功能(néng)材料電學綜(zōng)合測(cè)試(shì)係統具(jù)有(yǒu)哪(nǎ)些(xiē)*的測試功能(néng)？

功(gōng)能材料電學綜合測試係統是(shì)一種用於(yú)全麵(miàn)評估(gū)功(gōng)能材(cái)料電學性能的設備(bèi)。它(tā)集成了多種(zhǒng)測(cè)試(shì)技術(shù)和方法，能夠實現對(duì)材料(liào)電(diàn)學性能的精確，快(kuài)速和全麵(miàn)檢測。

HC功能(néng)材料(liào)電(diàn)學綜(zōng)合(hé)測試(shì)係統(tǒng)可完(wán)成(chéng)功能材料(liào)鐵(tiě)電，壓(yā)電(diàn)，熱(rè)釋電，介電，絕緣(yuán)電阻(zǔ)等(děng)電學測試，以及高，低溫環境下(xià)的(dí)電學(xué)測試。與(yǔ)電(diàn)學檢(jiǎn)測儀(yí)器在(zài)通訊(xùn)協議，數據庫處理(lǐ)，軟件兼容性做了(liǎo)大量的接口。無(wú)論(lùn)在軟件(jiàn)與硬件方(fāng)麵，使(shǐ)本套(tào)儀器(qì)在未來(lái)較易(yì)於擴(kuò)展。較加(jiā)節省改造(zào)時(shí)間與(yǔ)硬(yìng)件成本。

*的測試功(gōng)能

鐵(tiě)電(diàn)參數測試(shì)功能

Dynamic Hysteresis 動態電滯回(huí)綫(xiàn)測試頻率;

Static Hysterestic 靜態電滯回(huí)綫測(cè)試(shì)
；

PUND 脈衝測試
；

Fatigue 疲(pí)勞測(cè)試(shì)
；

Retention保持力
；

Imprint印(yìn)跡
；

Leakage current漏(lòu)電(diàn)流(liú)測(cè)試
；

Thermo Measurement 變溫測試(shì)功(gōng)能

壓(yā)電(diàn)參(cān)數測試功能(néng)

可進行壓(yā)電陶(táo)瓷的(dí)準(zhǔn)靜態d33等參數(shù)測(cè)試，也(yě)可(kě)通(tōng)過高壓放(fàng)大器與位移傳感(gǎn)器（如(rú)激光(guāng)幹(gān)涉(shè)儀）動態法測量壓(yā)電係數測量(liáng)。

熱(rè)釋電測試(shì)功能

主(zhǔ)要(yào)用於薄(báo)膜(mó)及(jí)塊體材(cái)料(liào)變溫的(dí)熱(rè)釋電(diàn)性(xìng)能測(cè)試(shì)。采(cǎi)用電(diàn)流法進行測量(liáng)材料的熱(rè)釋電(diàn)電(diàn)流(liú)，熱釋電(diàn)係數(shù)，剩(shèng)餘極(jí)化強度對(duì)溫度和時間的(dí)曲綫(xiàn)。

薄膜材料變(biàn)溫範圍：-196℃到(dào)+600℃
；

塊體材(cái)料(liào)變溫(wēn)範圍(wéi)：室(shì)溫(wēn)到200℃，室(shì)溫(wēn)到600℃，室(shì)溫到800℃

介(jiè)電溫譜(pǔ)測試功能(néng)

用(yòng)於分(fēn)析寬(kuān)頻(pín)，高低(dī)溫環(huán)境(jìng)條件(jiàn)下功(gōng)能材料(liào)的阻抗(kàng)Z，電抗X，導納Y，電(diàn)導(dǎo)G，電納(nà)B，電(diàn)感L，介電損耗D，品質(zhì)因數Q等物理(lǐ)量，同(tóng)時(shí)還(huán)可(kě)以分析(xī)被(bèi)測樣(yàng)品(pǐn)隨(suí)溫度(dù)，頻率，時(shí)間，偏壓變化的(dí)曲(qū)綫(xiàn)。也可(kě)進(jìn)行(háng)壓電(diàn)陶瓷的居裏溫(wēn)度(dù)測試(shì)。

