產(chǎn)品簡介：

HCRD-300型電弱(ruò)點(diǎn)測(cè)試(shì)儀采用計算機(jī)控(kòng)製(zhì)，進而(ér)達到人機(jī)對話的方式(shì)，是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電(diàn)氣用塑料(liào)薄(báo)膜(mó) 第2部分：試驗方法及其(qí)第1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣用塑料(liào)薄(báo)膜(mó)試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試(shì)驗裝置(zhì)。主(zhǔ)要用於電(diàn)容(róng)器(qì)用(yòng)聚脂薄(báo)膜，聚丙(bǐng)稀(xī)薄膜的(dí)電弱點測(cè)試(shì)。

產品用(yòng)途：

據(jù)標準《GB/T 13541-92電氣(qì)用塑(sù)料(liào)薄膜(mó)試(shì)驗方(fāng)法(fǎ)》，電氣用塑(sù)料薄膜要求(qiú)進行電(diàn)弱點測(cè)試，在給定(dìng)直流(liú)電壓(yā)下每平方(fāng)米的擊(jī)穿(chuān)點(diǎn)（電(diàn)弱(ruò)點）數(shù)成(chéng)為(wéi)衡(héng)量薄膜成量的(dí)重要(yào)指標。電氣(qì)用塑料薄膜電弱點測試(shì)儀，無(wú)須將(jiāng)膜卷分(fēn)切成小卷，根(gēn)據(jù)薄膜的(dí)使用寬度直接(jiē)進行電(diàn)弱(ruò)點測試(shì)。由於薄膜(mó)在生過程中極易引(yǐn)起(qǐ)縱(zòng)向(xiàng)劃(huá)傷(shāng)，該(gāi)儀(yí)器(qì)引(yǐn)用“電 弱綫"概念，即在(zài)規定(dìng)的(dí)時間(jiān)內(nèi)檢測到的(dí)試樣漏(lòu)電 流(liú)均超過(guò)1mA時，認(rèn)定為該薄膜(mó)試樣在(zài)生(shēng)產過 程(chéng)中存在(zài)縱向劃痕，從(cóng)而(ér)產生“電(diàn)弱(ruò)綫"，測(cè)試儀統(tǒng)計(jì)的電(diàn)弱點總數為電(diàn)弱(ruò)點(diǎn)數與(yǔ)電(diàn)弱綫數之和(hé)，這 樣(yàng)的(dí)測(cè)試(shì)數據(jù)史能真(zhēn)實地反(fǎn)映薄膜(mó)的質顯(xiǎn)水(shuǐ)平(píng)， 且有助(zhù)於(yú)分(fēn)析生產過程(chéng)中存在(zài)的(dí)問(wèn)題(tí)，從而(ér)有針對地提(tí)出解決問(wèn)題的方(fāng)案。

應用範(fàn)圍(wéi)：

華測生產的(dí)電(diàn)弱點(diǎn)測試儀(yí)經(jīng)過實踐(jiàn)驗證，穩定(dìng)可靠，目(mù)前廣(guǎng)泛應用於電氣絕(jué)緣材料的(dí)電弱點測試(shì)。

華(huá)測其他(tā)相關(guān)產(chǎn)品：