華測(cè)變(biàn)溫鐵電測(cè)試(shì)盒/鐵電(diàn)分析儀(yí)/電(diàn)滯(zhì)回綫

高(gāo)溫測量鐵(tiě)電參數測試儀

華測高(gāo)溫(wēn)測(cè)量(liáng)鐵電參數(shù)測試(shì)儀(yí) 電滯(zhì)回(huí)綫(xiàn)產(chǎn)品介(jiè)紹
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本測試(shì)係(xì)統(tǒng)采用虛地模式(shì)測(cè)量(liáng)電(diàn)路，與(yǔ)傳統(tǒng)的(dí)Sawyer-Tower模式(shì)相比，此(cǐ)電路取(qǔ)消了外接(jiē)電容，可(kě)減(jiǎn)小寄生元件(jiàn)的(dí)影響。此電路的測(cè)試精度(dù)僅(jǐn)取決於(yú)積分(fēn)器(qì)積分(fēn)電(diàn)容的精(jīng)度，減(jiǎn)少了(liǎo)對測試的影響環節，比較容(róng)易定標和(hé)，並(bìng)且能實現較(jiào)高的測量，它不僅能畫出鐵電(diàn)薄膜的(dí)電(diàn)滯回綫，還(huán)可以定(dìng)量得(dé)到(dào)鐵電(diàn)薄膜材料的飽和化(huà)ps，剩(shèng)餘化(huà)Pr，矯頑(wán)場Ec，漏電流Ik等參(cān)數(shù)，以(yǐ)及(jí)對(duì)鐵(tiě)電薄膜材料(liào)鐵電(diàn)疲勞，鐵(tiě)電保持(chí)的測(cè)試。能夠(gòu)測量鐵(tiě)電薄(báo)膜(mó)的鐵電(diàn)。儀(yí)器(qì)采用一體化設計(jì)，實現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全(quán)數字化，操(cāo)作(zuò)簡單方便(biàn)。

軟(ruǎn)件功能
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HC5000係列測(cè)試(shì)係統的(dí)軟件平台hacepro,采(cǎi)用labview係(xì)統開(kāi)發，符合導(dǎo)體，半導體(tǐ)材(cái)料的(dí)各(gè)項(xiàng)測試(shì)需(xū)求(qiú)，具(jù)備(bèi)穩定性與性(xìng)，並具備斷電(diàn)資(zī)料的(dí)保(bǎo)存(cún)功(gōng)能，圖(tú)像(xiàng)資料(liào)可(kě)保(bǎo)存(cún)恢復。兼容(róng)，XP，win7，win10係(xì)統(tǒng)。

友善的(dí)使(shǐ)用界麵(miàn)

多語界麵
：支持中文/英文 兩種(zhǒng)語(yǔ)言界麵
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即(jí)時監控
：係統(tǒng)測試狀態即(jí)時瀏覽(lǎn)，無需(xū)等待
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圖例(lì)管(guǎn)理
：通過軟(ruǎn)件中的狀態(tài)圖(tú)示(shì)，一目(mù)了(liǎo)然，立即(jí)對狀(zhuàng)態(tài)說(shuō)明(míng)，了(liǎo)解測試狀(zhuàng)態(tài)
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使用(yòng)權(quán)限
：可設(shè)定使(shǐ)用者(zhě)的權限，方(fāng)便管理
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故障狀態
：軟件具有設備的故障(zhàng)報警功能(néng)。

優點
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可測(cè)量壓電(diàn)陶瓷(cí)居(jū)裏溫(wēn)度，靜(jìng)態壓(yā)電常數(shù)
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測(cè)量(liáng)壓(yā)電(diàn)材料介電(diàn)-1KHZ下的(dí)介電常數及介質損耗測試
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可(kě)測量壓電材料(liào)積分電荷法熱釋電(diàn)係數(shù)測試(shì)

它(tā)可測量(liáng)壓電(diàn)陶瓷(cí)的因數及機(jī)電(diàn)耦合係(xì)數(shù)

可(kě)選(xuǎn)配不同(tóng)的測(cè)試(shì)裝置(zhì)進行不同(tóng)環境下的(dí)壓電(diàn)陶瓷(cí)參(cān)數測(cè)試        

本(běn)儀器可配合高(gāo)壓(yā)放大器實現壓電(diàn)及鐵(tiě)電材(cái)料(liào)的(dí)綜合測

壓電(diàn)常數(shù)測試(shì)原理
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熱釋電(diàn)係數測試(shì)原(yuán)理
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