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當(dāng)前位(wèi)置:首(shǒu)頁 > 新聞中(zhōng)心 > 新(xīn)品發(fā)布(bù)|華(huá)測儀器推出原位拉(lā)伸探(tàn)針台,豐富(fù)原(yuán)位表征布局近(jìn)日(rì),北京華(huá)測試(shì)驗儀(yí)器有(yǒu)限公(gōng)司(sī)(以下(xià)簡稱(chēng)“華測(cè)儀器(qì)")正(zhèng)式(shì)推出新品原位(wèi)拉伸(shēn)探針台(tái),普遍(biàn)應用(yòng)於(yú)材料(liào)科(kē)學,力學工(gōng)程(chéng),失效(xiào)分(fēn)析等領域,為研(yán)究(jiū)材(cái)料(liào)的變(biàn)形機製,斷裂(liè)行(háng)為,疲(pí)勞(láo)壽(shòu)命(mìng)等提供(gōng)數(shù)據支持。
該產品(pǐn)是一款高(gāo)準度(dù)力學加載與(yǔ)顯(xiǎn)微觀(guān)測(cè)集成的試(shì)驗(yàn)裝(zhuāng)置,力傳感(gǎn)器精(jīng)度±0.1%F.S.,位(wèi)移分(fēn)辨(biàn)率0.1μm,它將力(lì)學加載係(xì)統(拉(lā)伸,壓(yā)縮,彎(wān)曲,剪切(qiē),循(xún)環(huán)疲(pí)勞等(děng))與光學(xué)顯微(wēi)鏡(jìng),掃描電(diàn)鏡(SEM),透射電(diàn)鏡(TEM),X射綫衍(yǎn)射(shè)儀(yí)(XRD)等設備(bèi)聯(lián)用,實現對材(cái)料的宏觀力學性能與微(wēi)觀結構變化的同(tóng)步表(biǎo)征。設備兼容高(gāo)低溫(wēn)選(xuǎn)配模塊,適(shì)配 - 190℃~200℃寬(kuān)溫域(yù)工況,機身光(guāng)學窗(chuāng)口兼容顯微(wēi)成像,X射(shè)綫衍射,拉(lā)曼光(guāng)譜(pǔ)等(děng),實(shí)現(xiàn)微觀形(xíng)貌(mào),力學,電性多方位同(tóng)步(bù)觀(guān)測。
產品(pǐn)麵(miàn)向材料科(kē)學,力學(xué)工(gōng)程(chéng)與失效(xiào)分析等(děng)科(kē)研(yán)場(cháng)景(jǐng),適配高校(xiào)新材料實(shí)驗室與企(qǐ)業(yè)研(yán)發(fā)。此(cǐ)次(cì)新(xīn)品落地(dì),將(jiāng)進(jìn)一(yī)步豐(fēng)富華(huá)測(cè)儀器(qì)原位測試產(chǎn)品矩陣,助力國內前(qián)沿材料(liào)科(kē)研國產化(huà)儀器替代。

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