產(chǎn)品名稱(chēng)：北京華測試驗儀器四(sì)探針測試(shì)儀(yí)

產(chǎn)品型(xíng)號：HCTZ-2S

品(pǐn)牌：北京華(huá)測

一，產品(pǐn)介紹

HCTZ-2S北(běi)京華測試驗儀器四(sì)探針測試(shì)儀(yí)是運用四(sì)探針測量(liáng)原(yuán)理的多(duō)用(yòng)途綜合(hé)測(cè)量設備(bèi)。於(yú)測試(shì)半(bàn)導體(tǐ)材(cái)料(liào)電(diàn)阻(zǔ)率及方(fāng)塊電阻(zǔ)(薄層電阻)的儀器(qì)。儀器由主機，測試(shì)台，四(sì)探(tàn)針(zhēn)探頭，計算(suàn)機等(děng)部分組(zǔ)成，測量(liáng)數據(jù)既可由主(zhǔ)機直接顯(xiǎn)示，亦可(kě)由計算機控(kòng)製(zhì)測試(shì)采集測(cè)試(shì)數據到(dào)計算機(jī)中加以分析，然後(hòu)以表格(gé)，圖(tú)形(xíng)方(fāng)式統計(jì)分析(xī)顯(xiǎn)示(shì)測試結(jié)果(guǒ)。

HCTZ-2S雙電(diàn)測(cè)數字(zì)式四探(tàn)針試驗儀是運(yùn)用(yòng)直綫或方形(xíng)四探(tàn)針雙位(wèi)測量。利(lì)用(yòng)電流探(tàn)針(zhēn)，電壓探(tàn)針的(dí)變(biàn)換，采用(yòng)兩(liǎng)次(cì)電(diàn)測量，對數據進行雙(shuāng)電(diàn)測分析(xī)，自(zì)動(dòng)消(xiāo)除樣品幾何(hé)尺寸(cùn)，邊界(jiè)效應以及(jí)探(tàn)針不(bù)等(děng)距和機械(xiè)遊(yóu)移(yí)等(děng)因素對測量(liáng)結(jié)果的(dí)影響，它與(yǔ)單電測直(zhí)綫(xiàn)或方(fāng)形四探針(zhēn)相(xiāng)比，大(dà)大提高了(liǎo)精確度(dù)，也可應用於產(chǎn)品(pǐn)檢測(cè)以(yǐ)及新材料電(diàn)學研究等(děng)用途。

四探(tàn)針軟(ruǎn)件測試(shì)係統(tǒng)是一(yī)個運(yùn)行在(zài)計算機(jī)上擁有(yǒu)友好(hǎo)測(cè)試(shì)界麵的用戶程序(xù)，通(tōng)過(guò)此測試程序(xù)輔助(zhù)使用戶簡便(biàn)地(dì)進行各項(xiàng)測(cè)試及(jí)獲得(dé)測(cè)試數(shù)據並(bìng)對(duì)測試(shì)數(shù)據進行(háng)統(tǒng)計分析。

測試(shì)程(chéng)序(xù)控(kòng)製(zhì)四(sì)探針試(shì)驗儀(yí)進行測(cè)量(liáng)並采(cǎi)集(jí)測(cè)試數據(jù)，把采(cǎi)集(jí)到(dào)的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以(yǐ)分(fēn)析，然(rán)後把(bǎ)測(cè)試(shì)數(shù)據以表格(gé)，圖形直(zhí)觀地記(jì)錄，顯示(shì)出(chū)來。用戶可對采集到的數(shù)據在電(diàn)腦(nǎo)中保存或者(zhě)打(dǎ)印(yìn)以備日(rì)後參考(kǎo)和(hé)查看(kàn)，還(huán)可以把采(cǎi)集到的數據輸(shū)出(chū)到Excel中(zhōng)，讓(ràng)用戶對(duì)數據(jù)進行各種(zhǒng)數(shù)據分析(xī)。

二，四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試(shì)探(tàn)頭

1，使(shǐ)用幾(jī)何(hé)尺寸十分精(jīng)確的紅(hóng)寶石(shí)軸承(chéng)，量(liáng)具精(jīng)度的硬質合金(jīn)探針，在寶石(shí)導孔內運動，持久耐磨，測量(liáng)精度高，重(zhòng)復性好。

A.探(tàn)頭(tóu)間(jiān)距1.00㎜

B.探針(zhēn)機械(xiè)遊(yóu)率(shuài)：±0.3%

C.探針直(zhí)徑(jìng)0.5㎜

D.探(tàn)針材(cái)料：碳(tàn)化(huà)鎢(wū)，常溫(wēn)不(bù)生(shēng)鏽(xiù)

E探(tàn)針(zhēn)間(jiān)及(jí)探(tàn)針(zhēn)與其他部(bù)分之間的絕(jué)緣電(diàn)阻(zǔ)大(dà)於109歐姆(mǔ)。

