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簡要描(miáo)述：鐵(tiě)電材料參數分(fēn)析儀綜(zōng)合測試(shì)係(xì)統 電(diàn)滯回(huí)綫(xiàn)，廣(guǎng)泛地應用於(yú)如(rú)各種(zhǒng)鐵(tiě)電(diàn)/壓電/熱釋(shì)電(diàn)薄膜，厚(hòu)膜(mó)，塊體材(cái)料(liào)和(hé)電子陶瓷(cí)，鐵電(diàn)傳(chuán)感(gǎn)器(qì)/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的(dí)研(yán)究為一體(tǐ)的(dí)綜合(hé)測(cè)試(shì)係(xì)統。為研究(jiū)壓(yā)電陶(táo)瓷材料/鐵(tiě)電材料測(cè)試設備(bèi)。
產品(pǐn)型(xíng)號：廠(chǎng)商(shāng)性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新(xīn)時間：2024-06-04訪 問 量(liáng)：4084產品分(fēn)類(lèi)
Product Category相(xiāng)關文(wén)章(zhāng)
Related Articles詳(xiáng)細介紹(shào)
| 品牌 | 華測儀器(qì) | 產地(dì)類別 | 國(guó)產 |
|---|---|---|---|
| 重(zhòng)量 | 30kg | 應用領域(yù) | 化(huà)工(gōng),能(néng)源(yuán),電(diàn)子/電池,電(diàn)氣(qì),綜合 |
| 極(jí)化(huà)測試精(jīng)確值(zhí) | 10fC | 電(diàn)壓(yā)範(fàn)圍 | ±30V(可(kě)擴(kuò)展(zhǎn)至±4kV) |
| 輸出電流峰值 | ±1A | 鐵(tiě)電(diàn)材料(liào)漏電流(liú)的測(cè)試 | 10pA~100mA |
| 脈衝寬(kuān)度(dù)min | 25ns | 塊(kuài)體(tǐ)材料樣(yàng)品盒測(cè)試溫(wēn)度 | 室溫~1200°C電滯回(huí)綫測(cè)定 |
| 動(dòng)態電滯回綫(xiàn)測試頻率(shuài) | 0.001Hx~100kHz |
產(chǎn)品(pǐn)簡(jiǎn)介(jiè)：
本(běn)設備(bèi)即可適用(yòng)於(yú)壓電陶瓷(cí)材料(liào)居裏溫度，縱向壓電應(yīng)變(biàn)常數(shù)（靜態），強場(cháng)介電，熱釋電(diàn)係(xì)數，因(yīn)數及機電(diàn)耦(ǒu)合(hé)係(xì)數等；如增(zēng)加高(gāo)壓放大器模(mó)塊(kuài)，也可實(shí)現(xiàn)鐵電(diàn)材料的(dí)電學測(cè)試(shì)；配合高(gāo)低溫試(shì)環(huán)境(jìng)同時(shí)可以(yǐ)測量(liáng)不同環境溫度(dù)下的材(cái)料參數(shù)。該(gāi)係統(tǒng)可廣泛(fàn)地(dì)應用(yòng)於如(rú)各種(zhǒng)鐵(tiě)電/壓電(diàn)/熱釋(shì)點(diǎn)薄(báo)膜(mó)，厚(hòu)膜，塊體材料和(hé)電(diàn)子(zǐ)陶(táo)瓷(cí)，鐵電傳(chuán)感器/執行(háng)器/存儲器(qì)等領域(yù)的研究。為(wéi)一體的綜合測(cè)試係(xì)統。為(wéi)研(yán)究壓電陶瓷材料/鐵電材(cái)料(liào)的測試設備(bèi)。
產品(pǐn)優勢：
它可(kě)測(cè)壓電陶(táo)瓷居裏溫(wēn)度，靜(jìng)態(tài)壓電(diàn)常數；
測量壓(yā)電材料(liào)介電-1KHZ下的(dí)介電常數(shù)及介質損(sǔn)耗(hào)測試；
可(kě)測量(liáng)壓電材(cái)料(liào)積(jī)分(fēn)電荷(hé)法(fǎ)熱(rè)釋電(diàn)係(xì)數(shù)測(cè)試(shì)；
它可(kě)測量壓電(diàn)陶瓷(cí)的(dí)因(yīn)數(shù)及機(jī)電(diàn)耦合(hé)係數(shù)；
