半導體(tǐ)封裝(zhuāng)材料耐電弧(hú)試(shì)驗儀(yí)的概述(shù)

HCDH-4耐電(diàn)弧試(shì)驗(yàn)儀(yí)是(shì)專(zhuān)門(mén)為(wéi)電(diàn)氣(qì)絕(jué)緣材(cái)料測試而開(kāi) 發的(dí)高精密(mì)設備，適用(yòng)於電(diàn)氣(qì)絕緣材料，塑(sù)料(liào)，薄膜，樹脂，雲 母，陶瓷(cí)，玻(bō)璃，絕緣漆(qī)等(děng)的耐電弧(hú)性(xìng)能，模擬(nǐ)電弧(hú)放電(diàn)環境，對絕(jué)緣材料進(jìn)行(háng)高(gāo)壓(yā)電弧激發(fā)測試(shì)其(qí)耐電弧性能。耐(nài)電弧性是指絕(jué)緣(yuán)材(cái)料抵抗由高壓電(diàn)弧作(zuò)用引起變(biàn)質(zhì)的能力，通常用標準電弧焰在材料(liào)表麵引起炭化(huà)至(zhì)表麵(miàn)導(dǎo)電(diàn)而電(diàn)弧(hú)消(xiāo)失所需(xū)時(shí)間表(biǎo)示(shì)，單(dān)位(wèi)是(shì)秒。試(shì)驗時在板狀(zhuàng)試樣上施加兩個分(fēn)開一定距離(lí)的鎢電極，視需(xū)要(yào)以工頻(pín)高壓小電流在(zài)兩極間(jiān)產生(shēng)電(diàn)弧。起(qǐ)初是間歇時間逐(zhú)漸縮短(duǎn)的(dí)小電(diàn)流(liú)，最後(hòu)為連續(xù)電弧(hú)且逐漸加(jiā)大電(diàn)流(liú)，材料經受(shòu)逐漸苛刻(kè)的電弧(hú)條(tiáo)件最(zuì)終造成失效。耐(nài)電(diàn)弧(hú)性對(duì)用於(yú)高壓開(kāi)關或(huò)低壓大(dà)電(diàn)流開關的(dí)絕(jué)緣材(cái)料有(yǒu)重要意義(yì)，因(yīn)為在開(kāi)關(guān)啟閉時(shí)常會(huì)受到(dào)電(diàn)弧作(zuò)用，隻有(yǒu)耐電弧性良好的(dí)材料才能被選用(yòng)。

HCDH-4係統(tǒng)采用自(zì)主開發先(xiān)進的TVS高壓防護係(xì)統，保(bǎo)證試(shì)驗人(rén)員(yuán)及設備的安全(quán)性
；采用先進(jìn)的的SPWM電子升壓(yā)技(jì)術，電壓輸出穩(wěn)定性好。配(pèi)備高精度(dù)電壓，電流傳(chuán)感器以(yǐ)保證(zhèng)試(shì)驗數據(jù)的有(yǒu)效性(xìng)。

HCDH-4型係統(tǒng)搭配Labview係(xì)統開發的HuacePro軟件，具(jù)備(bèi)彈性的自定(dìng)義功(gōng)能，可(kě)進行(háng)電壓，電(diàn)流，電弧時間等設置，符(fú)合電(diàn)氣絕(jué)緣材料與(yǔ)新(xīn)材(cái)料測試多(duō)樣化的需(xū)求。高精(jīng)準度(dù)的輸出與(yǔ)測量規格，保障測度的器(qì)質，適用(yòng)於需(xū)要(yào)可造數據的檢測。例(lì)如：矽(guī)橡(xiàng)膠測(cè)試(shì)，PCB板耐電弧測試，雲(yún)母(mǔ)，四(sì)氟材料(liào)電弧測試(shì)，也可(kě)做為科研(yán)院所新材料的(dí)耐電弧(hú)性(xìng)材料的性(xìng)能(néng)測試(shì)。