2，手動(dòng)測試(shì)架(jià)

手動(dòng)測試架探頭上下(xià)由手(shǒu)動(dòng)操作，可(kě)以用(yòng)作(zuò)斷(duàn)麵(miàn)單(dān)晶(jīng)棒(bàng)和矽(guī)片測試(shì)，探(tàn)針頭可上(shàng)下(xià)移(yí)動距離(lí)：120mm，測(cè)試台麵200x200(mm)。

三，產品(pǐn)應用(yòng)

HCTZ-2S四探針試驗(yàn)儀采用(yòng)四探(tàn)針雙電測量方(fāng)法，適用(yòng)於生產(chǎn)企業，高等院校，科研部門(mén)，是(shì)檢(jiǎn)驗和(hé)分(fēn)析(xī)導體材(cái)料(liào)和半導體材料在(zài)高(gāo)溫(wēn)，真(zhēn)空(kōng)及(jí)氣(qì)氛條(tiáo)件下測量(liáng)的一種(zhǒng)重(zhòng)要的工(gōng)具。本(běn)儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝(zhuāng)置可以測(cè)試不同(tóng)材料。液晶顯(xiǎn)示，無(wú)需人(rén)工(gōng)計(jì)算(suàn)，並(bìng)帶有溫度(dù)補(bǔ)償(cháng)功(gōng)能。采(cǎi)用精度高的AD芯(xīn)片控(kòng)製(zhì)，恒流(liú)輸(shū)出，結構合(hé)理，質(zhì)量輕便(biàn)，配備(bèi)10英(yīng)寸觸(chù)摸屏，軟(ruǎn)件(jiàn)可保(bǎo)存和打印(yìn)數據，自(zì)動生成(chéng)報表(biǎo)；本儀(yí)器可(kě)顯(xiǎn)示電(diàn)阻，電阻率，方阻，溫度，單(dān)位換算(suàn)，溫(wēn)度(dù)係數(shù)，電流(liú)，電(diàn)壓(yā)，探(tàn)針(zhēn)形狀，探(tàn)針間(jiān)距，厚(hòu)度(dù)，電導率，配備不同的測試(shì)治(zhì)具(jù)可以(yǐ)滿(mǎn)足不(bù)同材(cái)料的測試(shì)要(yào)求(qiú)。測試治(zhì)具可以(yǐ)根據產品及測(cè)試項目(mù)要(yào)求選購(gòu)。

四(sì)，產(chǎn)品(pǐn)特(tè)點(diǎn)
    1.TVS瞬間(jiān)抑(yì)製防護技(jì)術(shù)： 光耦與(yǔ)隔離無(wú)非(fēi)是提高儀器的采(cǎi)集的(dí)抗擾(rǎo)處(chǔ)理(lǐ),對於閃(shǎn)絡(luò)放電(diàn)過程中(zhōng)的浪湧(yǒng)對控(kòng)製係(xì)統的(dí)防護(hù)起不(bù)到(dào)任(rèn)何作用。
    2.本(běn)儀器(qì)的特(tè)點(diǎn)是(shì)主(zhǔ)機配(pèi)置三個(gè)數字表(biǎo)，在(zài)測量(liáng)電(diàn)阻率的同時，一(yī)塊數字表適時(shí)監測全(quán)程的電流變化，及(jí)時(shí)掌控測量電流，一(yī)塊(kuài)顯示(shì)2，3探(tàn)針(zhēn)間(jiān)的測量電壓，另一(yī)塊是顯(xiǎn)示(shì)當前(qián)1，4探(tàn)針測量(liáng)使用的電(diàn)壓，可以適當調整測量(liáng)電(diàn)壓(yā)避免(miǎn)材料耐壓不(bù)夠(gòu)而電壓(yā)擊(jī)穿(chuān)被(bèi)測(cè)材(cái)料(liào)。

3.主機(jī)還提供精度為(wéi)0.05%的(dí)恒(héng)流(liú)源(yuán)，使測(cè)量電流高度穩定。本機配有恒(héng)流源(yuán)開關(guān)，在測量某些薄(báo)層(céng)材料時(shí)，可(kě)免(miǎn)除探(tàn)針(zhēn)尖(jiān)與被測(cè)材料之(zhī)間接觸(chù)火花(huā)的(dí)發生(shēng)，好地保護薄膜。采用(yòng)低通濾波電(diàn)流檢(jiǎn)測技術(shù)以保(bǎo)證采集電(diàn)流的有(yǒu)效值 ，以及電流抗(kàng)擾的(dí)屏蔽(bì)。
    4.探(tàn)針采用(yòng)碳化鎢(wū)硬質合(hé)金，硬(yìng)度高，常溫不生鏽(xiù)，探(tàn)針(zhēn)遊移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量(liáng)電(diàn)阻率(shuài)的(dí)重(zhòng)復(fù)性和(hé)準(zhǔn)確(què)度。本(běn)機如加配測量(liáng)軟件(jiàn)，測(cè)量矽(guī)片時可(kě)自(zì)動(dòng)進行(háng)厚(hòu)度，直(zhí)徑，探(tàn)針間距的(dí)修正，並計(jì)算，打(dǎ)印出矽片電(diàn)阻率(shuài)，徑(jìng)向(xiàng)電阻率的大(dà)百(bǎi)分(fēn)變(biàn)化(huà)，平均百分(fēn)變化，徑向電阻率不(bù)均(jūn)匀(yún)度，給(gěi)測(cè)量帶來很大方(fāng)便(biàn)。

