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儲能電介質充(chōng)放(fàng)電測試係(xì)統的(dí)產(chǎn)品(pǐn)特點是(shì)什麼(mó)?

更新時(shí)間:2024-03-08      點(diǎn)擊次(cì)數:1640

Huace-DCS10KV儲能電介(jiè)質(zhì)充放電(diàn)測試(shì)係(xì)統主(zhǔ)要用於研究介電儲能(néng)材(cái)料高電壓(yā)放(fàng)電(diàn)性(xìng)能。目(mù)前(qián)常(cháng)規(guī)的方(fāng)法是通過(guò)電滯回綫計(jì)算高壓下(xià)電介質的能量密度,測試時,樣品的(dí)電荷是(shì)放(fàng)回(huí)到高(gāo)壓源上(shàng),而(ér)不(bù)是釋(shì)放到負(fù)載(zǎi)上,通過(guò)電滯(zhì)回綫測得的儲(chǔ)能密度(dù)一(yī)般(bān)會大於(yú)樣品實(shí)際(jì)釋(shì)放的(dí)能量密度(dù),無法正確評估電介質(zhì)材料的正(zhèng)常放(fàng)電(diàn)性能(néng)。華測Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電(diàn)介(jiè)質充放電測試係統(tǒng)采用專門設(shè)計的(dí)電(diàn)容放電電路來測(cè)量,測(cè)試(shì)電(diàn)路如下圖所(suǒ)示(shì)。在(zài)該電路中(zhōng),首先(xiān)將介(jiè)電膜充(chōng)電(diàn)到(dào)給(gěi)定(dìng)電(diàn)壓,之後通(tōng)過(guò)閉合高(gāo)速(sù)MOS高(gāo)壓開關(guān),存儲在電容器膜(mó)中(zhōng)的(dí)能量被(bèi)放電到電(diàn)阻器負(fù)載的(dí)原理設(shè)計開(kāi)發(fā),更符合(hé)電介質(zhì)充(chōng)放電原(yuán)理。



儲(chǔ)能(néng)電(diàn)介質充放(fàng)電(diàn)測試係統(tǒng)主(zhǔ)要(yào)參數(shù):

1,電流探頭(tóu)帶(dài)寬:120MHz;

2,峰值電流(liú):0-100A150 A(多種電流可監測);

3,電流(liú)采集精度:1mA;

4,高壓(yā)源(yuán)模塊:3KV5KV10kV15KV多(duō)可(kě)選(電(diàn)流:0-5mA);

5,開關(guān)適用(yòng):100萬次(cì),耐壓(yā)15kV;

6,溫(wēn)控(kòng)範(fàn)圍:0-200℃;

7,溫(wēn)度穩(wěn)定(dìng)性(xìng)和精度:0.1℃;

8,測(cè)試樣品:薄(báo)膜(mó),厚(hòu)膜,陶(táo)瓷(cí),玻璃等(děng);

9,可(kě)以配(pèi)合各(gè)種極化設(shè)備進(jìn)行(háng)多種壓(yā)電(diàn)材料(liào)和介(jiè)電材(cái)料的(dí)測試。


儲(chǔ)能電介質充放電測(cè)試(shì)係統產(chǎn)品(pǐn)特點(diǎn)

1, 本(běn)係(xì)統采(cǎi)用(yòng)特(tè)殊高(gāo)壓開(kāi)關(guān),通(tōng)過單(dān)刀(dāo)雙擲控(kòng)製充(chōng)電和放電(diàn)過(guò)程,開關(guān)可以(yǐ)承(chéng)受(shòu)10kV高(gāo)壓(yā),寄(jì)生(shēng)電(diàn)容(róng)小,動(dòng)作(zuò)時間短;

2, 電壓10kV,電流5mA;

3, 可(kě)外接(jiē)高壓(yā)放(fàng)大(dà)器(qì)或高(gāo)壓直流電源;

4, 通(tōng)過電(diàn)流(liú)探頭檢測放(fàng)電電流,可達(dá)100A;

5, 可(kě)以實現(xiàn)欠(qiàn)阻尼和(hé)過阻(zǔ)尼兩(liǎng)種測試模式,欠阻(zǔ)尼測(cè)試時(shí),放電回路短(duǎn)路,不使用電阻(zǔ)負(fù)載,過阻尼(ní)測試時,使(shǐ)用較大的高(gāo)精度無(wú)感電(diàn)阻作(zuò)為放電(diàn)負(fù)載(zǎi);

6, 可以作為一個(gè)信(xìn)號源(yuán),產(chǎn)生任(rèn)意波(bō)形;

7, 通(tōng)過(guò)示波(bō)器(qì)采集數據,並(bìng)能(néng)直接計算儲(chǔ)能(néng)密度(dù);

8, 定(dìng)製載樣平(píng)台,可(kě)適(shì)用(yòng)於陶瓷(cí)和薄膜(mó)樣品測試(shì);

9, 可以進行變溫測試(shì),RT~200℃;

10, 可以(yǐ)進行(háng)疲(pí)勞測試(shì);

11, 還(huán)可用於極化(huà)材料(liào)之用。


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