簡單了(liǎo)解功(gōng)能(néng)材料電學(xué)綜(zōng)合(hé)測試係(xì)統的測試模(mó)塊包含哪些？

測(cè)試(shì)模(mó)塊

1，鐵電參(cān)數測試功能

l Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯(zhì)回綫(xiàn)測(cè)試頻率
；

l Static Hysterestic 靜態電(diàn)滯回(huí)錢測試
；

l PUND 脈(mài)衝測(cè)試
；

l Fatigue 疲勞測(cè)試(shì)
；

l Retention 保持力;

l Imprint 印跡(jì)
；

l Leakage current 漏電(diàn)流測(cè)試;

l Thermo Measurement 變溫測試(shì)功(gōng)能。

2，絕(jué)緣(yuán)電阻測(cè)試功(gōng)能(néng)

高(gāo)精準度的電壓輸(shū)出與電(diàn)流測(cè)量，保障(zhàng)測試(shì)的(dí)品(pǐn)質(zhì)，適用於功能(néng)材料(liào)在高(gāo)溫(wēn)環(huán)境材料的數(shù)據 的檢(jiǎn)測(cè)。例如(rú)
： 陶瓷(cí)材(cái)料，矽橡膠(jiāo)測試(shì)，PCB，雲(yún) 母，四氟材(cái)料(liào)電阻測試，也可做(zuò)為科研院所新材(cái)料的(dí)高(gāo)溫絕緣(yuán)電阻的性(xìng)能測(cè)試(shì)。

3，壓(yā)電(diàn)參數測(cè)試功能

可進行壓電陶瓷(cí)的(dí)唯靜態d33等(děng)參數測試(shì)，也(yě)可(kě)通過高(gāo)壓(yā)放均由(yóu)位移(yí)傳感器（如勘怪 幹涉(shè)儀(yí)）動態(tài)法(fǎ)測量壓(yā)電係(xì)數(shù)測(cè)量(liáng)。

4，高溫(wēn)四探針(zhēn)測(cè)試功能

符合(hé)功(gōng)能(néng)材料導(dǎo)體，半導(dǎo)體(tǐ)材料與(yǔ)其(qí)他新材料在(zài)高溫環境下(xià)測(cè)試多樣化(huà)的需求(qiú)。雙電測數字式四探針(zhēn)測(cè)試儀是(shì)運(yùn)用直(zhí)綫或(huò)方(fāng)形(xíng)四(sì)探(tàn)針雙(shuāng)位測量(liáng)。該儀(yí)器(qì)設計符合(hé)單晶(jīng)矽(guī)物(wù)理測試方(fāng)法國(guó)家標(biāo)準並參(cān)考(kǎo)美國A.S.T.M標準．也可(kě)應(yīng)用於(yú)產品檢(jiǎn)測(cè)以及新材(cái)料電學性(xìng)能(néng)研(yán)究(jiū)等用途(tú)。

5，熱釋(shì)電(diàn)測試(shì)功(gōng)能

主(zhǔ)要用(yòng)於薄膜(mó)及塊(kuài)體材料變(biàn)溫的熱(rè)釋電性能(néng)測(cè)試(shì)。采(cǎi)用(yòng)電(diàn)流法進行測(cè)量(liáng)材料(liào)的(dí)熱(rè)釋電電(diàn)流(liú)，熱釋電係數，剩(shèng)餘(yú)極化強(qiáng)度對(duì)溫度和(hé)時間(jiān)的曲綫(xiàn)。薄膜材(cái)料變溫範圍
： － 196℃~＋ 600℃
；塊體(tǐ)材(cái)料(liào)變(biàn)溫範(fàn)圍
：室溫~200℃，室溫(wēn) ~600℃，室溫~800°C。

6，介電溫譜測(cè)試(shì)功能

用於分析寬(kuān)頻(pín)，高低溫環(huán)境條(tiáo)件下功(gōng)能材料 的(dí)阻(zǔ)抗(kàng)Z，電(diàn)抗X，導納Y，電(diàn)導(dǎo)G，電納(nà)B，電感(gǎn)L， 介(jiè)電損(sǔn)耗(hào)D，品(pǐn)質因(yīn)數Q等(děng)物(wù)理量，同(tóng)時還可(kě)以分(fēn) 析被測樣晶隨溫度，頻率，時間，偏壓變(biàn)化的(dí)曲 綫(xiàn)。也可進(jìn)行(háng)壓(yā)電(diàn)陶瓷的(dí)居(jū)裏(lǐ)溫度測(cè)試。

7，塞(sāi)貝(bèi)克(kè)係(xì)數(shù)／電阻測(cè)量係(xì)統(tǒng)

適用於(yú)半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)，陶瓷(cí)材料(liào)，金屬材(cái)料等(děng)多種 材料的多(duō)種熱(rè)電性(xìng)能分析
；可(kě)根據用戶需(xū)求(qiú)配(pèi) 置薄膜測量(liáng)選(xuǎn)件，低(dī)溫選件溫度範(fàn)圍(wéi)-100℃ ~200℃，高阻(zǔ)選件高(gāo)至(zhì)10MΩ。

8，電(diàn)卡效(xiào)應測(cè)試(shì)功能

可(kě)以用於測試(shì)材料，在(zài)寬(kuān)溫度範圍(wéi)內的(dí)電卡(qiǎ) 性(xìng)能(néng)。 溫(wēn)度範圍
：-50℃~200℃
； 熱流時(shí)間範(fàn)圍(wéi)
：1s-1000s
； 最大電壓可達(dá)10kV
； 波形
：用(yòng)戶自(zì)定，脈衝，三角波(bō)，正弦波，任(rèn)意波 形，預定義(yì)波形。

9，熱(rè)激發(fā)極化(huà)電流測試儀TSDC

用於研(yán)究功(gōng)能(néng)材(cái)料性(xìng)能(néng)的(dí)一些關鍵(jiàn)因素， 諸(zhū)如分子(zǐ)弛豫，相(xiāng)轉(zhuǎn)變，玻(bō)璃(lí)化(huà)溫度等等(děng)，通過(guò) TSDC技(jì)術(shù)也可以比較直觀(guān)的(dí)研(yán)究(jiū)材(cái)料的弛豫(yù) 時間，活(huó)化(huà)能(néng)等相關的(dí)介電(diàn)特性(xìng)。

華測(cè)功(gōng)能材(cái)料(liào)電學(xué)綜合測試係統可實(shí)現功能(néng)材(cái)料高低溫環(huán)境(jìng)下的鐵(tiě)電，壓(yā)電，熱(rè)釋電(diàn)， 介(jiè)電， 絕(jué)緣電(diàn)阻等(děng) 電(diàn)學(xué)測試。與(yǔ)國ji電學(xué)檢(jiǎn)測儀器在通訊協議(yì)，數據庫處(chǔ)理(lǐ)，軟件兼容(róng)性(xìng)做了大量(liáng)的適(shì)應(yīng)性(xìng)接口。無論(lùn)在軟(ruǎn)件與硬件(jiàn)方麵，使本(běn)套儀(yí)器(qì)在未來較(jiào)易於(yú)擴(kuò)展。節(jié)省改造時間(jiān)與硬件(jiàn)成本。

可擴展(zhǎn)的測試裝置