鐵(tiě)電分(fēn)析儀(yí)可測(cè)DHM動態(tài)電滯(zhì)回綫(xiàn)

一(yī)，電(diàn)滯回(huí)綫(xiàn)是什(shí)麼？

電滯回綫（Hysteresis Loop）是指(zhǐ)在(zài)較(jiào)強(qiáng)的(dí)交(jiāo)變(biàn)電場(cháng)作用下，鐵(tiě)電(diàn)體的極化強度(dù)P隨外電場E呈(chéng)非(fēi)綫性(xìng)變化的現象。這(zhè)種(zhǒng)變(biàn)化表現為P相(xiāng)對於E的(dí)雙(shuāng)值(zhí)函(hán)數(shù)，顯示出(chū)滯後現(xiàn)象(xiàng)，即當電場(cháng)方向改變時(shí)，極(jí)化強(qiáng)度不會(huì)立即跟隨變化(huà)，而是有(yǒu)一定(dìng)的滯後(hòu)。這(zhè)種P-E（或D-E）關(guān)係(xì)的(dí)圖(tú)形就稱為(wéi)電滯回(huí)綫。

二，電(diàn)滯(zhì)回綫的應用

電滯回(huí)綫在(zài)材料科學(xué)研究中(zhōng)具(jù)有重(zhòng)要應用(yòng)，特(tè)別(bié)是在(zài)鐵(tiě)電材(cái)料性(xìng)能(néng)研(yán)究(jiū)和(hé)多鐵(tiě)材料研究領域。通(tōng)過測試動(dòng)態電滯(zhì)回(huí)綫(xiàn)，研(yán)究(jiū)人員可以研究鐵電材料(liào)的(dí)相(xiāng)變(biàn)行(háng)為，觀(guān)察(chá)材料(liào)在不同溫(wēn)度(dù)，電場頻率(shuài)等(děng)條件下(xià)從鐵(tiě)電相(xiāng)到(dào)順(shùn)電相(xiāng)的(dí)轉變(biàn)過(guò)程(chéng)。此外(wài)，動態(tài)電(diàn)滯回綫(xiàn)的形狀，大(dà)小等(děng)變化(huà)可以幫助了解鐵電(diàn)疇(chóu)在(zài)電場作用下的(dí)翻(fān)轉，合並(bìng)等動(dòng)態過程，從(cóng)而(ér)深入理解材(cái)料(liào)的微(wēi)觀結構與宏(hóng)觀性能(néng)關(guān)係(xì)。

華測(cè)儀器(qì)鐵電分析儀

三，華測(cè)儀器(qì)鐵電(diàn)分(fēn)析儀參數(shù)

l 輸出範(fàn)圍：±100V或(huò)±200V，可(kě)擴展至10kV；

l 可定製(zhì)內置放(fàng)大器最(zuì)大電壓(yā)：最大頻率：1MHz；最(zuì)大電流(liú)：1A;

l 16位(wèi)任意(yì)波形(xíng)發(fā)生器輸(shū)出(chū)；

l 內(nèi)置±100V和(hé)±200V兩(liǎng)種(zhǒng)放大器(qì)；

l 準(zhǔn)確性(xìng)0.5%或更高；

l 最(zuì)小脈(mài)衝寬度(PUND)：500ns；

l 最小上升(shēng)時(shí)間(jiān)：200ns；

l 最(zuì)大脈(mài)衝(chōng)寬度(dù)低至1μs，最高(gāo)可達15us；

l 最(zuì)大(dà)區域(yù)分辨率：52.6mC；

l 最(zuì)大遲(chí)電滯(zhì)回(huí)綫(xiàn)頻(pín)率：270KHz；

l 模擬輸入通道:高(gāo)達40MS/s，±10V(16位(wèi))；

l 最大(dà)測(cè)試電(diàn)容(róng)範圍(wéi):1nF(與測試頻率有(yǒu)關)；

l 輸出阻(zǔ)抗(kàng):10Ω；

四(sì)，華(huá)測(cè)儀(yí)器鐵電(diàn)分析儀(yí)可(kě)測試項(xiàng)目(mù)

測(cè)試項(xiàng)目(mù)：動態電(diàn)滯(zhì)回綫(xiàn)測量（DHM），泄(xiè)漏電(diàn)流測量(liáng)（LM），CV測(cè)量（CVM），疲(pí)勞測量(liáng)（FM），保(bǎo)持(chí)力測(cè)量(liáng)（RM），印記測量（IM），脈衝測(cè)量(liáng)（PM），靜(jìng)態電(diàn)滯回(huí)綫測量（SHM），擊(jī)穿電(diàn)壓測量(liáng)（BDM），壓(yā)電(diàn)測(cè)量（PZM），熱釋電(diàn)測(cè)量（PYM），熱刺(cì)激(jī)測量（TSDC），介(jiè)電溫譜(pǔ)測量（DTS），高低溫(wēn)電(diàn)阻測量（TIR），充放(fàng)電(diàn)測試(shì)（ESD）