可在不同(tóng)溫度，頻率(shuài)下測(cè)量材料(liào)的介電(diàn)常數(shù)及(jí)介(jiè)質損(sǔn)耗(hào)因數的係統？

  高電場(cháng)介(jiè)電(diàn)
，損(sǔn)耗(hào)
，漏(lòu)電流測試(shì)係(xì)統可實(shí)現從低(dī)頻到高(gāo)頻(pín)信(xìn)號(hào)的(dí)輸出(chū)與測(cè)量，係統(tǒng)由工(gōng)控(kòng)機發出指(zhǐ)令，單片機控(kòng)製FPGA發(fā)出測(cè)量波形(xíng)，FPGA一(yī)路信(xìn)號(hào)控(kòng)製不同頻率幅(fú)值的信(xìn)號(hào)由高壓放大器進(jìn)行電(diàn)壓(yā)放(fàng)大(dà)後，施(shī)加在樣品上，另(lìng)一(yī)路施(shī)加在鎖(suǒ)相放大(dà)器(qì)作為參考信(xìn)號，不同(tóng)頻率幅值(zhí)的高壓信號(hào)加載(zǎi)樣樣(yàng)品上(shàng)，樣(yàng)品(pǐn)測量的信號測量(liáng)後，再回(huí)傳(chuán)FPGA測試板(bǎn)卡(qiǎ)。測量的數據(jù)再(zài)由(yóu)單片(piàn)機回(huí)傳(chuán)工控(kòng)機進行數據處理。

它使(shǐ)用真正(zhèng)的(dí) AC DFR（介電頻率響應），保持出(chū)色的(dí)準(zhǔn)確性和提(tí)供(gōng)可(kě)靠數(shù)據的能力(lì)，可(kě)在高幹擾環境中獲(huò)得可靠的測試(shì)結果(guǒ)。 該(gāi)軟(ruǎn)件(jiàn)使(shǐ)測試既簡(jiǎn)單(dān)又快(kuài)捷，它(tā)可(kě)在(zài)進(jìn)行不同(tóng)溫度，頻(pín)率下測量(liáng)材(cái)料的(dí)介電(diàn)常數及介(jiè)質(zhì)損耗(hào)因(yīn)數。本(běn)套(tào)係統可以在(zài)任意電壓激勵(lì)下的介電響應(yīng)測試根(gēn)據需要(yào)自定義(yì)輸出(chū)任意(yì)電壓波形(xíng)激(jī)勵，滿足(zú)對不同(tóng)條件下(xià)不同絕(jué)緣材(cái)料不同(tóng)方(fāng)麵(miàn)的測試需求(qiú)，較好地適(shì)應(yīng)用(yòng)戶需(xū)求。

產(chǎn)品(pǐn)優(yōu)勢

對被(bèi)測信號(hào)進(jìn)行(háng)調整的(dí)信(xìn)號源(yuán)，由鎖(suǒ)相放大器(qì)的信(xìn)號輸出端(duān)提供(gōng)，采(cǎi)用(yòng)內(nèi)部(bù)參(cān)考模式，這(zhè)種(zhǒng)模式(shì)幅於鎖相(xiāng)放大器(qì)對直接(jiē)可以(yǐ)獲取的參考信號(hào)的幅度及(jí)相位(wèi)，測量精度更(gēng)高。數字(zì)鎖(suǒ)相放(fàng)大(dà)器不會由(yóu)於算(suàn)法計算而(ér)引入(rù)或考增(zēng)加噪聲(shēng)，並且基本不受(shòu)外(wài)界(jiè)環境(jìng)的幹(gān)擾(rǎo)。