熱激(jī)發(fā)極化(huà)電(diàn)流測(cè)試(shì)儀(yí) TSDC

用於研究(jiū)材功(gōng)材料(liào)性能(néng)的(dí)一些關(guān)鍵(jiàn)因素(sù)，諸(zhū)如分(fēn)子(zǐ)弛豫，相轉(zhuǎn)變，玻璃(lí)化溫度等等，通(tōng)過TSDC技術(shù)也(yě)可(kě)以比(bǐ)較(jiào)直(zhí)觀(guān)的(dí)研究材料的(dí)弛(chí)豫時間，活化能(néng)等相(xiāng)關(guān)的介(jiè)電(diàn)特(tè)性。

絕緣(yuán)電阻測試(shì)功(gōng)能(néng)

高(gāo)精(jīng)zhun度(dù)的(dí)電壓(yā)輸出與電流測(cè)量(liáng)，保(bǎo)障(zhàng)測(cè)試的(dí)品質，適用於(yú)功能材料在高(gāo)溫環境(jìng)材(cái)料(liào)的(dí)數據的檢測(cè)。例如：陶瓷(cí)材(cái)料，矽(guī)橡膠測(cè)試(shì)，PCB，雲母(mǔ)，四氟(fú)材(cái)料電(diàn)阻測試(shì)，也(yě)可做為科研(yán)院(yuàn)所新材(cái)料(liào)的(dí)高(gāo)溫絕緣(yuán)電阻(zǔ)的(dí)性能(néng)測試。

高(gāo)溫四探針(zhēn)測(cè)試功(gōng)能

符合(hé)功(gōng)能材料導體，半(bàn)導體材料(liào)與其它新材(cái)料在高溫(wēn)環(huán)境下(xià)測試多樣化的(dí)需求。雙(shuāng)電測(cè)數字式四(sì)探針測試儀是(shì)運用(yòng)直綫或方形四探針雙(shuāng)位測量。該儀(yí)器(qì)設計符合單晶(jīng)矽(guī)物(wù)理測試(shì)方(fāng)法國家標(biāo)準並(bìng)參(cān)考美國(guó)A.S.T.M標準(zhǔn)。也可應用於(yú)產品檢測(cè)以(yǐ)及(jí)新(xīn)材料電學性能研(yán)究等用途。

塞貝克係數/電(diàn)阻測量係統(tǒng)

適用於(yú)半(bàn)導(dǎo)體，陶瓷材(cái)料(liào)，金屬(shǔ)材(cái)料等多(duō)種材(cái)料(liào)的(dí)多(duō)種(zhǒng)熱(rè)電性能分(fēn)析
；可(kě)根(gēn)據(jù)用(yòng)戶(hù)需求配(pèi)置(zhì)薄(báo)膜測(cè)量選(xuǎn)件(jiàn)，低溫(wēn)選件溫(wēn)度(dù)範圍(wéi)-100℃到200℃，高阻選件(jiàn)高(gāo)至10MΩ。

電卡效(xiào)應測(cè)試(shì)功能

還可以(yǐ)用於(yú)測(cè)試(shì)材料在(zài)寬溫度範(fàn)圍內(nèi)的(dí)電(diàn)卡性能(néng)。

溫(wēn)度(dù)範圍(wéi)：-50℃到(dào)200℃，熱流時(shí)間範圍：1s-1000s，

zui大(dà)電(diàn)壓可(kě)達10kV，

波(bō)形：用戶自(zì)定，脈(mài)衝，三角(jiǎo)波(bō)，正(zhèng)弦波，任意波(bō)形，預(yù)定義(yì)波(bō)形。