讀(dú)數穩(wěn)定(dìng)手(shǒu)持式(shì)四(sì)探針測(cè)試(shì)儀(yí)器(qì)

讀數(shù)穩(wěn)定手(shǒu)持(chí)式(shì)四(sì)探(tàn)針測(cè)試(shì)儀器簡要(yào)介紹

■ HCTZ-2S型(xíng)四探(tàn)針測試(shì)儀，可測量(liáng)片狀
，塊(kuài)狀(zhuàng)半導體材料的(dí)徑(jìng)向和軸向(xiàng)電阻率及(jí)擴散層(céng)的(dí)薄層電(diàn)阻(zǔ)，適用(yòng)於(yú)半導體和(hé)太(tài)陽(yáng)能材料(liào)測試(shì)的要求，也可對(duì)分(fēn)立(lì)電(diàn)阻(zǔ)進(jìn)行(háng)測量，USB接(jiē)口(kǒu)可為(wéi)用(yòng)戶提(tí)供(gōng)遠(yuǎn)程控(kòng)製及測試數(shù)據的統計和(hé)分(fēn)析(xī)。由於(yú)采用了(liǎo)電(diàn)池和(hé)外接(jiē)電(diàn)源(yuán)兩(liǎng)種(zhǒng)供電方(fāng)式，既能(néng)適應固定場合對(duì)元(yuán)器件進(jìn)行檢(jiǎn)測(cè)，又可隨(suí)身攜(xié)帶以滿足(zú)測試人員(yuán)的現場測試(shì)要(yào)求。

特(tè)點

■ 大(dà)屏幕液晶(jīng)顯示

■ 采用(yòng)SMT表麵貼(tiē)裝工藝

■ 可手(shǒu)動或(huò)自(zì)動選擇(zé)合適(shì)的電流(liú)源量(liáng)程

■ 電流(liú)源方(fāng)向(xiàng)有正方向
，反方(fāng)向和(hé)正反方向三(sān)種選擇

■ 預設樣(yàng)片(piàn)厚度，自(zì)動修(xiū)正，直(zhí)讀電(diàn)阻率(shuài)

■ 報警(jǐng)門(mén)限預(yù)設(shè)，可用於HI PASS LOW 分選(xuǎn)

■ 200個讀數存儲(chǔ)，可對(duì)存儲讀數求zui大值
，zui小(xiǎo)值(zhí)和標準(zhǔn)偏差(chà)值 等(děng)數(shù)學統計(jì)

■ USB通訊功(gōng)能(néng)，可通過上(shàng)位(wèi)機(jī)軟(ruǎn)件(jiàn)對(duì)手持(chí)表進(jìn)行操(cāo)作(zuò)

■ 1%電阻基本精(jīng)度

■ 讀(dú)數穩(wěn)定(dìng)性(xìng)好(hǎo)

■ 自動關機功能

■ 電(diàn)池及外接電(diàn)源(yuán)供電(diàn)方式(shì)

技術(shù)參數