體積表麵電阻率測(cè)試儀采用，低溫漂係(xì)數極低(dī)的(dí)電阻，肖特(tè)基高壓(yā)溫(wēn)壓二極管(guǎn)及(jí)高(gāo)標(biāo)準GB/T1410-2006《固體絕(jué)緣材料體積電阻(zǔ)率(shuài)和表麵電阻率試(shì)驗(yàn)方(fāng)法》和(hé)美準ASTMD257《絕(jué)緣(yuán)材料(liào)的(dí)直流(liú)電阻(zǔ)或(huò)電導試驗方法(fǎ)》等標(biāo)準的(dí)要(yào)求(qiú)(一般儀器(qì)在測(cè)高電阻時，因(yīn)精度(dù)不夠(gòu)，在測試(shì)試(shì)品(pǐn)達到(dào)10的10次(cì)方(fāng)以(yǐ)上時(shí)，誤差(chà)較(jiào)大，對於高阻值的(dí)材(cái)料時(shí)，顯(xiǎn)然(rán)達不到(dào)規(guī)定的(dí)技術要(yào)求)。

體(tǐ)積表麵電阻率測試儀既可測量高電阻，又可測(cè)微電(diàn)流(liú)。。測(cè)量(liáng)精(jīng)度(dù)達到3‰。同時儀器體積小，重量(liáng)輕(qīng)，本儀(yí)器具(jù)有(yǒu)精(jīng)度(dù)高，顯(xiǎn)示(shì)迅速(sù)，性好穩定，讀數方(fāng)便(biàn)等優點(diǎn)。

那(nà)麼下(xià)麵(miàn)我們(mén)來了解(jiě)一下體(tǐ)積表麵電阻(zǔ)率(shuài)測(cè)試儀(yí)的工作(zuò)原理是什麼(mó)吧。

根(gēn)據歐姆定(dìng)律，被測電(diàn)阻Rx等於施加(jiā)電(diàn)壓(yā)V除以(yǐ)通過的電(diàn)流I。傳統的(dí)高(gāo)阻(zǔ)計的(dí)工(gōng)作原(yuán)理(lǐ)是測(cè)量(liáng)電壓(yā)V固定，通(tōng)過(guò)測量流過取(qǔ)樣(yàng)電阻(zǔ)的(dí)電流(liú)I來得到電(diàn)阻(zǔ)值。

從歐姆(mǔ)定律(lǜ)可以(yǐ)看(kàn)出，由於電流(liú)I是(shì)與電阻成反比，而不(bù)是成(chéng)正比(bǐ)，所(suǒ)以(yǐ)電阻的顯示值是(shì)非綫性的，即電(diàn)阻無窮(qióng)大時，電流(liú)為零，即(jí)表頭的零位(wèi)處是∞，其附近(jìn)的(dí)刻(kè)度非常密(mì)，分(fēn)辨率很(hěn)低(dī)。整個刻度(dù)是非綫(xiàn)性的(dí)。又(yòu)由(yóu)於(yú)測量(liáng)不同(tóng)的(dí)電(diàn)阻時，其電壓V也(yě)會有些變化，所以(yǐ)普(pǔ)通(tōng)的高阻計是精度差，分(fēn)辨率低(dī)。

是(shì)同(tóng)時(shí)測出電阻兩端(duān)的(dí)電壓V和流(liú)過(guò)電阻的(dí)電(diàn)流I，通過內(nèi)部(bù)的(dí)大規模集成電(diàn)路完(wán)成電壓(yā)除以電流(liú)的(dí)計算，然(rán)後把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉換後以數字(zì)顯示出電阻值，即便是(shì)電(diàn)阻(zǔ)兩端的(dí)電(diàn)壓(yā)V和(hé)流(liú)過電阻的(dí)電(diàn)流(liú)I是(shì)同時變(biàn)化(huà)，其(qí)顯(xiǎn)示的(dí)電阻值(zhí)不象普(pǔ)通高阻(zǔ)計那樣因(yīn)被測電壓V的變化或(huò)電(diàn)流(liú)I的變(biàn)而變(biàn)，所(suǒ)以(yǐ)，即(jí)使測量電壓，被測(cè)量電阻，電源(yuán)電壓(yā)等(děng)發生變(biàn)化對(duì)其結果(guǒ)影(yǐng)響(xiǎng)不大，其(qí)測量精度(dù)很高()，從理(lǐ)論上講(jiǎng)其(qí)誤(wù)差(chà)可(kě)以(yǐ)做(zuò)到零，而實際誤差可以(yǐ)做到(dào)千(qiān)分之幾(jī)或(huò)萬(wàn)分之幾(jī)。

可按用(yòng)戶(hù)要(yào)求訂(dìng)製非標產品(pǐn)

華(huá)測儀器(qì)--致力(lì)於(yú)材料電(diàn)學測(cè)試技(jì)術