HuaceFE-3000是一(yī)款(kuǎn)擴(kuò)展(zhǎn)性(xìng)高(gāo)速型模(mó)塊化鐵(tiě)電(diàn)壓電分(fēn)析儀(yí)，薄(báo)膜陶瓷(cí)測試(shì)，具(jù)備(bèi)鐵電
，壓電
，熱(rè)釋電(diàn)材料所(suǒ)有(yǒu)基(jī)本(běn)特性(xìng)測試(shì)功(gōng)能(néng)，可(kě)與(yǔ)激(jī)光(guāng)幹涉儀(yí)和SPM掃描探(tàn)針顯(xiǎn)微鏡等微位移傳感器聯用，可廣泛(fàn)地應用(yòng)於如各種(zhǒng)鐵電(diàn)/壓(yā)電(diàn)/熱(rè)釋(shì)電薄(báo)膜(mó)
，厚膜(mó)
，體材(cái)料和(hé)電子陶(táo)瓷
，鐵(tiě)電傳感器(qì)/執(zhí)行器(qì)/存儲器(qì)等(děng)領域(yù)的研(yán)究。

模(mó)塊化設計的(dí)HuaceFE-3000具(jù)有(yǒu)優異的擴(kuò)展(zhǎn)性(xìng)。

FE模塊(kuài)-鐵電標(biāo)準測(cè)試；

MR模塊-磁(cí)阻和鐵性材料測試(shì)；

RX模塊-弛豫(yù)電流測(cè)試；

DR模(mó)塊-自(zì)放(fàng)電(diàn)測試。
鐵(tiě)電壓電(diàn)分析儀(yí)，薄(báo)膜(mó)陶(táo)瓷測(cè)試(shì)測(cè)試(shì)基(jī)本單元
：包括內(nèi)置完整(zhěng)的專(zhuān)用(yòng)計算(suàn)機主機(jī)和測(cè)試版(bǎn)路
，運算(suàn)放(fàng)大器(qì)
，數據處(chǔ)理(lǐ)單元等，Windows 7 操作係(xì)統(tǒng)
，鐵電分析儀專用測試(shì)軟件等。

FE模(mó)塊(kuài)標準(zhǔn)測(cè)試(shì)功能
：

Dynamic Hysteresis 動態電滯(zhì)回(huí)綫測試頻(pín)率（增強型(xíng)FE模塊250kHz，高速(sù)增(zēng)強型FE模塊(kuài)1MHz）；

Static Hysterestic 靜(jìng)態電(diàn)滯(zhì)回(huí)綫測試(shì)；

PUND 脈(mài)衝測試；

Fatigue 疲勞測(cè)試；

Retention 保持(chí)力；

Imprint 印跡；

Leakage current漏(lòu)電(diàn)流測試；

Thermo Measurement 變(biàn)溫測試(shì)功能。

FE模(mó)塊可(kě)選(xuǎn)測(cè)試功能
：

C-V curve電(diàn)容(róng)-電(diàn)壓曲綫；

Piezo Measurement壓(yā)電(diàn)測試；

Pyroelectric Measurement熱釋(shì)電測(cè)試；

In-situ Compensation 原(yuán)位(wèi)補(bǔ)償；

DLCC 動態漏電(diàn)流補償功能；

Impedance Measurement 阻(zǔ)抗測試

技術說(shuō)明
：

電壓範(fàn)圍
： +/- 25 V（可選(xuǎn)的(dí)附加(jiā)高壓(yā)放(fàng)大器可擴展(zhǎn)至(zhì)+/- 10KV）；

電滯頻(pín)率
：增強型FE模塊250kHz，高速(sù)增(zēng)強(qiáng)型FE模塊(kuài)1MHz；

最小脈衝寬(kuān)度
：50ns；

最(zuì)小(xiǎo)上升時間
：10ns；

最大(dà)疲(pí)勞頻率(shuài)
：16MHz；

電流放(fàng)大範圍
：1pA～1A；

最大(dà)負(fù)荷電容(róng)
：1nF；

輸(shū)出(chū)電流(liú)峰(fēng)值(zhí)
：+/-1 A。

可(kě)擴(kuò)展(zhǎn)部件(jiàn)
：

  高(gāo)壓放大(dà)器
，激光(guāng)幹涉(shè)儀(yí)
，AFM
，溫(wēn)度(dù)控製器
，薄膜(mó)探針(zhēn)冷(lěng)熱台
，變溫塊體樣品盒
，塊(kuài)體變(biàn)溫(wēn)爐
，薄膜(mó)e31測試(shì)平(píng)台
，超導(dǎo)磁體
，PPMS
，阻抗分析儀(yí)等。

MR模塊(kuài)是用(yòng)來研究(jiū)磁(cí)阻和(hé)鐵性材料(liào)的(dí)。
此(cǐ)模塊提(tí)供(gōng)連(lián)續電流激(jī)勵和測(cè)試(shì)，樣品上的電壓降通過精度高的四點測試。

RX模塊是(shì)用來研(yán)究(jiū)介(jiè)電(diàn)體和(hé)鐵電(diàn)材料的極化和(hé)去極化(huà)電(diàn)流(liú)的，即(jí)施(shī)加電(diàn)壓(yā)階躍(yuè)後的電(diàn)流響應(yīng)。
該測(cè)試能(néng)將材(cái)料的馳豫電流和漏電(diàn)流分開(kāi)，並可(kě)記(jì)錄(lù)極化響(xiǎng)應電(diàn)流和(hé)去(qù)極化響(xiǎng)應電(diàn)流(liú)。

DR模(mó)塊(kuài)用於研究(jiū)電介質材料(liào)的(dí)自(zì)漏(lòu)電性(xìng)。

由於(yú)測試條件非常接近(jìn)實際情況(kuàng)，因(yīn)此通過這(zhè)種(zhǒng)方式可(kě)容(róng)易地(dì)測(cè)試應(yīng)用於DRAM材(cái)料(liào)的合(hé)適性(xìng)。

針(zhēn)對(duì)工業方麵的(dí)應用(yòng)，TF Analyzer 3000提供了256個(gè)自動(dòng)測試的通(tōng)道(dào)，大大擴展(zhǎn)了該儀器的(dí)測試功(gōng)能。

以(yǐ)上所有(yǒu)的(dí)模(mó)塊(kuài)可根據(jù)您的測試需(xū)求以(yǐ)及(jí)科研方向進行獨立(lì)選擇(zé)或者(zhě)任(rèn)意組合。