HCCS-4探(tàn)針(zhēn)台測試儀(yí)

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HCCS-4探針台測試儀由華測(cè)儀器(qì)生(shēng)產，是為材料電學表(biǎo)征(zhēng)與器件測(cè)試研(yán)發的(dí)一(yī)款輕量(liáng)化手動(dòng)探(tàn)針台(tái)係統，該(gāi)設(shè)備作為(wéi)一(yī)種輔(fǔ)助執行機(jī)構，主(zhǔ)要用於協助(zhù)測(cè)試(shì)人員(yuán)實(shí)現對(duì)微(wēi)小器件或(huò)材(cái)料樣品的(dí)電(diàn)學(xué)連(lián)接，從而完(wán)成電性(xìng)能(néng)參(cān)數的測(cè)量(liáng)
。

基本(běn)工作原理(lǐ)
：測(cè)試人(rén)員(yuán)將待(dài)測(cè)器(qì)件置於探針台載(zǎi)物台（Chuck）上，在顯微鏡(jìng)觀測(cè)下通過X-Y方(fāng)向(xiàng)移動(dòng)樣(yàng)品(pǐn)台，定(dìng)位待(dài)測區域
。隨(suí)後，通(tōng)過(guò)旋(xuán)轉探針座(zuò)上的X-Y-Z三(sān)軸調(tiáo)節(jié)旋鈕，控製前部(bù)探針(zhēn)（直(zhí)流或(huò)射(shè)頻(pín)探針）紮觸(chù)至(zhì)被測(cè)電極點(diǎn)，使(shǐ)器件信號(hào)綫通過(guò)探(tàn)針與外部測試機(jī)（如(rú)源表，LCR表，半導體(tǐ)參(cān)數分(fēn)析儀等(děng)）形成導(dǎo)通回路(lù)，進(jìn)而(ér)獲(huò)取所(suǒ)需的電性能參數
。

產(chǎn)品(pǐn)特點

多(duō)場景測試(shì)兼容
：滿足I-V/C-V特性(xìng)測試(shì)，PIV測試(shì)，光電響應(yīng)測試等(děng)多種(zhǒng)應(yīng)用需求

大(dà)尺寸(cùn)樣品支(zhī)持
：可用於(yú)6英(yīng)寸(cùn)及(jí)以下規格樣品的測(cè)試

準度傳動(dòng)
：采(cǎi)用同軸(zhóu)絲(sī)杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，確保(bǎo)探針(zhēn)移動(dòng)平穩(wěn)綫性

環(huán)境(jìng)適(shì)應性(xìng)
：結構輕巧(qiǎo)，可(kě)放置(zhì)於手套箱內使用(yòng)，滿足多(duō)種(zhǒng)氣氛環境(jìng)測(cè)試(shì)需求

操作(zuò)便(biàn)捷(jié)性
：人(rén)體工學設(shè)計，旋鈕(niǔ)操(cāo)作(zuò)順手(shǒu)，學習(xí)成本(běn)低

應(yīng)用(yòng)領域

半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)器(qì)件測試
：二(èr)極(jí)管，晶體(tǐ)管(guǎn)等基礎(chǔ)器件電學(xué)表征

材(cái)料科(kē)學(xué)研究(jiū)
：二(èr)維材(cái)料，鈣鈦(tài)礦(kuàng)，半(bàn)導體等新材料電性能研(yán)究

光(guāng)電(diàn)測(cè)試
：光(guāng)電(diàn)探測(cè)器，太陽(yáng)能(néng)電池(chí)的(dí)光電(diàn)響(xiǎng)應(yīng)特(tè)性測量(liáng)

失(shī)效(xiào)分(fēn)析(xī)
：電(diàn)子元(yuán)器(qì)件故(gù)障定位與原因分析

教(jiào)學實驗
：高(gāo)校微(wēi)電子(zǐ)，物理，材料試(shì)驗教(jiào)學