在(zài)電子(zǐ)元(yuán)器件(jiàn)領(lǐng)域(yù)，溫(wēn)變環(huán)境易引發電(diàn)容(róng)器(qì)參(cān)數漂移，性能衰減(jiǎn)，因此(cǐ)溫(wēn)度相關(guān)測(cè)試是判定產品可(kě)靠性的關鍵(jiàn)標準。華測(cè)儀(yí)器HCCT-40H電(diàn)容(róng)器溫度(dù)特(tè)性評估(gū)係統(tǒng)，集(jí)成(chéng)高(gāo)準(zhǔn)度(dù)測量與多(duō)工(gōng)況(kuàng)模擬能(néng)力(lì)，滿(mǎn)足(zú)標準(zhǔn)檢測需求(qiú)。

係(xì)統標(biāo)配(pèi)8測(cè)試通道，可拓展至64通(tōng)道，多通道(dào)並(bìng)行(háng)架(jià)構可滿足(zú)大批量試(shì)樣(yàng)同(tóng)步(bù)檢測，可縮短測試(shì)周(zhōu)期，優化(huà)檢(jiǎn)測(cè)效率(shuài)。采用(yòng)交流(liú)四端對(duì)測量技術(shù)，能規(guī)避引綫阻抗(kàng)，接觸(chù)電(diàn)阻(zǔ)帶來的幹(gān)擾(rǎo)，測試頻(pín)率20Hz~1MHz，對電(diàn)容(róng)量，介質(zhì)損耗，等效阻抗等參(cān)數(shù)實現靈敏度檢測(cè)，準確(què)識別(bié)微(wēi)小性(xìng)能變(biàn)化(huà)。

設備(bèi)集(jí)成三(sān)類標準化測(cè)試模(mó)式(shì)，且支持(chí)自定義(yì)配(pèi)置與模式(shì)聯用：

溫度(dù)特(tè)性(xìng)測(cè)試(shì)：配(pèi)合溫(wēn)變環(huán)境(jìng)，全(quán)程同(tóng)步(bù)監(jiān)測參(cān)數(shù)隨溫度(dù)的(dí)變(biàn)化趨勢，頻(pín)率(shuài)測試點默認(rèn)201步(bù)，參(cān)數範圍，步進數量(liáng)支(zhī)持(chí)定製(zhì)；

恒定運行測(cè)試(shì)：模擬實際服役(yì)環境進行長(cháng)期老(lǎo)化測試，量(liáng)化評(píng)估產品(pǐn)耐久性能(néng)與工(gōng)作(zuò)穩定(dìng)性(xìng)；

頻(pín)率特性(xìng)測(cè)試(shì)：全(quán)頻(pín)段掃描(miáo)分析，獲取(qǔ)器(qì)件完(wán)整(zhěng)頻響特性(xìng)曲綫。

一(yī)機(jī)實(shí)現(xiàn)多(duō)項試驗需求，集成(chéng)數據采集，記錄(lù)，分析等功能(néng)，適配產品(pǐn)研(yán)發(fā)定型(xíng)，出(chū)廠質(zhì)控，可靠性檢測(cè)等(děng)業(yè)務場(cháng)景(jǐng)。設(shè)備兼容 MLCC，陶瓷電(diàn)容(róng)，薄膜電(diàn)容等多種(zhǒng)主流電容器，契合電子(zǐ)，工控，汽車(chē)電子，通(tōng)信(xìn)等領域的測試(shì)規範與應(yīng)用(yòng)要(yào)求(qiú)。