寬頻介電(diàn)阻(zǔ)抗譜(pǔ)測試(shì)儀(yí)係統(tǒng)

係(xì)統(tǒng)功能(néng)：

寬(kuān)頻介電譜儀可(kě)以(yǐ)通過與寬(kuān)頻(pín)阻抗(kàng)的(dí)完mei結(jié)合(hé)達到(dào)極寬(kuān)的(dí)頻率(shuài)範圍（20HZ-120M）；能靈敏(mǐn)地(dì)測(cè)量(liáng)高(gāo)分(fēn)子(zǐ)材(cái)料(liào)介(jiè)電常數及損耗等(děng)參數(shù)；具有(yǒu)極(jí)寬的(dí)阻(zǔ)抗(kàng)分析範圍(wéi)（10mΩ~100TΩ）；可(kě)以測(cè)量各種(zhǒng)固(gù)體(tǐ)，薄膜材料。其研(yán)發的(dí)全(quán)自動在綫(xiàn)控製軟(ruǎn)件(jiàn)可以實時(shí)進行多達不同參數的測量與分析。

本(běn)儀器還(huán)可以(yǐ)進(jìn)行不(bù)同(tóng)溫(wēn)度(dù)範(fàn)圍(wéi)的(dí)測量，研(yán)發精確溫(wēn)度控製(zhì)係統，可(kě)以(yǐ)滿足(zú)不同電介(jiè)質(zhì)材(cái)料測(cè)量(liáng)時(shí)對溫(wēn)度(dù)範(fàn)圍和控溫(wēn)精度的(dí)不(bù)同要求(qiú)，配(pèi)合高(gāo)低溫(wēn)測試模塊(kuài)，用(yòng)於研(yán)究電介(jiè)質材料(liào)在(zài)高溫(wēn)條件下的介(jiè)電。

寬頻介電阻(zǔ)抗譜儀(yí)不僅(jǐn)是實(shí)驗室(shì)開(kāi)發和研(yán)究(jiū)新(xīn)材料的(dí)重要測量(liáng)手段，也是(shì)生(shēng)產質(zhì)量(liáng)控(kòng)製和優化(huà)生產工藝(yì)的強有力的(dí)工具。寬頻(pín)介電阻抗(kàng)譜儀廣(guǎng)泛應用於(yú)化(huà)學，物理化(huà)學(xué)，電(diàn)化學，電子，電工工(gōng)程，材料科(kē)學(xué)，生物學和製藥(yào)等(děng)領域，特(tè)別是聚(jù)合物(wù)，樹脂(zhī)，陶(táo)瓷(cí)，橡膠，玻璃(lí)，液晶(jīng)，石油及懸浮(fú)體等材(cái)料(liào)的研(yán)究。

設(shè)備(bèi)單元框(kuàng)圖(tú)

寬頻介電阻(zǔ)抗譜(pǔ)儀測試係統(tǒng)硬件主(zhǔ)要(yào)包(bāo)括(kuò)阻抗(kàng)分(fēn)析儀，高阻(zǔ)計(jì)，高壓(yā)放大器，溫(wēn)控模(mó)塊，高(gāo)低(dī)溫測試環境（測試夾具），工控電(diàn)腦，供(gōng)電(diàn)及(jí)測試綫(xiàn)纜構成。

設備測試功能框圖

寬頻(pín)介電(diàn)譜儀可(kě)實(shí)現(xiàn)常(cháng)溫(wēn)環(huán)境下(xià)的介(jiè)電(diàn)常數及(jí)損耗(hào)測(cè)量，高低(dī)溫(wēn)環境(jìng)下的介電(diàn)溫譜(pǔ)及介(jiè)電頻譜測(cè)量(liáng)，也可以(yǐ)進行不(bù)同溫度下(xià)超(chāo)高(gāo)阻測量(liáng)以(yǐ)及(jí)TSDC熱(rè)激(jī)勵(lì)電流測(cè)量功(gōng)能。