手動探(tàn)針(zhēn)台的主要(yào)用途是(shì)為半導體芯片的(dí)電參(cān)數(shù)測試提供(gōng)一(yī)個測試(shì)平台(tái)，探(tàn)針台可吸(xī)附多種規(guī)格(gé)芯片，並提(tí)供多(duō)個(gè)可(kě)調(tiáo)測(cè)試針以及探針(zhēn)座，配合測量儀器可完(wán)成(chéng)集(jí)成電路(lù)的(dí)電壓，電(diàn)流，電(diàn)阻以(yǐ)及電(diàn)容(róng)電壓特性曲綫等參(cān)數檢測
。適(shì)用(yòng)於對芯片(piàn)進行(háng)科(kē)研分析，抽查(chá)測(cè)試(shì)等(děng)用(yòng)途
。

   華(huá)測(cè)微型真(zhēn)空探針台(tái)是(shì)一(yī)款專(zhuān)門(mén)用於(yú)材(cái)料(liào)電學表(biǎo)征和測(cè)量(liáng)的(dí)微型桌麵(miàn)型(xíng)電學測(cè)量(liáng)台，主要用於介電(diàn)，壓電(diàn)，鐵電，熱釋電，光(guāng)電(diàn)等材料的電(diàn)學(xué)表(biǎo)征(zhēng)和測(cè)量，還(huán)可以(yǐ)在真空，氣(qì)氛環(huán)境(jìng)下對材(cái)料進行電學(xué)測量(liáng)評估，是實驗(yàn)室測量薄(báo)膜材料(liào)電學材料常用工具，廣泛(fàn)用於高校(xiào)，科(kē)研(yán)，航天航空院(yuàn)所(suǒ)等領(lǐng)域
。