高(gāo)溫介電溫譜測試係(xì)統擴(kuò)展(zhǎn)能(néng)力強(qiáng)可實現一機多(duō)用！

  高(gāo)溫(wēn)介電溫譜(pǔ)測(cè)試係統(tǒng)運用三(sān)電極(jí)法設計(jì)原(yuán)理(lǐ)測量(liáng)。並參考美國(guó) A.S.T.M標準。重復(fù)性(xìng)與穩(wěn)定(dìng)性(xìng)更(gēng)好
，采用雙屏蔽(bì)高頻測試綫(xiàn)纜(lǎn)
，提(tí)高(gāo)測(cè)試參(cān)數的精(jīng)確度(dù)
，同(tóng)時抗幹擾(rǎo)能力更(gēng)強。本(běn)設(shè)備也可應用於(yú)產(chǎn)品檢測(cè)以(yǐ)及(jí)新材料電(diàn)學性(xìng)能(néng)研究等(děng)用途。搭(dā)配Labview係(xì)統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟(ruǎn)件
，具備彈性(xìng)的自(zì)定義功能
，可進行(háng)介電溫(wēn)譜(pǔ)
，頻譜(pǔ)
，升溫(wēn)速(sù)度(dù)
，測量(liáng)參數(shù)等設(shè)置
，符合壓電陶(táo)瓷(cí)與其它(tā)新材料(liào)測試多(duō)樣(yàng)化的(dí)需(xū)求。過壓
，過(guò)電流
，超(chāo)溫等(děng)異(yì)常情(qíng)況(kuàng)下(xià)以(yǐ)保(bǎo)證(zhèng)測試(shì)過(guò)程(chéng)的(dí)安全；資料保存(cún)機製
，當遇到(dào)電腦異常瞬時斷電可將資料(liào)保存(cún)於控(kòng)製(zhì)器中(zhōng)
，不(bù)丟(diū)失試驗(yàn)數(shù)據
，設備(bèi)重新啟(qǐ)動後(hòu)可恢復(fù)原有試(shì)驗(yàn)數據。

   華測儀(yí)器通過(guò)多年研(yán)究(jiū)開發了(liǎo)一種可實現高精度
，高反(fǎn)射(shè)率(shuài)的(dí)拋物(wù)麵與高質量(liáng)的加熱源相配(pèi)置
，在高速加熱及(jí)高速(sù)冷卻(què)時
，具(jù)有(yǒu)良好的(dí)溫度分(fēn)布(bù)。 可實現寬域(yù)均熱(rè)區(qū)
，高速(sù)加(jiā)熱(rè)
，高(gāo)速冷卻
，用石英管保(bǎo)護加熱試(shì)樣(yàng)
，無氣氛(fēn)汙(wū)染。可在高真(zhēn)空
，高純度(dù)氣(qì)體(tǐ)中(zhōng)加(jiā)熱(rè) 。設(shè)備(bèi)可組成均熱(rè)高速(sù)加熱爐
，溫度斜(xié)率爐
，階(jiē)段(duàn)加(jiā)熱爐(lú)。它(tā)提(tí)高了(liǎo)加熱試驗能(néng)力(lì)。同電(diàn)阻爐和其他爐(lú)相比
，紅外綫反射爐(lú)節省(shěng)了升溫(wēn)時(shí)間(jiān)和(hé)保(bǎo)持時間及(jí)自(zì)然(rán)冷卻(què)到室溫所(suǒ)需時(shí)間
，再(zài)試驗(yàn)中也可改寫設定溫度(dù)值(zhí)。從(cóng)各方(fāng)麵(miàn)講(jiǎng)
，都(dū)節省(shěng)試(shì)驗(yàn)時間並(bìng)提(tí)高實(shí)驗(yàn)速(sù)度(dù)。同高頻爐相比(bǐ)
，不需特殊的(dí)安(ān)裝條件(jiàn)及對加熱試樣(yàng)的要求。同電阻爐(lú)一樣安(ān)裝(zhuāng)簡單(dān)
，有冷(lěng)卻係統(tǒng)安全(quán)可靠。以提(tí)高試驗人員的工(gōng)作效(xiào)率(shuài)
，實(shí)現(xiàn)全新的溫度控(kòng)製(zhì)操(cāo)作！