5.HCTZ-800係統(tǒng)搭配Labview係(xì)統開發的hcpro軟件，具(jù)備(bèi)彈(dàn)性(xìng)的(dí)自(zì)定義功(gōng)能(néng)，可進(jìn)行電壓(yā)，電(diàn)流。

6.儀器(qì)通過(guò)USB轉RS232連(lián)接綫與電腦連(lián)接(jiē)，軟(ruǎn)件可對四(sì)探針電阻率(shuài)測(cè)量(liáng)數據進行處(chǔ)理(lǐ)並修正測量(liáng)數據(jù)，特(tè)定數據(jù)存儲格式(shì)，顯(xiǎn)示變化曲綫，兼(jiān)容(róng)性：適(shì)用於(yú)通用電(diàn)腦(nǎo)

7.測試(shì)係統(tǒng)的(dí)軟(ruǎn)件平台hcpro，采(cǎi)用labview係(xì)統開發，符(fú)合導(dǎo)體，半(bàn)導(dǎo)體材(cái)料的(dí)各項(xiàng)測試需求(qiú)，具備(bèi)穩(wěn)定性和(hé)an全性(xìng)，並具備斷(duàn)電資料的(dí)保存功(gōng)能，圖(tú)像(xiàng)資(zī)料(liào)可(kě)保存(cún)恢復，支持(chí)的標準。兼(jiān)容XP，win7，win10係統。

五(wǔ)，軟(ruǎn)件功能(néng)

具有試驗電壓設(shè)置功能；

可選(xuǎn)擇試(shì)驗標(biāo)準

可選擇是(shì)否(fǒu)自(zì)定義(yì)或自動試(shì)驗(yàn)

截止條件：時間/電(diàn)壓(yā)/電流(liú);

語(yǔ)音(yīn)提(tí)示:可選擇(zé)是否語音提示(shì)功能(néng)。

統(tǒng)計報(bào)告(gào)：可自定報表格(gé)式(shì)

可生出PDF，CSV，XLS文件(jiàn)格(gé)式

分(fēn)析功能：可(kě)對測試(shì)的(dí)數(shù)據進行統(tǒng)計(jì)。大(dà)/小值(zhí)，平均值等(děng)。

六，技(jì)術參(cān)數(shù)

測量(liáng)範圍(wéi)

電  阻(zǔ)：1×10-4~2×105Ω，     分辨率(shuài)：1×10-5~1×102Ω

電阻率：1×10-4~2×105Ω-cm，  分(fēn)辨(biàn)率：1×10-5~2×102Ω-cm

方(fāng)  阻(zǔ)：5×10-4~2×105Ω/□，  分(fēn)辨率(shuài)：5×10-5~1×102Ω/□

數(shù)字(zì)電壓(yā)表

量(liáng)程：20.00mV~2000mV

誤差：±0.1%讀(dú)數±2字

數(shù)控恒流源

量程(chéng)：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A

誤(wù)差：±0.1%讀數±2字(zì)

四探針(zhēn)探頭(tóu)

碳(tàn)化鎢(wū)探(tàn)針：Ф0.5mm，直流探針間距(jù)1.0mm，探(tàn)針壓力(lì)：0~2kg可調

薄膜方(fāng)阻探針：Ф0.7mm，直(zhí)流或方(fāng)形探(tàn)針間距(jù)2.0mm，探針壓力(lì)：0~0.6kg可調

七(qī)，注意(yì)事項

1，儀(yí)器操(cāo)作(zuò)前請(qǐng)您(nín)仔細閱讀(dú)使(shǐ)用說明書，規(guī)範操作(zuò)

2，輕拿(ná)輕放，避免儀(yí)器震動(dòng)，水平放置，垂直測(cè)量

3，儀器(qì)不(bù)使用時(shí)請(qǐng)切斷電源，連(lián)接(jiē)綫無需(xū)經常拔下(xià)，避免(miǎn)灰(huī)塵進入航(háng)空(kōng)插(chā)引起短(duǎn)接(jiē)等現象(xiàng)

4，探(tàn)針(zhēn)筆測(cè)試結束(shù)，套好護套，避免(miǎn)人為斷(duàn)針(zhēn)

華測儀(yí)器(qì)-四探針測試儀

華(huá)測儀器-四探針(zhēn)測試儀(yí)