高(gāo)溫測(cè)量鐵電參(cān)數測(cè)試(shì)儀本測(cè)試(shì)係統(tǒng)采(cǎi)用(yòng)虛(xū)地(dì)模(mó)式(shì)測(cè)量(liáng)電路(lù)，與傳(chuán)統的Sawyer-Tower模式相(xiāng)比，此(cǐ)電(diàn)路取(qǔ)消了外接電容(róng)，可減小(xiǎo)寄(jì)生(shēng)元件的影(yǐng)響。此電路(lù)的測試(shì)精度僅取決(jué)於積分器積(jī)分(fēn)電(diàn)容(róng)的(dí)精(jīng)度，減少了(liǎo)對(duì)測(cè)試(shì)的影(yǐng)響環節，比較(jiào)容(róng)易定標和(hé)，並且(qiě)能實(shí)現(xiàn)較高的測量，它不(bù)僅能(néng)畫出(chū)鐵電薄(báo)膜的電滯回(huí)綫，還(huán)可以(yǐ)定(dìng)量(liáng)得(dé)到(dào)鐵(tiě)電薄膜材料(liào)的飽和化(huà)ps，剩餘化(huà)Pr，矯(jiǎo)頑場Ec，漏電流(liú)Ik等(děng)參(cān)數(shù)，以及對鐵電(diàn)薄(báo)膜(mó)材(cái)料鐵電(diàn)疲勞(láo)，鐵(tiě)電保(bǎo)持的測(cè)試(shì)。能夠測量(liáng)鐵(tiě)電薄(báo)膜(mó)的(dí)鐵電(diàn)。儀器(qì)采用(yòng)一體(tǐ)化(huà)設計(jì)，實現測試結果(guǒ)全數字化(huà)，操作簡(jiǎn)單方(fāng)便(biàn)。