綜(zōng)合(hé)熱分(fēn)析(xī)儀主要是測量熱物性(xìng)值中(zhōng)熱滲(shèn)透率的一(yī)種設備(bèi),可以(yǐ)進行微小(xiǎo)領域(yù)(微(wēi)米(mǐ)等級(jí)),納(nà)米(mǐ)薄膜,Sic(單晶(jīng)體,多晶(jīng)體),AIN等的(dí)測量。熱分析(xī)儀檢(jiǎn)測設備利用激(jī)光(guāng)對(duì)樣品進行調(tiáo)製(zhì)循(xún)環加熱,通過紅(hóng)外綫放射量的變化(huà),將(jiāng)樣品(pǐn)內部異常(cháng)部(bù)分的檢(jiǎn)測或不均匀(yún)性(xìng)的熱(rè)特性可(kě)視化。內載(zǎi)紅(hóng)外宏觀光(guāng)學係照(zhào)相(xiāng)機,可(kě)高(gāo)倍(bèi)率觀察。並(bìng)且(qiě),使用樣品加熱(rè)器(qì)的熱傳(chuán)播(bō)檢查和簡易溫(wēn)度測(cè)量(liáng)都可以進(jìn)行。
綜合(hé)熱(rè)分析儀的(dí)原(yuán)理(lǐ):
消(xiāo)除稱(chēng)重量(liáng),樣品均匀(yún)性,升(shēng)溫(wēn)速率一致性(xìng),氣氛壓力與(yǔ)流(liú)量差(chà)異等(děng)因(yīn)素影響(xiǎng),TG與(yǔ)DTA/DSC曲綫對(duì)應性(xìng)佳。根據(jù)某一(yī)熱(rè)效(xiào)應是否對(duì)應(yīng)質量變(biàn)化(huà),有(yǒu)助於(yú)判別該(gāi)熱(rè)效應所對應(yīng)的(dí)物化過程(chéng)(如(rú)區分熔(róng)融(róng)峰(fēng),結晶(jīng)峰(fēng),相變峰(fēng)與分(fēn)解峰,氧化峰等)。在反(fǎn)應(yīng)溫度處知道(dào)樣(yàng)品(pǐn)的當(dāng)前實(shí)際(jì)質量(liáng),有利(lì)於(yú)反(fǎn)應熱(rè)焓的準確(què)計算。
產(chǎn)品(pǐn)不(bù)僅(jǐn)波(bō)長(cháng)連續(xù)自(zì)動可調(tiáo),而且精(jīng)度(dù)大幅提(tí)高,從傳統元素分析(xī)儀的波長誤差一般20nm(±5nm)提高到(dào)現在的(dí)3nm,因而(ér)可(kě)以(yǐ)使產品在(zài)擴大應用範(fàn)圍的同時,提(tí)高分(fēn)析檢測的準確度。可檢測(cè)普(pǔ)碳鋼,低合金鋼,高(gāo)合金鋼(gāng),生鑄鐵,球鐵(tiě),合(hé)金鑄(zhù)鐵(tiě)等(děng)多種材料中的Si,Mn,P,Cr,Ni,Mo,Cu,Ti等(děng)多(duō)種元(yuán)素。每個(gè)元素可儲存(cún)99條工(gōng)作曲(qū)綫,品牌(pái)電腦(nǎo)微(wēi)機控(kòng)製,全中(zhōng)文菜單(dān)式操(cāo)作。可(kě)以滿(mǎn)足(zú)冶金,機械(xiè),化(huà)工等行業在爐前,成品(pǐn),來料化(huà)驗等方麵(miàn)對(duì)材(cái)料(liào)多(duō)元素分(fēn)析的需要(yào)。
綜合(hé)熱分(fēn)析(xī)儀檢(jiǎn)測設(shè)備特(tè)點(diǎn)
1,熱分(fēn)析儀熱(rè)物理性(xìng)顯(xiǎn)微(wēi)鏡是(shì)測(cè)量(liáng)熱(rè)物(wù)性值中熱滲透率的一(yī)種(zhǒng)設(shè)備;
2,熱分析儀檢(jiǎn)測設備可(kě)以通(tōng)過(guò)點,綫(xiàn),麵測量樣品的熱物性(xìng);
3,該設備(bèi)可以測量以往難以(yǐ)測(cè)量的微米(mǐ)等(děng)級的(dí)熱物性值的分(fēn)布;
4,非接(jiē)觸方(fāng)式且高分辨(biàn)率的熱物(wù)性測(cè)量設備;
5,檢測光spot直徑3μm,高(gāo)分(fēn)辨(biàn)率來測量(liáng)微小領(lǐng)域(yù)的熱物性(點,綫,麵(miàn) 測量);
6,因為(wéi)可(kě)改(gǎi)變(biàn)深度範圍來測(cè)量,所(suǒ)以從(cóng)薄(báo)膜,多層(céng)膜(mó)到散裝(zhuāng)材料(liào)都(dū)可測(cè)量(liáng);
7, 基板上的樣(yàng)品也可測(cè)量(liáng);
8, 熱(rè)分析儀(yí)激(jī)光(guāng)非接(jiē)觸(chù)式測(cè)量(liáng);
9,可檢(jiǎn)測薄膜下(xià)的(dí)裂(liè)紋,孔(kǒng)隙,脫落(là)等(děng)問題。