鐵(tiě)電(diàn)分析儀(yí)/可搭載(zǎi)高壓(yā)放(fàng)大器(qì)高低溫探針台(tái)

Huace FE-3000

   鐵(tiě)電分析儀/可搭載(zǎi)高(gāo)壓放大器高(gāo)低(dī)溫探(tàn)針台產品介紹(shào)：

Huace FE係(xì)列鐵(tiě)電測(cè)試(shì)係統是目前市場(cháng)上較(jiào)xianjin的設備(bèi)，有著寬頻率響(xiǎng)應範圍及寬測(cè)試電壓(yā)範圍並且(qiě)在(zài)世界鐵電測試(shì)領(lǐng)域高測試精度能(néng)力shouquyizhi。在(zài)內置(zhì)±10V電壓下(xià)，電滯回(huí)綫測試頻率可(kě)高達500KHz；此係(xì)統包含HuacePro基本(běn)鐵電(diàn)管理(lǐ)測(cè)試(shì)軟件。

 儀器配(pèi)置(zhì)：

Huace FE係(xì)列鐵電(diàn)測試係統在±500V內置(zhì)電壓下(xià)，電滯(zhì)回綫測(cè)試頻率(shuài)可高達(dá)500KHz；此外還(huán)可外部擴展(zhǎn)電(diàn)壓(yā)到(dào)4kV
，10kV
，20kV，Huace FE主機在(zài)不改變樣(yàng)品(pǐn)連接(jiē)的情況(kuàng)下(xià)可(kě)執(zhí)行電滯回綫，脈(mài)衝(chōng)，漏(lòu)電(diàn)流(liú)，IV
，CV
，擊穿測(cè)試，也(yě)可加(jiā)載選件實現壓電
，熱釋電
，TSDC和(hé)電卡(qiǎ)
，阻抗分析
，電(diàn)阻(zǔ)測(cè)量(liáng)等特(tè)性測試(shì)功能(néng)。內(nèi)置完(wán)整的專(zhuān)用工(gōng)控計(jì)算(suàn)機(jī)主機(jī)
，測試(shì)版路(lù)
，運算放(fàng)大器
，數(shù)據處理單(dān)元(yuán)等(děng)，包(bāo)括專用工(gōng)控計算(suàn)機主(zhǔ)板
，CPU(i5 或以上(shàng))
，RAM(8G 或以(yǐ)上)
，固(gù)態硬盤(pán)(250G 或以(yǐ)上)
，網卡(qiǎ)
，USB 接(jiē)口(kǒu)
， VGA 接(jiē)口(kǒu)
，預裝(zhuāng) Windows 7操(cāo)作係統
，鐵電專(zhuān)用測試(shì)軟件(jiàn)等。

可擴展部件：

可(kě)與高(gāo)低溫(wēn)冷(lěng)熱台
，高(gāo)溫測(cè)試裝置(zhì)
，探針(zhēn)台
，高壓(yā)放大器(qì)
，高阻計
，阻(zǔ)抗(kàng)分(fēn)析儀
， 激光幹涉儀
，溫控控製器
，數字源(yuán)表等(děng)擴展。

Ø 塊(kuài)體(tǐ)測(cè)試夾具：用於(yú)厚膜
，塊體鐵(tiě)電
，擊穿測試(shì)可擴展(zhǎn)變(biàn)溫(wēn)功能(néng)。

Ø 薄膜四探針(zhēn)探(tàn)針台(tái)：室(shì)溫到(dào) 250℃可(kě)用於(yú)厚(hòu)膜(mó)鐵(tiě)電(diàn)
，壓(yā)電(diàn)（e31）
，熱釋電測試(shì)。

Ø 薄(báo)膜寬溫區探針冷熱(rè)台：-196℃到(dào)+600℃可(kě)用於(yú)薄(báo)膜和(hé)厚膜變(biàn)溫(wēn)的鐵(tiě)電和熱釋電測試(shì)。

Ø 薄膜探針(zhēn)台（國產(chǎn)）：室(shì)溫鐵電(diàn)測試可用於薄膜(mó)和(hé)厚膜室溫(wēn)鐵電(diàn)性能測試(shì)。

  技(jì)術(shù)參數：

Ø內置(zhì)電(diàn)壓(yā) (可外(wài)接高壓放大(dà)器(qì)) ：±10V （可(kě)外(wài)接(jiē)不(bù)同型號(hào)放大器(qì)）

Ø可(kě)外接高壓(yā)放(fàng)大(dà)器 （最大可(kě)外接20KV高(gāo)壓放(fàng)大器(qì)需配(pèi)置高壓防(fáng)護模(mó)塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV

ØADC位數(shù)：18位(wèi)

Øzui小電(diàn)荷分(fēn)辨(biàn)率：<10fC

Øzui大電荷(hé)分(fēn)辨(biàn)率：27.6mC

Øzui小麵(miàn)積分(fēn)辨率(shuài)：<1μ²

Øzui大麵積分辨(biàn)率：＞100cm²

Øzui大(dà)電滯回(huí)綫(xiàn)測(cè)試(shì)頻(pín)率：270KHz @10V

Øzuidi測試頻(pín)率：0.03Hz

Øzui小脈(mài)衝寬度 (此項指標(biāo)優(yōu)於進(jìn)口設(shè)備) ：0.5us

Øzui小脈衝(chōng)上(shàng)升時間(5V)(此項指(zhǐ)標優(yōu)於進(jìn)口(kǒu)設備)：400ns

Øzui大脈(mài)衝(chōng)寬度：1s

Ø脈(mài)衝間(jiān)最大延(yán)遲(chí)時間：40ks

Ø內(nèi)部時(shí)鐘(zhōng)：25ns

Øzui小(xiǎo)的(dí)泄(xiè)漏電流 ：<1pA

Øzui大小信(xìn)號(hào)上限頻率 (此項(xiàng)指(zhǐ)標(biāo)優(yōu)於(yú)進口設(shè)備)：1MHz

Øzui小(xiǎo)小信號上限頻(pín)率 (此(cǐ)項(xiàng)指標優(yōu)於進口(kǒu)設備(bèi))：1MHz

Ø輸出(chū)上升時間控製：10³ scaling

Ø輸入(rù)電容：~60fF

Ø阻抗(kàng)輸入(rù)：Yes

鐵(tiě)電係統主(zhǔ)機(jī)優勢(shì)在於他易於擴展
，實用性，軟件(jiàn)係(xì)統兼容目前主流(liú)品(pǐn)牌，軟(ruǎn)件(jiàn)無(wú)縫切換(huàn)。為(wéi)用戶(hù)降低成本。

█ 介(jiè)電測試分(fēn)析模塊(kuài)

█ 熱(rè)激(jī)發(fā)極化電流(liú)測試TSDC

█ 擊穿(chuān)電(diàn)壓(yā)測(cè)試

█ 高壓極(jí)化(huà)

█ 絕緣電(diàn)阻測試

█ 四探針測試

█ 壓電性(xìng)能(néng)測試(shì)

█ 鐵電參數(shù)測(cè)試

█ 熱(rè)釋(shì)電性能(néng)測(cè)試

█ 居裏溫(wēn)度測(cè)試(shì)