(chāo)晶格材(cái)料在方波(bō)脈(mài)衝(chōng)電壓激勵下的自(zì)漏電特(tè)性。