華測儀器 HCDH-4 耐(nài)電弧試驗儀支持自(zì)定義(yì)試驗工況，可切(qiē)換間隙電弧(hú)
，連(lián)續(xù)電弧(hú)兩(liǎng)種試驗模(mó)式(shì)，匹配絕(jué)緣材(cái)料耐電弧性能檢(jiǎn)測需(xū)求(qiú)。

設(shè)備搭(dā)載實時可(kě)視(shì)化監測(cè)界(jiè)麵，試(shì)驗全過程(chéng)電(diàn)壓
，電(diàn)流數據自(zì)動(dòng)采集
，長(cháng)久(jiǔ)保(bǎo)存，歷史記(jì)錄可調取導出(chū)，便於(yú)後續數(shù)據(jù)分(fēn)析與(yǔ)報告編製。操作模式(shì)靈(líng)活，可(kě)按需(xū)選用(yòng)手(shǒu)動(dòng)單次(cì)試驗(yàn)模式，或是(shì)自動(dòng)程(chéng)序化(huà)試(shì)驗模(mó)式(shì)，兼顧(gù)靈活調試與(yǔ)批(pī)量(liáng)檢測效(xiào)率。

硬(yìng)件采(cǎi)用(yòng) SPWM 電(diàn)子(zǐ)升壓(yā)技術，輸出高壓(yā)平(píng)穩恒(héng)定(dìng)，電壓紋波小，無明顯(xiǎn)波動(dòng)，保障(zhàng)電弧(hú)生成(chéng)條件穩定性(xìng)。設備(bèi)內置多級(jí)循環電(diàn)壓采集(jí)模(mó)塊，並(bìng)搭配低通濾波(bō)算法，能(néng)夠減(jiǎn)少(shǎo)電弧產(chǎn)生(shēng)的(dí)高(gāo)頻電磁幹(gān)擾，規避信(xìn)號失真(zhēn)問題。

設備(bèi)具(jù)有(yǒu)兩套(tào)電流(liú)檢(jiǎn)測係統，一(yī)套是純(chún)機(jī)械(xiè)式的，一套是(shì)電(diàn)子軟件式的(dí)，可(kě)以(yǐ)保(bǎo)證(zhèng)測(cè)試過程(chéng)中(zhōng)的(dí)電流準確，電(diàn)流(liú)測量(liáng)精度可達(dá)≤1.5%；電(diàn)弧(hú)通斷時間(jiān)控製誤(wù)差小於(yú) ±0.1ms，多(duō)次平(píng)行試驗的數據一(yī)致性(xìng)強，測試重(zhòng)復性優異，試(shì)驗結果可靠(kào)。

機身(shēn)集成可(kě)視化狀(zhuàng)態燈(dēng)帶，人機交(jiāo)互清晰(xī)直觀(guān)：試驗(yàn)運行(háng)階段燈帶恒亮紅色，試(shì)驗(yàn)人員(yuán)可清晰觀(guān)測(cè)電弧完整放電(diàn)過程(chéng)；設(shè)備(bèi)待機未啟動(dòng)時，燈(dēng)帶保(bǎo)持(chí)常亮(liàng)綠色(sè)，設備(bèi)運(yùn)行狀態一目(mù)了然。

設備試驗防(fáng)護門(mén)選(xuǎn)用(yòng)高透(tòu)亞克力(lì)板(bǎn)材(cái)，能清晰觀(guān)察(chá)內(nèi)部試(shì)驗(yàn)現象(xiàng)，係統(tǒng)內(nèi)置(zhì)過電(diàn)流(liú)
，過(guò)電(diàn)壓等(děng)異常(cháng)預警與(yǔ)緊(jǐn)急(jí)保護(hù)機(jī)製(zhì)，一(yī)旦出現電氣故障立即自動切斷(duàn)輸(shū)出，保(bǎo)障長時間連續(xù)試驗(yàn)平(píng)穩(wěn)運行。