係統(tǒng)概(gài)述(shù)

電容器溫(wēn)度(dù)特性評估係統是將環境試(shì)驗箱與評估係統相結(jié)合，高(gāo)效采集(jí)數據(jù)的自動化(huà)多通道係(xì)統。係(xì)統(tǒng)自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫(wēn)/高濕環境下電容器的絕緣退(tuì)化(huà)特性。係統通過(guò)精(jīng)確(què)控製溫度環(huán)境(jìng)，並測量電容(róng)器(qì)在不(bù)同溫(wēn)度(dù)下的關(guān)鍵(jiàn)參數(shù)（如(rú)電(diàn)容(róng)量（C）
，損(sǔn)耗因子（D）和(hé)阻(zǔ)抗(kàng)（Z）等參數(shù)值），從而評估其溫(wēn)度(dù)特性(xìng)。該係統通(tōng)常(cháng)具(jù)有(yǒu)高(gāo)精(jīng)度(dù)
，高(gāo)穩定(dìng)性和(hé)高可靠(kào)性(xìng)的特(tè)點(diǎn)，能(néng)夠適用(yòng)於各種(zhǒng)類型(xíng)的電容器，包(bāo)括(kuò)多(duō)層陶(táo)瓷電容(róng)器（MLCC）
，陶瓷(cí)電容
，薄膜(mó)電容等。

應用領域

通(tōng)信與信(xìn)息技術：在通(tōng)信設(shè)備(bèi)和信(xìn)息(xī)技術產(chǎn)品(pǐn)中(zhōng)，電(diàn)容器也(yě)扮演(yǎn)著重要角色。多通(tōng)道(dào)電(diàn)容器溫(wēn)度特性(xìng)評估係統(tǒng)可以提(tí)供高(gāo)效的(dí)測(cè)試(shì)方案(àn)，確(què)保(bǎo)產(chǎn)品在各(gè)種(zhǒng)溫(wēn)度環境(jìng)下(xià)的穩定(dìng)性(xìng)和(hé)可(kě)靠性。

電子(zǐ)材料(liào)：印刷電(diàn)路板(bǎn)
，通(tōng)量
，絕緣材料（樹(shù)脂
，薄膜等）
，介電材料(liào)（鈦
，陶瓷(cí)
，鉭(tǎn)
，鋁(lǚ)電(diàn)解材料(liào)等(děng)）。

產(chǎn)品(pǐn)優(yōu)勢

1.最多(duō)64個(gè)通道的自動(dòng)測(cè)量(liáng)

可(kě)以(yǐ)測(cè)量不(bù)同(tóng)溫度(dù)環境下(xià)的(dí)電容量 (C)
，損耗(hào)因(yīn)子(D) 和阻抗(kàng) (Z) 的(dí)多通(tōng)道。可(kě)以(yǐ)選(xuǎn)擇(zé)8個通(tōng)道的倍(bèi)數(shù)，最(zuì)多64個通道(dào)。

2.圖形(xíng)功(gōng)能(néng)允許實時查看測(cè)量(liáng)結(jié)果

收集的數據(jù)，包括(kuò)不同(tóng)溫(wēn)度(dù)
，頻(pín)率(shuài)和(hé)時(shí)間下(xià)的(dí)電(diàn)特性值和變化率，可(kě)以通(tōng)過(guò)各(gè)種圖(tú)形函數進行實(shí)時(shí)審查(chá)。

3.可從(cóng)不(bù)同(tóng)測試(shì)模(mó)式(shì)選擇

溫度特性(xìng)評(píng)價(jià)試(shì)驗
，恒(héng)定運行試驗和頻(pín)率特性試(shì)驗(yàn)。測試可與(yǔ)溫度(dù)特性評價測試或(huò)恒定運行測試(shì)相(xiāng)合(hé)。

  》 溫度特性(xìng)評(píng)估(gū)測(cè)試

   在(zài)此測試模式下,自動記(jì)錄特性數(shù)據(jù),並與(yǔ)溫(wēn)度變化(huà)同(tóng)步,頻率(shuài)步數201步(範圍(wéi)可(kě)定製(zhì))。

  》 持續運(yùn)行(háng)測(cè)試測試

   模式測(cè)量(liáng)以下(xià)參數的(dí)變化(huà)特定中隨時(shí)間(jiān)推移的特(tè)征(zhēng)自(zì)動記錄數(shù)據。

  》 頻(pín)率(shuài)特性評價(jià)試(shì)驗(yàn)

   試(shì)驗(yàn)模式在特定(dìng)溫(wēn)度環(huán)境下(xià)改(gǎi)變頻率(shuài)的同時(shí)，自(zì)動(dòng)記錄(lù)不同頻率(shuài)下(xià)的(dí)特(tè)性數據(jù)。

4.多(duō)種可(kě)選(xuǎn)夾具 適用於(yú)不(bù)同的試(shì)驗樣(yàng)本（可選）

除了 SMD 組(zǔ)件的專用夾(jiā)具外(wài)，還提供了(liǎo)根據(jù)離散(sàn)設備(bèi)形(xíng)狀定製的(dí)夾(jiā)具。

技(jì)術指(zhǐ)標

1.測量(liáng)項目(mù)：電容(róng)量 (C)
，損耗(hào)係數 (D)
，阻抗 (Z)
，電(diàn)阻 (Rs，Rp) 和(hé)電感 (Ls，Lp)

2.測試(shì)方法(fǎ)：溫(wēn)度(dù)特性評價(jià)試驗(yàn)（相對(duì)於(yú)溫(wēn)度的(dí)變(biàn)化）

恒定運行(háng)檢(jiǎn)測(cè)（相(xiāng)對於檢測(cè)時間的變化）

頻率特性評(píng)價試驗(yàn) （相對(duì)於頻(pín)率的變化）

3.通(tōng)道配置(zhì)：8通道（標(biāo)準）
；最大(dà)值(zhí)64通(tōng)道可擴展8通(tōng)道(dào)增量

4.測量方法(fǎ)：交(jiāo)流四端(duān)對(duì)測量(liáng)

5.測量(liáng)範圍(wéi)：測量(liáng)頻(pín)率(shuài)：20 Hz ~ 1 MHz

電(diàn)容量 (C)：50 pF ~ 5 mF

損失(shī)因子 (D)：0.00001 ~ 9.99999

阻抗 (Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

6.測(cè)量(liáng)儀器(qì)：LCR 表(biǎo) （可按(àn)需(xū)選擇型號）

7.直(zhí)流偏(piān)壓：0 ~ ±40V

8.溫度測量(liáng)間隔：1 ℃

9.掃描周期：64通(tōng)道(dào)可(kě)在1min之(zhī)內完(wán)成

10.頻率(shuài)步(bù)長：201步(bù)（範(fàn)圍可定製）

11.補償(cháng)：短時(shí)補(bǔ)償(cháng)，開放(fàng)補(bǔ)償(cháng)

12.環(huán)境試驗係統(tǒng)控製：使溫度數據采集(jí)與(yǔ)測(cè)量和的溫度(dù)控(kòng)製同(tóng)步，具有(yǒu)RS-485功(gōng)能的環境(jìng)測試係(xì)統

13.測(cè)量(liáng)電(diàn)纜：由聚四氟乙烯製成(chéng)的同(tóng)軸(zhóu)電纜 （特性阻(zǔ)抗 (Z)，50Ω，95 pF/m）