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儲能(néng)電介(jiè)質(zhì)充放電測(cè)試係統 Huace-DCS10KV
產品介(jiè)紹:
Huace-DCS10KV電(diàn)介質(zhì)充(chōng)放電(diàn)測試係統主(zhǔ)要(yào)用(yòng)於研究介電(diàn)儲能(néng)材(cái)料高電壓放(fàng)電性能(néng)。目前(qián)常規的(dí)方法(fǎ)是通過(guò)電滯回(huí)綫計算(suàn)高壓下電(diàn)介(jiè)質(zhì)的(dí)能量密度(dù),測試(shì)時(shí),樣(yàng)品(pǐn)的電荷(hé)是放(fàng)回到(dào)高(gāo)壓源上,而不是釋放到(dào)負載(zǎi)上,通過電(diàn)滯回綫(xiàn)測(cè)得的儲能(néng)密(mì)度(dù)一(yī)般(bān)會(huì)大(dà)於樣品實際釋(shì)放(fàng)的能量(liáng)密(mì)度,無法(fǎ)正(zhèng)確(què)評估(gū)電(diàn)介(jiè)質材料的正常放(fàng)電性能。華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電(diàn)介(jiè)質(zhì)充(chōng)放(fàng)電係統采用(yòng)專門設(shè)計(jì)的(dí)電容(róng)放電(diàn)電(diàn)路(lù)來(lái)測量,測(cè)試(shì)電(diàn)路如下圖(tú)所示。在該電(diàn)路(lù)中(zhōng),首先將介(jiè)電膜充電到給定(dìng)電壓,之後通(tōng)過(guò)閉合高速MOS高壓(yā)開(kāi)關(guān),存儲在電(diàn)容器膜(mó)中的(dí)能量(liáng)被(bèi)放(fàng)電(diàn)到(dào)電(diàn)阻(zǔ)器負(fù)載(zǎi)的原(yuán)理設計開發(fā),更(gēng)符合電(diàn)介質充放電(diàn)原(yuán)理。
主(zhǔ)要參(cān)數(shù):
1,電流探頭(tóu)帶(dài)寬(kuān):120MHz;
2,峰(fēng)值電(diàn)流(liú):0-100A,150 A(多種電流可監測);
3,電流(liú)采集精(jīng)度:1mA;
4,高壓源模(mó)塊:3KV,5KV, 10kV,15KV多可(kě)選(xuǎn)(電流:0-5mA);
5,開關適用:100萬(wàn)次,耐壓(yā)15kV;
6,溫(wēn)控範圍:0-200℃;
7,溫度(dù)穩(wěn)定(dìng)性(xìng)和(hé)精(jīng)度:0.1℃;
8,測試樣品(pǐn):薄膜,厚膜,陶(táo)瓷(cí),玻(bō)璃等(děng);
9,可以(yǐ)配合(hé)各種極(jí)化設(shè)備進(jìn)行(háng)多種壓電材(cái)料和介(jiè)電材料(liào)的測試(shì)。

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