熱(rè)釋(shì)電(diàn)係(xì)數(shù)測(cè)試(shì)儀(yí)可以(yǐ)分(fēn)析被測樣(yàng)品(pǐn)熱釋電係(xì)數隨溫度，時間變化(huà)的曲綫，通過軟件將這(zhè)些(xiē)變化(huà)曲綫的溫(wēn)度譜，時間(jiān)譜等(děng)集(jí)成一體(tǐ)並(bìng)進(jìn)行分(fēn)析(xī)測量並可(kě)以直接得出(chū)樣(yàng)品(pǐn)的熱釋電圖譜(pǔ)。

對試(shì)樣(yàng)大(dà)小及形狀無特殊要求(qiú)，圓(yuán)片(piàn)，方(fāng)塊(kuài)，長(cháng)條，柱(zhù)形(xíng)等(děng)均可測量，可(kě)廣(guǎng)泛用(yòng)於(yú)鐵電，壓(yā)電材(cái)料（壓電陶(táo)瓷，高分子(zǐ)）以(yǐ)及相(xiāng)關器件(jiàn)的(dí)評價與測試(shì)。

       本(běn)試驗(yàn)儀器采(cǎi)用電(diàn)荷積分法(fǎ)測量壓電(diàn)陶(táo)瓷材料(liào)的(dí)熱釋過測量在電(diàn)容器(qì)上的積(jī)累(léi)的熱釋電(diàn)電(diàn)荷，測定剩餘極化隨(suí)溫(wēn)度的變(biàn)化(huà)情況。使(shǐ)用高(gāo)阻(zǔ)抗電壓(yā)采(cǎi)集模(mó)塊測(cè)得積(jī)分電(diàn)容兩端的(dí)電壓(yā)。采用溫(wēn)度傳感器(qì)測量(liáng)樣品溫度(dù)。通(tōng)過工業計算機數(shù)據處理，得出壓電(diàn)陶(táo)瓷材(cái)料的(dí)熱釋電。

技術(shù)參(cān)數

測量溫度(dù)：室(shì)溫(wēn)~200℃
；

控溫(wēn)精度(dù)：±0.5℃，測(cè)溫精(jīng)度(dù)：±0.5℃
；

升(shēng)溫斜率：1-5℃/min（可控）
；

降(jiàng)溫(wēn)斜率：1-5℃/min (可控）
；

積分(fēn)電(diàn)容(róng)：10uF:

電(diàn)壓(yā)靈敏(mǐn)度(dù)：0.1mV

電壓(yā)采(cǎi)集(jí)輸入阻抗：1×10¹²Ω

產品(pǐn)特(tè)點

采用*新的RAM嵌入式開發平(píng)台(tái)
；

可(kě)以進(jìn)行在綫升級(jí)，遠程(chéng)協助及故障診斷
；

集(jí)成10.1”電容觸(chù)摸寬屏(píng)顯(xiǎn)示(shì)，軟件(jiàn)操(cāo)作(zuò)流(liú)暢，體(tǐ)驗(yàn)感(gǎn)好
；

加溫裝置，測(cè)量夾具，顯(xiǎn)示(shì)及軟(ruǎn)件集成(chéng)於一體(tǐ)
；

測量精度會高(gāo)，儀器穩(wěn)定且易維護
；

可(kě)實(shí)現壓(yā)電陶(táo)瓷(cí)的(dí)居(jū)裏溫(wēn)度(dù)及熱釋(shì)電(diàn)係數測(cè)試
；

實(shí)現常(cháng)溫(wēn)，高(gāo)溫(wēn)，等(děng)多(duō)環境下測試。