可選配(pèi)不(bù)同的(dí)測試(shì)裝置進(jìn)行不(bù)同環(huán)境(jìng)下(xià)的壓(yā)電陶瓷參數測(cè)試；
本儀器(qì)可配合高(gāo)壓放大(dà)器實(shí)現(xiàn)壓電(diàn)及(jí)鐵電材料的(dí)綜合(hé)測試。
技(jì)術(shù)參數：
電(diàn)壓(yā)範圍 | ±30V(可(kě)擴(kuò)展至±4kV) |
輸(shū)出電(diàn)流峰值(zhí) | ±1A |
負荷(hé)電容max | 1μF |
動態電滯回(huí)綫測(cè)試頻率(shuài) | 0.001Hx~100kHz |
鐵(tiě)電材料漏電流(liú)的(dí)測(cè)試 | 10pA~100mA |
脈衝寬度(dù)min | 25ns |
上(shàng)升(shēng)時間(jiān) | 7ns |
極(jí)化(huà)測(cè)試精確(què)值(zhí) | 10fC |
塊體材(cái)料(liào)樣(yàng)品盒測試(shì)溫(wēn)度 | 室溫(wēn)~1200°C電滯(zhì)回綫測(cè)定(dìng) |
技(jì)術(shù)說明：
電壓範圍： +/- 25 V（可選的(dí)附加高壓(yā)放大(dà)器可(kě)擴展(zhǎn)至+/- 10KV）；
電(diàn)滯(zhì)頻率(shuài)：增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速(sù)增強型FE模(mó)塊1MHz；
脈衝寬度：50ns；
上升時(shí)間(jiān)min：10ns；
疲勞(láo)頻率max：16MHz；
電流放大範(fàn)圍：1pA～1A；
負荷電容(róng)max：1nF；
輸出電流(liú)峰值：+/-1 A。
壓電(diàn)常(cháng)數測試原(yuán)理：
1，5—加壓(yā)裝置絕(jué)緣座 2，4—加壓(yā)裝置(zhì)引(yǐn)出電極(jí)
3—試樣 C—並(bìng)聯電容器(qì)
K—短(duǎn)路開(kāi)關(guān) 6—靜電計(jì)
熱釋電係數測試原(yuán)理:
1，冰點(diǎn) 2，熱電(diàn)偶 3，屏蔽溫度室 4，試樣(yàng) 5，絕緣(yuán)保溫(wēn)層
6，積(jī)分(fēn)電容 7，靜(jìng)電(diàn)計 8，函(hán)數(shù)分析(xī)儀(yí) 9，加(jiā)熱器(qì) 10，絕(jué)緣(yuán)支架
使(shǐ)用(yòng)介(jiè)麵：
多語(yǔ)介(jiè)麵：支(zhī)持中文(wén)/英(yīng)文(wén)兩種語(yǔ)言(yán)界麵；
即(jí)時監(jiān)控：係(xì)統(tǒng)測(cè)試狀(zhuàng)態即時(shí)瀏覽，無(wú)須(xū)等待(dài)；
圖例(lì)管(guǎn)理(lǐ)：通(tōng)過(guò)軟(ruǎn)件中(zhōng)的狀態(tài)圖(tú)示，一(yī)目(mù)了(liǎo)然，立(lì)即對(duì)狀(zhuàng)態(tài)說明(míng)，了解(jiě)測試狀(zhuàng)態(tài)；
使用(yòng)權限(xiàn)：可設(shè)定使用者的(dí)權(quán)限，方便(biàn)管理；
故障(zhàng)狀(zhuàng)態(tài)：軟(ruǎn)件具(jù)有(yǒu)設(shè)備(bèi)的故障報(bào)警(jǐng)功(gōng)能。
集(jí)成(chéng)Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙核處理(lǐ)器(qì)
集成(chéng)打機印(yìn)接口(kǒu)，可(kě)擴充(chōng)8個USB接(jiē)口(kǒu)
支(zhī)持(chí)16G內存，60G固態硬盤，讓係統運行(háng)流暢。
鐵(tiě)電材料參(cān)數分析儀綜合(hé)測試(shì)係統(tǒng) 電滯(zhì)回(huí)綫
鐵電(diàn)材(cái)料(liào)參(cān)數分析(xī)儀綜合測(cè)試(shì)係統(tǒng) 電滯回(huí)綫
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