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當(dāng)前(qián)位(wèi)置:首(shǒu)頁(yè) > 技術文(wén)章(zhāng) > 絕緣電阻劣化(huà)(離(lí)子(zǐ)遷移(yí))評估係統的(dí)應用領(lǐng)域?絕(jué)緣電(diàn)阻(zǔ)劣化(離(lí)子遷移)評(píng)估(gū)係(xì)統的(dí)應(yīng)用(yòng)領域?
產(chǎn)品介(jiè)紹:
離子(zǐ)遷移(yí)是(shì)指電路(lù)板(bǎn)上(shàng)的金屬(shǔ)如銅(tóng),銀,錫(xī)等(děng)在一(yī)定條(tiáo)件下(xià)發生離子化並在電場作(zuò)用(yòng)下(xià)通過(guò)絕(jué)緣層向另一極(jí)遷(qiān)移(yí)而(ér)導(dǎo)致(zhì)絕緣性能下(xià)降(jiàng)。絕緣電阻劣化(離(lí)子遷(qiān)移)評估係統是一(yī)種信賴性(xìng)試驗(yàn)設(shè)備。它通過在印(yìn)刷電路板(bǎn)上(shàng)施加(jiā)固定的(dí)直(zhí)流電(diàn)壓(yā),並經過長時(shí)間的測試(1~1000小時可按需定製(zhì)),觀(guān)察(chá)綫(xiàn)路是(shì)否有瞬間短(duǎn)路(lù)的(dí)現象(xiàng)發生,並記錄電(diàn)阻(zǔ)值的變(biàn)化狀況,從而評估(gū)絕緣材(cái)料(liào)的劣(liè)化(huà)程度(dù)和離(lí)子遷(qiān)移現象的影(yǐng)響(xiǎng)。
應(yīng)用(yòng)領域(yù):
封裝材料:助焊劑,印(yìn)刷電路板(bǎn),光刻(kè)膠(jiāo),釺(qiān)料,樹脂(zhī),導電(diàn)膠(jiāo)等(děng)有關(guān)印刷電路板,高(gāo)密度(dù)封(fēng)裝的材(cái)料(liào);
電子(zǐ)材料:印(yìn)BGA,CSP等精(jīng)細節距IC封(fēng)裝(zhuāng)件;
有(yǒu)機半導體(tǐ):PPV,NDI,OFETs,OSCs,OLEDs等(děng);
電(diàn)子(zǐ)元器(qì)件:電(diàn)容,連接器等其他電子元器件及材料;
絕緣材(cái)料:各種絕緣材料(liào)的(dí)吸(xī)濕性特性評(píng)估。


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