材料長期老化風險難(nán)以預判，老化(huà)性能(néng)數(shù)據(jù)難獲(huò)取(qǔ)？華測儀器Huace-LHD-4 長期(qī)電(diàn)熱(rè)老化試驗平(píng)台，是為電(diàn)子材(cái)料(liào)，絕緣介質，壓電陶瓷(cí)等(děng)試(shì)樣(yàng)長期(qī)電熱(rè)老化(huà)測(cè)試(shì)而設計，解(jiě)決(jué)材(cái)料長(cháng)期老化工(gōng)況模擬(nǐ)難(nán)，測試(shì)一致性(xìng)差，試(shì)驗易中(zhōng)斷等(děng)行業痛點
。

設(shè)備標(biāo)配5 單獨測試通道，支持(chí)按需(xū)定製通道數量，適配多批次(cì)，多試(shì)樣同步(bù)測試需求(qiú)；采(cǎi)用多路(lù)並行單(dān)獨(dú)測控架構，每路溫(wēn)場(cháng)，電壓(yā)，時間(jiān)等(děng)參數(shù)可(kě)單獨自(zì)行(háng)設(shè)置(zhì)，各通道極化互不(bù)幹(gān)擾，測(cè)試互不(bù)影響，大幅(fú)優化試驗效(xiào)率與(yǔ)對(duì)比性(xìng)
。

搭(dā)載(zǎi)-40℃～150℃寬(kuān)溫域(yù)溫控係統(tǒng)，可(kě)準確模擬高(gāo)低溫交(jiāo)變(biàn)，恒溫(wēn)存(cún)續(xù)等(děng)多(duō)種(zhǒng)復雜服役(yì)工況(kuàng)，真實復(fù)現(xiàn)材料實際應(yīng)用環境，還原(yuán)長期老(lǎo)化(huà)衰(shuāi)減(jiǎn)規律(lǜ)；0～1kV 標(biāo)準輸出電壓(yā)範圍，支持高壓(yā)量程定製，滿(mǎn)足不(bù)同耐壓(yā)等級(jí)材(cái)料的(dí)極化老化測試要求
。

整(zhěng)機支(zhī)持24 小(xiǎo)時(shí)不間斷(duàn)連續(xù)運行，溫(wēn)控精(jīng)度可達(dá)±0.5℃，電(diàn)壓(yā)波動為(wéi)≤±1%，全(quán)程(chéng)參(cān)數穩定可控(kòng)，從源(yuán)頭保(bǎo)障老(lǎo)化試驗數(shù)據(jù)準確(què)可靠(kào)，可追溯
。

內(nèi)置(zhì)電(diàn)磁屏障腔(qiāng)體 + 冗(rǒng)餘供電雙(shuāng)保障係統(tǒng)，可減少外界電(diàn)磁幹擾(rǎo)，規避(bì)電網(wǎng)電(diàn)壓(yā)波(bō)動影(yǐng)響，減少環(huán)境擾動與供電(diàn)異常(cháng)造成(chéng)的(dí)試驗中(zhōng)途(tú)中斷(duàn)，保障長(cháng)期老化(huà)試驗穩定閉環運(yùn)行
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采用模塊化集(jí)成(chéng)設計(jì)，可靈活拓展真空環(huán)境，腐(fǔ)蝕(shí)氣體，濕(shī)度氛圍(wéi)等(děng)選(xuǎn)配(pèi)環境(jìng)模塊，可適配(pèi)多場(cháng)景老(lǎo)化測(cè)試研發需求；標(biāo)配過壓，過流(liú)，過溫多重(zhòng)智(zhì)能自動(dòng)保護(hù)機製(zhì)，實時監控(kòng)設備(bèi)與(yǔ)試(shì)樣狀態，異常即(jí)刻自(zì)動斷(duàn)電防護，保(bǎo)障試(shì)驗過(guò)程(chéng)穩定與設(shè)備(bèi)使(shǐ)用(yòng)壽命
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