工(gōng)頻介電(diàn)常數(shù)測試儀的(dí)功(gōng)能及特點

北京(jīng)華測試驗儀器有限公(gōng)司LCR數(shù)字電(diàn)橋(qiáo)具體功(gōng)能數(shù)字電橋(qiáo)就(jiù)是(shì)能夠(gòu)測(cè)量(liáng)電感，電容，電阻，阻(zǔ)抗的儀(yí)器，這是(shì)一個傳(chuán)統(tǒng)習(xí)慣的說法，zui早的(dí)阻抗測量用的是真正(zhèng)的(dí)電(diàn)橋(qiáo)方法，隨著現(xiàn)代模(mó)擬和數字(zì)技術的發(fā)展，早已經淘(táo)汰(tài)了(liǎo)這種測(cè)量方(fāng)法(fǎ)，但LCR電(diàn)橋的叫法(fǎ)一(yī)直沿(yán)用至今。如果是使(shǐ)用(yòng)了(liǎo)微處理器(qì)的(dí)LCR電(diàn)橋(qiáo)則(zé)叫(jiào)LCR數字電(diàn)橋(qiáo)。一般用戶(hù)又稱(chēng)這(zhè)些(xiē)為：LCR測試(shì)儀，LCR電(diàn)橋(qiáo)，LCR表，LCRMeter等等。可以測量(liáng)大量電子元件：廣泛(fàn)的(dí)測(cè)量對(duì)象半(bàn)導體(tǐ)元件(jiàn)：電容器，電感(gǎn)器(qì)，磁芯(xīn)，電阻器，變壓(yā)器(qì)，芯片組(zǔ)件和網絡元(yuán)件(jiàn)等(děng)的阻抗參數測量(liáng)。其它(tā)元件：印製(zhì)電(diàn)路(lù)板，繼(jì)電器(qì)，開關，電(diàn)纜，電(diàn)池(chí)等的阻(zǔ)抗評(píng)估。介(jiè)質(zhì)材料(liào)：塑(sù)料(liào)，陶(táo)瓷和(hé)其它材(cái)料(liào)的(dí)介(jiè)電常數的損(sǔn)耗角評估(gū)。磁性材料(liào)：鐵(tiě)氧體，非(fēi)晶(jīng)體(tǐ)和其它(tā)磁(cí)性材料的導(dǎo)磁率(shuài)和(hé)損耗角評(píng)估(gū)。半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料：半導體(tǐ)材料(liào)的介電常(cháng)數(shù),導電率(shuài)和C-V特性。液晶(jīng)材料：液晶單(dān)元的(dí)介電子常數(shù)，彈(dàn)性常數(shù)等C-V特性(xìng)。多種(zhǒng)元件，材(cái)料(liào)特(tè)性測量能力(lì)多參(cān)數(shù)混合顯(xiǎn)示(shì)功(gōng)能多(duō)參數(shù)同時顯示可滿足(zú)復雜元件各(gè)種分布(bù)參數的(dí)觀察與評(píng)估要求，而不必反(fǎn)復切換測(cè)量參(cān)數。電感L和其(qí)直流電(diàn)阻DCR可以(yǐ)同時測量顯示，顯著(zhù)提(tí)高電(diàn)感測(cè)量效(xiào)率。揭示電感(gǎn)器件的多種特(tè)性使用(yòng)內部/外部直(zhí)流偏置(zhì)，結合(hé)各種掃(sǎo)描測(cè)試功能(néng)，可以地分析磁性材料(liào)，電(diàn)感器(qì)件的。通(tōng)過(guò)偏(piān)置電(diàn)流(liú)疊加(jiā)測試功能(néng)，可以(yǐ)測(cè)量高(gāo)頻電(diàn)感器件，通(tōng)訊變壓器，濾(lǜ)波(bō)器的(dí)小(xiǎo)電流疊(dié)加。使(shǐ)用(yòng)外(wài)部(bù)電(diàn)流疊(dié)加(jiā)裝置(zhì)，可使(shǐ)偏(piān)置電(diàn)流(liú)達40A以(yǐ)分(fēn)析(xī)高功率(shuài)，大電(diàn)流電感(gǎn)器(qì)件(jiàn)。的(dí)陶瓷電(diàn)容測(cè)量1kHz和(hé)1MHz是陶(táo)瓷(cí)材(cái)料(liào)和(hé)電(diàn)容(róng)器的主(zhǔ)要(yào)測(cè)試(shì)頻(pín)率。陶(táo)瓷(cí)電(diàn)容器(qì)具(jù)有低(dī)損耗值的特(tè)征(zhēng)，同(tóng)時其容量(liáng)，損耗施加(jiā)之交流(liú)信(xìn)號會(huì)產(chǎn)生明顯(xiǎn)的變化。儀器具有寬頻測(cè)試能(néng)力(lì)並(bìng)可提(tí)供良好(hǎo)的(dí)準確度(dù)，六位(wèi)分辨(biàn)率(shuài)和自(zì)動(dòng)電(diàn)平(píng)控(kòng)製(zhì)（ALC）功能等，中(zhōng)以(yǐ)滿足(zú)陶(táo)瓷材料和(hé)電容(róng)器可(kě)靠，測試(shì)需(xū)要(yào)。液晶(jīng)單元的電(diàn)容特性(xìng)測量(liáng)電容(róng)－電(diàn)壓（C－Vac)特(tè)性是評價液(yè)晶(jīng)材料(liào)的主(zhǔ)要方(fāng)法，常規儀器測量(liáng)液(yè)晶單元(yuán)的C－Vac特性遇(yù)到一個問(wèn)題是zui大測試(shì)電(diàn)壓不夠(gòu)。使用擴(kuò)展(zhǎn)測(cè)量(liáng)選件可(kě)提(tí)供分(fēn)辨率(shuài)為1%及zui高達20Vms的(dí)可(kě)編程(chéng)測試(shì)信號電平，使它能在(zài)*條件下進(jìn)行液晶(jīng)材(cái)料的電(diàn)容(róng)特性(xìng)測量。半導體材料和(hé)元件的(dí)測(cè)量進(jìn)行MOS型半導體(tǐ)製(zhì)造(zào)工藝評(píng)價時，需要氧(yǎng)化層(céng)電(diàn)容(róng)和(hé)襯(chèn)底(dǐ)雜(zá)質(zhì)密(mì)度這(zhè)些(xiē)參(cān)數(shù)，這些可從C－Vdc特(tè)性(xìng)的測量結(jié)果推導(dǎo)出來(lái)。通(tōng)過提供(gōng)的(dí)直流(liú)源，結合各種掃描功能，可(kě)以方便地完(wán)成(chéng)C-VDC特性的測量。為(wéi)了測試(shì)晶圓(yuán)上(shàng)的(dí)半(bàn)導(dǎo)體器件，需要延(yán)伸(shēn)電纜和探(tàn)頭，儀器的1m/2m/4m延(yán)伸(shēn)電(diàn)纜選(xuǎn)件可將(jiāng)電(diàn)纜延(yán)伸(shēn)的(dí)誤差(chà)降至(zhì)zui小。各(gè)種(zhǒng)二極管(guǎn)，三極(jí)管，MOS管的(dí)分(fēn)布電容(róng)也是本(běn)儀(yí)器的(dí)測(cè)試內(nèi)容(róng)。

