表(biǎo)麵(miàn)電位(wèi)衰(shuāi)減測試係(xì)統的產品優勢體現(xiàn)

產品優(yōu)勢(shì)

1.表(biǎo)麵電位(wèi)衰(shuāi)減(jiǎn)測試係統高(gāo)壓(yā)極化(huà)與(yǔ)精準控製(zhì)

• 支持±30 kV寬(kuān)範(fàn)圍高壓輸(shū)出，負(fù)載調(tiáo)整率(shuài)≤0.5%，穩(wěn)定性(xìng)≤0.1%/h，確保極(jí)化過程穩(wěn)定可靠。

• 高精(jīng)度控溫加熱台(tái)（室溫~160℃，±0.2℃），結合濕度(dù)可(kě)調(tiáo)電極(jí)箱(xiāng)體(tǐ)，滿(mǎn)足復(fù)雜環(huán)境(jìng)模擬需求。

2.表(biǎo)麵(miàn)電(diàn)位衰(shuāi)減(jiǎn)測試係統(tǒng)高(gāo)靈敏測量與快(kuài)速響(xiǎng)應

• 電(diàn)位(wèi)測(cè)量(liáng)範圍(wéi)達(dá)±10 kV，精度1 V，采集(jí)頻率(shuài)＞1次/秒，搭配5~20 ms高(gāo)速(sù)響應，精準捕捉瞬(shùn)態電位變化。

• 配(pèi)備專(zhuān)用采集卡與中文(wén)分(fēn)析(xī)軟件，自(zì)動提取陷阱分(fēn)布參數，一鍵生(shēng)成衰(shuāi)減(jiǎn)曲(qū)綫及深度分析報(bào)告。

03 3.表麵(miàn)電位(wèi)衰(shuāi)減(jiǎn)測試係統靈(líng)活電極(jí)配(pèi)置與集(jí)成化(huà)設(shè)計(jì)

• 提供(gōng)銀/黃(huáng)銅(tóng)材質(zhì)針(zhēn)
，柵(zhà)
，板電極，電極間(jiān)隙0~100 mm動(dòng)態(tài)可調(tiáo)，適(shì)配不同樣(yàng)品(pǐn)形(xíng)態與(yǔ)測試(shì)場景。

• 集成(chéng)化電極(jí)箱體(tǐ)整合(hé)加(jiā)熱台
，支架(jià)及濕(shī)度模塊，大幅提(tí)升(shēng)實驗(yàn)效率與重復(fù)性。

04 4.表(biǎo)麵電位(wèi)衰(shuāi)減測(cè)試(shì)係統優異(yì)穩定性(xìng)與安(ān)全性(xìng)

• 電壓調整率≤0.1%，溫度(dù)係數(shù)≤0.1%/℃，確保長時(shí)間(jiān)測(cè)試數據(jù)一(yī)致性；輸(shū)出電流(liú)限製(zhì)≤1 mA，符合高壓操作(zuò)安(ān)全標(biāo)準(zhǔn)。