半導體材料電(diàn)阻率測試確保惡劣溫(wēn)度下汽(qì)車零部件(jiàn)的(dí)試(shì)驗是(shì)其性(xìng)能穩(wěn)定的關鍵(jiàn)
？

產品概(gài)述(shù)：

高(gāo)低(dī)溫(wēn)環(huán)境下(xià)的絕緣(yuán)電(diàn)阻測試(shì)技(jì)術用於預(yù)測EMC的(dí)HTRB性能(néng)。電(diàn)介(jiè)質樣品暴(bào)露(lòu)在(zài)高電(diàn)場強度(dù)和(hé)高溫(wēn)環(huán)境下(xià)。在這種情況下，高分子(zǐ)聚合(hé)物材(cái)料(liào)在高溫環境(jìng)下具有負(fù)阻(zǔ)性的特征(zhēng)，電阻（率）隨(suí)著(zhuó)溫度的(dí)上(shàng)升(shēng)而下降(jiàng)，HTRB性(xìng)能之間的相(xiāng)關性(xìng)表(biǎo)明，隨著(zhuó)溫度(dù)的上升(shēng)電阻率越下(xià)降嚴重(zhòng)，而(ér)HTRB性能(néng)越差，因(yīn)此(cǐ)，材料(liào)的電阻率是HTRB失效測量(liáng)的一(yī)個(gè)關鍵測(cè)量(liáng)手段(duàn)。關於環(huán)氧塑封料（EMC， Epoxy Molding Compound）高(gāo)低(dī)溫測試技(jì)術，已證(zhèng)明此(cǐ)測(cè)試方式(shì)是有(yǒu)效(xiào)的(dí)，同(tóng)時(shí)加(jiā)速國(guó)產化(huà)IGBT
，MOSFET等功率器件的研(yán)發(fā)。如(rú)無錫凱華
，中科科(kē)化
，飛凱材料(liào)等企業(yè)。

應用(yòng)場景(jǐng)：

電子元器件：在電子(zǐ)產品中，電容(róng)器
，電阻器(qì)
，半導體器件(jiàn)等需要(yào)在不(bù)同溫度(dù)下進(jìn)行試(shì)驗(yàn)，以(yǐ)評估其(qí)性(xìng)能(néng)和(hé)可(kě)靠性。例如(rú)，鋰電(diàn)池和(hé)太陽(yáng)能(néng)電(diàn)池在(zài)高低溫(wēn)環(huán)境下的(dí)表現直(zhí)接(jiē)影(yǐng)響(xiǎng)其應用(yòng)效果，因此需要(yào)進(jìn)行高低溫(wēn)試(shì)驗(yàn)
；新(xīn)能源(yuán)材料：對於新(xīn)能源材料(liào)如鋰電池(chí)和(hé)太(tài)陽(yáng)能(néng)電(diàn)池，高低溫(wēn)試驗(yàn)尤為重要。這些材(cái)料(liào)在(zài)惡劣溫度下的性能表(biǎo)現(xiàn)直(zhí)接(jiē)關(guān)係到其實際(jì)應(yīng)用(yòng)效(xiào)果(guǒ)和壽(shòu)命
；汽車零部(bù)件：汽車(chē)零部件需(xū)要(yào)在不同(tóng)的氣候條件(jiàn)下進(jìn)行(háng)試驗(yàn)，以評估(gū)其耐用(yòng)性和可靠(kào)性。車輛(liàng)在(zài)不(bù)同氣候條(tiáo)件下會

遇(yù)到各種惡劣(liè)溫(wēn)度，因此汽(qì)車(chē)零部(bù)件的高低(dī)溫試驗是確(què)保(bǎo)其(qí)性(xìng)能(néng)穩定(dìng)的(dí)關鍵
；半導體(tǐ)材料：半(bàn)導體(tǐ)材料的電阻(zǔ)率測試在(zài)高(gāo)低溫條(tiáo)件下(xià)進行，可以用於(yú)測量矽(guī)（Si）
，鍺(zhě)（Ge）
，砷(shēn)化(huà)镓（GaAs）
，銻(tī)化銦(yīn)（InSb）等材料的電阻率。這種測試方法廣泛應(yīng)用於(yú)半導(dǎo)體(tǐ)材料的研(yán)發和生產(chǎn)過程(chéng)中。