特點(diǎn)：

■ 4.3寸(cùn)TFT液晶(jīng)顯(xiǎn)示(shì)

■ 中(zhōng)英文可選操作(zuò)界麵(miàn)

■ zui高(gāo)1MHz的測試頻(pín)率，10mHz分(fēn)辨(biàn)率

■ 變壓器參數(shù)測(cè)試功(gōng)能

■ zui高測(cè)試(shì)速度(dù):13ms/次

■ 電(diàn)壓(yā)或電流的(dí)自動(dòng)電(diàn)平調(tiáo)整(zhěng)（ALC）功能(néng)

■ V，I 測試(shì)信(xìn)號(hào)電平監視功能(néng)

■ 內部自(zì)帶直(zhí)流偏(piān)置源(yuán)

■ 可外接大(dà)電(diàn)流(liú)直(zhí)流偏(piān)置(zhì)源(yuán)

■ 201點列表掃描測(cè)試功能

■ 30Ω，50Ω，100Ω可(kě)選內(nèi)阻

■ 內(nèi)建(jiàn)比(bǐ)較器，10檔(dàng)分選(xuǎn)和計數功能

■ 內(nèi)部文件存(cún)儲和(hé)外部(bù)U盤文(wén)件保存(cún)

■ 測量數據(jù)可直接保存(cún)到(dào)U盤

■ RS232C， USB ，LAN，HANDLER，GPIB，DCI接(jiē)口