鐵(tiě)電參(cān)數(shù)測(cè)試功能

Dynamic Hysteresis 動態電滯回綫測試頻率

Static Hysterestic 靜態電滯(zhì)回綫測(cè)試；

PUND 脈衝測試(shì)；

Fatigue 疲(pí)勞(láo)測試；

Retention保持力；

Imprint印跡；

Leakage current漏(lòu)電(diàn)流測試；

Thermo Measurement 變溫(wēn)測試功能
。

壓(yā)電(diàn)參數測試功(gōng)能

可(kě)進行壓電陶(táo)瓷的(dí)準(zhǔn)靜(jìng)態(tài)d33等參數測試(shì)，也可(kě)通過高壓放大器與位(wèi)移傳感(gǎn)器(qì)（如激光幹(gān)涉儀）動態(tài)法測(cè)量壓電係(xì)數(shù)測(cè)量(liáng)
。

熱釋電(diàn)測試(shì)功能(néng)

主要(yào)用於(yú)薄膜及塊(kuài)體(tǐ)材(cái)料變溫的(dí)熱(rè)釋電測試
。采用電(diàn)流(liú)法進(jìn)行測(cè)量(liáng)材(cái)料的熱釋(shì)電電(diàn)流，熱(rè)釋電係數，剩(shèng)餘(yú)極化(huà)強度(dù)對溫度和時間的(dí)曲(qū)綫(xiàn)
。

薄膜材(cái)料(liào)變(biàn)溫範圍：-196℃到(dào)+600℃；

塊體材料(liào)變溫(wēn)範(fàn)圍(wéi)：室(shì)溫到(dào)200℃，室溫到(dào)600℃，室(shì)溫到(dào)800℃

介電溫譜(pǔ)測(cè)試(shì)功(gōng)能

用於分(fēn)析寬(kuān)頻，高低(dī)溫(wēn)環境條件(jiàn)下功(gōng)能(néng)材(cái)料的阻抗Z，電(diàn)抗(kàng)X，導納(nà)Y，電(diàn)導G，電(diàn)納(nà)B，電(diàn)感(gǎn)L，介電損耗D，因數Q等物理量，同時還可(kě)以分析(xī)被(bèi)測樣品(pǐn)隨溫度(dù)，頻率(shuài)，時間(jiān)，偏壓變化(huà)的(dí)曲綫
。也可(kě)進行壓電(diàn)陶瓷(cí)的居裏(lǐ)溫度測試
。

熱(rè)激發(fā)極化電流(liú)測(cè)試儀 TSDC

  用(yòng)於研究(jiū)材(cái)功(gōng)材(cái)料的一些(xiē)關鍵(jiàn)因(yīn)素，諸(zhū)如分(fēn)子弛豫(yù)，相轉變(biàn)，玻璃化溫度等等(děng)，通過(guò)TSDC技術也可以(yǐ)比(bǐ)較(jiào)直觀(guān)的(dí)研(yán)究材料的(dí)弛(chí)豫時間，活(huó)化(huà)能(néng)等(děng)相(xiāng)關的介(jiè)電特性(xìng)
。

絕(jué)緣(yuán)電阻測(cè)試功能(néng)

高精zhun度的電壓輸出(chū)與電(diàn)流(liú)測量，保障測試的，適用(yòng)於(yú)功能材(cái)料在高溫環境材料的數據的(dí)檢測
。例如：陶瓷(cí)材(cái)料(liào)，矽橡膠測(cè)試，PCB，雲母，四氟材料電阻測試(shì)，也(yě)可做為科研院所新材(cái)料的高(gāo)溫(wēn)絕(jué)緣電阻的測試
。

高溫四(sì)探針(zhēn)測(cè)試(shì)功能(néng)

符(fú)合(hé)功(gōng)能材料導體，半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料與其它(tā)新材料(liào)在(zài)高(gāo)溫環(huán)境(jìng)下測(cè)試多樣(yàng)化(huà)的需求
。雙電(diàn)測(cè)數(shù)字式(shì)四探針測(cè)試(shì)儀是(shì)運(yùn)用直(zhí)綫或(huò)方(fāng)形四(sì)探(tàn)針雙(shuāng)位(wèi)測量
。該(gāi)儀器設計(jì)符(fú)合(hé)單晶(jīng)矽(guī)物理測(cè)試(shì)方法(fǎ)標(biāo)準並參考美(měi)國A.S.T.M標準(zhǔn)
。也可(kě)應用(yòng)於(yú)產(chǎn)品檢測以及(jí)新材料電學研究等用(yòng)途
。

塞貝克(kè)係(xì)數/電阻測量係(xì)統

適用於(yú)半導體，陶瓷材料，金(jīn)屬(shǔ)材料等多(duō)種材(cái)料(liào)的多(duō)種(zhǒng)熱(rè)電分(fēn)析；可根(gēn)據(jù)用戶需求(qiú)配置薄膜測量(liáng)選件，低溫(wēn)選(xuǎn)件(jiàn)溫度範圍(wéi)-100℃到(dào)200℃，高(gāo)阻(zǔ)選件高(gāo)至10MΩ
。

電卡效應(yīng)測(cè)試功(gōng)能(néng)

還(huán)可以用於(yú)測(cè)試材料在寬溫度(dù)範(fàn)圍內的電卡
。

溫(wēn)度範圍：-50℃到(dào)200℃，熱流時間範(fàn)圍(wéi)：1s-1000s，大(dà)電壓可達(dá)10kV，

波(bō)形：用(yòng)戶(hù)自(zì)定(dìng)，脈衝(chōng)，三(sān)角波(bō)，正弦(xián)波(bō)，任意(yì)波(bō)形，預定義波形
。

用戶(hù)可(kě)根據不(bù)同的需要，選(xuǎn)擇不(bù)同的配(pèi)置
。