1
，消(xiāo)除(chú)電網(wǎng)諧波對采(cǎi)集(jí)精(jīng)度的影響

在超高阻
，弱信號測量過程中(zhōng)
，輸(shū)入(rù)偏置(zhì)電(diàn)流和泄(xiè)漏電(diàn)流都會(huì)引起測(cè)量誤差。同(tóng)時電網(wǎng)中(zhōng)大(dà)量使用(yòng)變(biàn)頻器等(děng)高(gāo)頻
，高功率設備(bèi)，將對(duì)電網造(zào)成諧(xié)波幹擾。以致(zhì)影響弱信(xìn)號(hào)的(dí)采集，華(huá)測儀器公司推出(chū)的抗幹(gān)擾(rǎo)模(mó)塊以及(jí)用最新測試分析(xī)技(jì)術(shù),實現(xiàn)了(liǎo)高(gāo)達(dá)1fA(10-15 A)的(dí)測量分(fēn)辨率(shuài),從而(ér)滿足了很多(duō)半(bàn)導體,功(gōng)能材料和(hé)納米器(qì)件的測試需求(qiú)。

2
，消除(chú)不(bù)規則(zé)輸入(rù)的(dí)自動(dòng)平均值(zhí)功(gōng)能,更(gēng)強數據處理(lǐ)及(jí)內部(bù)屏(píng)蔽

自動平均值(zhí)是檢(jiǎn)測電流(liú)的變化(huà)，並(bìng)自動(dòng)將其(qí)進(jìn)行(háng)平均化(huà)的(dí)功能， 在查看(kàn)測量結(jié)果(guǒ)的同時(shí)不需(xū)要(yào)改變設置(zhì)。通(tōng)過(guò)自(zì)動(dòng)排除充電電流的(dí)過(guò)渡響(xiǎng)應時或接(jiē)觸不(bù)穩(wěn)定導致(zhì)偏(piān)差(chà)較大(dà)。電流(liú)輸入端口全新采用(yòng)大口徑三(sān)軸(zhóu)連(lián)接器，是將內部屏蔽(bì)連接(jiē)至(zhì)GUARD(COM)綫(xiàn)，外(wài)部屏(píng)蔽連(lián)接至(zhì)GROUND的3層(céng)同軸設計(jì)。兼顧抗(kàng)幹(gān)擾的穩(wěn)定性和高(gāo)壓檢(jiǎn)查(chá)時(shí)的(dí)安(ān)全(quán)性。

3
，*的操作軟(ruǎn)件

測(cè)試(shì)係(xì)統的(dí)軟件平台(tái) Huacepro ，基於labview係(xì)統開(kāi)發，符(fú)合功能材料的(dí)各項測試(shì)需求(qiú)，具備(bèi)*的穩定性與操作安全(quán)性(xìng)，並具備(bèi)斷電資(zī)料的保(bǎo)存功(gōng)能(néng)，圖像(xiàng)資料也可保(bǎo)存恢復(fù)。支(zhī)持(chí)最(zuì)新的(dí)國際(jì)標準(zhǔn)，兼容XP
，win7
，win10係(xì)統。

產(chǎn)品參數(shù)：

設(shè)備(bèi)型號：SIR-450

溫(wēn)度(dù)範圍：-185 ~ 350 °C

控溫精(jīng)度(dù)：0.5 °C

升(shēng)溫(wēn)斜率：10°C/min（可設(shè)定(dìng)）

電阻：1×10¹⁶Ω

電(diàn)阻(zǔ)率：1×10³ Ω ~ 1×10¹⁶Ω

輸(shū)入電壓(yā)：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料(liào)：黃銅或銀(yín)

夾具輔(fǔ)助(zhù)材(cái)料(liào)：99氧化鋁陶瓷

絕緣(yuán)材(cái)料(liào)：99氧(yǎng)化鋁陶瓷(cí)

測試(shì)功能：高(gāo)低溫(wēn)電阻率(shuài)

數(shù)據傳(chuán)輸：RS-232

設備(bèi)尺寸(cùn)：180 x 210 x 50mm