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高(gāo)溫介(jiè)電溫譜測試硬(yìng)件(jiàn)係(xì)統及(jí)軟件(jiàn)係統(tǒng)
1,測試硬(yìng)件(jiàn)係統及(jí)軟件(jiàn)係(xì)統(tǒng)
A,測試(shì)硬(yìng)件(jiàn)係(xì)統包括寬(kuān)頻(pín)阻抗分析儀(yí),高阻計(jì),溫度(dù)控製模塊(kuài),高壓(yā)功率放(fàng)大器,高,低溫(wēn)控(kòng)製裝(zhuāng)置,測量夾具綫纜(lǎn),工業電(diàn)腦以(yǐ)及(jí)測(cè)試(shì)係(xì)統(tǒng)安放的移(yí)動工作台(tái)。
B,阻抗(kàng)分(fēn)析儀(yí):能夠測量(liáng)材(cái)料(liào)的(dí)電(diàn)容(róng)(C), 電感(gǎn)(L), 電阻(zǔ)(R), 電(diàn)導(G), 電納(B), 電抗(kàng)(X), 損耗(hào)因(yīn)數(D), 品(pǐn)質(zhì)因(yīn)數(shù)(Q), 阻(zǔ)抗(kàng)(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位(wèi)角(θ)
C,可(kě)編(biān)程直(zhí)流電(diàn)源:主要用於施加(jiā)在分(fēn)接開(kāi)關(guān)電壓(yā)發(fā)生部(bù)分。具有,高穩(wěn)定度(dù),低(dī)漂(piāo)移(yí)特(tè)點。
D,高阻(zǔ)計:主要(yào)用於測量材料的(dí)常(cháng)溫下(xià)絕緣(yuán)電阻(zǔ)及(jí)不同溫度下的阻值(zhí)
E,溫度控(kòng)製(zhì)單(dān)元:配(pèi)合(hé)高,低(dī)溫(wēn)環(huán)境(jìng)箱(xiāng)進(jìn)行(háng)實時溫(wēn)度(dù)測(cè)量與反(fǎn)饋(kuì)。
F,高(gāo)壓(yā)功(gōng)極(jí)化電源:主要(yào)為(wéi)壓電陶(táo)瓷(cí)極(jí)化提供(gōng)超(chāo)低紋波(bō)電壓。
G,高(gāo),低(dī)溫(wēn)試驗(yàn)箱(xiāng)(腔體):主要為(wéi)測試(shì)材料提(tí)供(gōng)高低(dī)溫測試環(huán)境裝(zhuāng)置;
H,測(cè)試夾(jiā)具:主要(yào)是(shì)樣(yàng)品(pǐn)要通(tōng)過(guò)測(cè)量電極(jí)(夾具)進行(háng)夾持(chí)樣品,進行(háng)測(cè)量(liáng);電極(jí)材料同(tóng)時要(yào)適(shì)應高(gāo)低(dī)溫環(huán)境;
I,係(xì)統軟件:提供(gōng)整個係(xì)統的集(jí)中(zhōng)控(kòng)製,作為用(yòng)戶操作(zuò)的一個(gè)用戶接(jiē)口,選擇不同的(dí)測(cè)試(shì)項(xiàng)目,軟(ruǎn)件會(huì)自(zì)動配(pèi)置測試環境,將(jiāng)各(gè)個(gè)測試(shì)儀(yí)器參(cān)數設置(zhì) 到當前需要(yào)測試的(dí)值,同時(shí)對采(cǎi)集數據進行(háng)提取,並對(duì)測量(liáng)的(dí)數(shù)據進(jìn)行(háng)收集,處理(lǐ),分析(xī),顯示(shì),並具有報(bào)告輸(shū)出功能。
1.2 測試(shì)係(xì)統主(zhǔ)要組(zǔ)件及(jí)規格:
組(zǔ)件(jiàn)名(míng)稱(chēng) | 主要規格 |
阻抗分析(xī)儀 | 20HZ-10M |
高阻(zǔ)計 | · 電阻(zǔ)測(cè)量可達(dá)10E16 Ω |
高溫(wēn)爐(lú) | 室溫~1200℃ |
高低溫(wēn)探針台 | -180℃-450℃ |



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