>


塞貝(bèi)克係數電阻測試(shì)儀(yí)測試(shì)軟件:
塞貝(bèi)克係數(shù)電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試儀(yí)采用計(jì)算(suàn)機(jī)控製(zhì),係統軟件支(zhī)持windows10/11,能實現自(zì)動(dòng)完(wán)成(chéng)激(jī)勵,測(cè)量,數據處理並(bìng)顯(xiǎn)示或輸(shū)出測試(shì)結果,經過(guò)專家和(hé)應(yīng)用(yòng)工程師的努力(lì),華測開發(fā)出(chū)這(zhè)款使用便捷(jié)的(dí)測量(liáng)軟件(jiàn)。
• 文(wén)本(běn)編輯
• 重復測(cè)量(liáng)可少的輸入參(cān)數(shù)
• 實時(shí)測(cè)量分(fēn)析(xī)
• 測(cè)量曲(qū)綫比較:多(duō)達(dá)32條曲綫
• 曲綫扣(kòu)除(chú)
• 曲(qū)綫(xiàn)放(fàng)大縮小
• 一階/二(èr)階求導(dǎo)
• 多重(zhòng)峰(fēng)分(fēn)析
• 樣品溫(wēn)度(dù)多(duō)點(diǎn)校(xiào)正
• 多種(zhǒng)方(fāng)法分析(DSC TG ,TMA,DIL等(děng))
• 焓變(biàn)多點(diǎn)校(xiào)正
• 熱流(liú)Cp測(cè)量(liáng)
• 評(píng)估結果保(bǎo)存及導出
• ASCII數據(jù)導入與導出(chū)
• 數據(jù)生成到MS Excel
• 信號(hào)控製(zhì)測(cè)量測(cè)序(xù)
塞(sāi)貝(bèi)克(kè)係數電(diàn)阻(zǔ)測試儀技術指(zhǐ)標:
產品型(xíng)號(hào):HC-RD-1100
溫度範(fàn)圍(wéi):RT ~ 800/1100/1500℃
測量原(yuán)理:賽貝(bèi)克係(xì)數:靜(jìng)態(tài)直(zhí)流法 ; 電阻(zǔ)率(shuài):四端(duān)法(fǎ)
氣氛(fēn):惰(duò)性,氧化,還(huán)原(yuán),真(zhēn)空
樣品(pǐn)支(zhī)架(jià):三(sān)明(míng)治結構夾(jiā)與兩(liǎng)電極(jí)之間
樣品(pǐn)尺寸(圓(yuán)柱形或棱柱(zhù)形(xíng)):2 至 5 mm(麵(miàn)寬),23mm φ6mm,23mm
樣(yàng)品尺(chǐ)寸(cùn)(圓盤(pán)狀(zhuàng)): 10, 12.7, 25.4 mm
可調(tiáo)探(tàn)頭(tóu)距(jù)離(lí):4, 6, 8 mm
賽貝克(kè)係數測量範圍:1 ~ 2500μV/K 準(zhǔn)確度(dù)±7%;重復性(xìng)±3%
電導率(shuài)測量範(fàn)圍:0.01 ~ 2*10 5 s/cm 準確(què)度(dù)±5-8%;再現性±3%
電(diàn)源:0 ~ 1A,具長期穩(wěn)定性(xìng)
電極(jí)材料:鎳(niè)(-100至500°C)/鉑(bó)(-100至(zhì)+1500°C)
熱(rè)電偶:K/S/C型(xíng)
