從事半導(dǎo)體器(qì)件(jiàn)，功能(néng)材料(liào)，結(jié)構陶(táo)瓷(cí)研(yán)發(fā)與(yǔ)測試，是否正(zhèng)被(bèi)溫度不準，數據漂(piāo)移(yí)，電磁(cí)幹擾大等問(wèn)題(tí)困(kùn)擾(rǎo)？華測儀(yí)器(qì) Huace-450T 高(gāo)低(dī)溫冷熱台，一站式(shì)解決高低溫環境下的準確(què)測量難題。

寬溫(wēn)域準(zhǔn)確控溫

支(zhī)持(chí) -185℃ ~ 550℃（負溫段(duàn)需選配液氮製冷(lěng)係統）或 RT~650℃ 寬(kuān)溫(wēn)區連續可(kě)調，可(kě)覆(fù)蓋半導(dǎo)體(tǐ)，介電(diàn) / 鐵電(diàn) / 壓電材料(liào)，陶瓷，薄膜與(yǔ)器(qì)件的(dí)全(quán)溫域(yù)特性測試。控(kòng)溫精(jīng)度可(kě)達(dá) ±0.05℃（>25℃），溫度分辨率 0.01℃，溫(wēn)場穩(wěn)定一致，減少溫度波動(dòng)帶來(lái)的(dí)數據誤差。

低幹擾(rǎo)電學(xué)測(cè)試(shì)設計(jì)

采(cǎi)用直流電極(jí)加熱，減少(shǎo)電網諧(xié)波與(yǔ)電(diàn)磁幹擾；搭(dā)配(pèi)低(dī)阻(zǔ)抗導(dǎo)綫(xiàn)與優化型樣(yàng)品電極(jí)結(jié)構，大幅降低(dī)雜(zá)散(sàn)電容(róng)，引(yǐn)綫(xiàn)阻抗與漏電流幹擾(rǎo)，讓微(wēi)弱(ruò)電信號測試(shì)更(gēng)幹(gān)淨，更可靠。

多功能(néng)集成(chéng)一(yī)機多(duō)用(yòng)

內(nèi)置集成(chéng) TSDC 熱刺激電(diàn)流(liú)，熱(rè)釋電(diàn)，電(diàn)阻，介(jiè)電(diàn)等(děng)全功能測(cè)量模(mó)塊(kuài)，一(yī)套係統即可完(wán)成材料(liào)電學參數(shù)表征(zhēng)，減(jiǎn)少多設備切(qiē)換，優化測(cè)試效(xiào)率與數(shù)據一致性。可搭配顯(xiǎn)微鏡(jìng)，光(guāng)譜(pǔ)儀等設(shè)備(bèi)，實(shí)現原位(wèi)光學(xué)觀測與電學測(cè)試(shì)同(tóng)步進行(háng)，直(zhí)觀捕(bǔ)捉材料(liào)在(zài)變溫(wēn)下(xià)的微觀結(jié)構(gòu)與性能演(yǎn)變(biàn)。

氣密防(fáng)護(hù)與穩定探(tàn)針(zhēn)

氣密式(shì)腔體支(zhī)持氮氣(qì)保(bǎo)護(hù)，真(zhēn)空(kōng)除(chú)霜(shuāng)，防止樣品高溫氧化與低溫結(jié)霜(shuāng)，保障(zhàng)樣(yàng)品材料(liào)測(cè)試(shì)環境(jìng)純淨穩定(dìng)。標(biāo)配(pèi)杠(gàng)杆式(shì)探(tàn)針(zhēn)支架，點(diǎn)針(zhēn)準(zhǔn)確(què)，接觸可靠(kào)，大(dà)幅優(yōu)化(huà)測(cè)試重(zhòng)復性與(yǔ)操作(zuò)便(biàn)捷性。

智能(néng)軟件 HuacePro

配套(tào)測試(shì)軟件平(píng)台 HuacePro，支持(chí)自定義(yì)溫控程序，升降溫(wēn)速(sù)率(shuài)設定，實(shí)時(shí)曲綫記(jì)錄，數(shù)據自(zì)動存(cún)儲與導(dǎo)出(chū)，全(quán)流程(chéng)自(zì)動化(huà)管控，讓復(fù)雜變溫測試更簡(jiǎn)單(dān)快捷。