高(gāo)溫四(sì)探(tàn)針測試儀(yí)采(cǎi)用(yòng)四探(tàn)針(zhēn)雙(shuāng)電測量方(fāng)法(fǎ)，適(shì)用於生(shēng)產(chǎn)企業(yè)，高(gāo)等院校(xiào)，科(kē)研部門，是檢驗和分(fēn)析導(dǎo)體(tǐ)材料和(hé)半導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料在(zài)高(gāo)溫，真空(kōng)及氣氛條(tiáo)件(jiàn)下(xià)測量的(dí)一種重(zhòng)要的(dí)工(gōng)具。本儀(yí)器配置各(gè)類(lèi)測量(liáng)裝置(zhì)可以測試(shì)不(bù)同(tóng)材料。液晶顯(xiǎn)示(shì)，無(wú)需人工(gōng)計算(suàn)，並帶有(yǒu)溫(wēn)度補償功(gōng)能(néng)。
是為了(liǎo)滿足材(cái)料(liào)在高(gāo)溫環境(jìng)下的阻(zǔ)抗(kàng)特性測量需求而設計(jì)的。它由硬(yìng)件設(shè)備(bèi)和(hé)測量軟(ruǎn)件(jiàn)組成(chéng)，包(bāo)括高溫(wēn)測試平(píng)台，高溫四(sì)探針夾具，電阻(zǔ)率(shuài)測(cè)試(shì)儀和高溫電阻率測(cè)量係統軟(ruǎn)件四個組(zǔ)成(chéng)部(bù)分(fēn)。
測試(shì)應用範(fàn)圍
高溫(wēn)四探針(zhēn)測(cè)試儀是(shì)運(yùn)用四探針測量(liáng)原(yuán)理(lǐ)測試電(diàn)阻率/方(fāng)阻的多用(yòng)途綜合(hé)測量儀器(qì)。根據不(bù)同材料(liào)特性需要，配(pèi)有(yǒu)多(duō)款(kuǎn)測試探頭：
1）高耐磨碳(tàn)化鎢(wū)探針探頭，測(cè)量矽類半(bàn)導體，金屬，導(dǎo)電(diàn)塑料類等硬質材(cái)料的電阻(zǔ)率(shuài)/方阻；
2）球形(xíng)鍍金銅合金(jīn)探針探頭(tóu)，測(cè)量(liáng)柔性(xìng)材料導電薄膜，金屬塗層或薄(báo)膜(mó)，陶瓷(cí)或(huò)玻(bō)璃等(děng)基底上導電(diàn)膜（ITO膜(mó)）或(huò)納米塗(tú)層(céng)等(děng)半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料的電阻(zǔ)率(shuài)/方阻；
3）配合四端子測(cè)試(shì)夾具(jù)，測量(liáng)電阻器體(tǐ)電阻，金屬導(dǎo)體(tǐ)的低(dī)，中(zhōng)值(zhí)電阻(zǔ)以(yǐ)及開關(guān)類(lèi)接(jiē)觸電(diàn)阻(zǔ)；
4）高溫四探針(zhēn)測試(shì)儀(yí)探頭可(kě)測試(shì)電池極片等箔(bó)上(shàng)塗(tú)層電阻率(shuài)/方阻。
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