溫(wēn)度，是衡量電(diàn)容(róng)器性能穩定性的(dí)關(guān)鍵考驗(yàn)。在高(gāo)低(dī)溫交替，工況復雜多(duō)變的環(huán)境中(zhōng)，如何準(zhǔn)確捕捉電容(róng)特(tè)性的細微(wēi)變化(huà)，真實還原器件(jiàn)在實際場(cháng)景下的表(biǎo)現
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華測(cè)儀器 HCCT-40H 電容器溫(wēn)度(dù)特(tè)性(xìng)評估係統，專為(wéi) MLCC，薄(báo)膜電(diàn)容(róng)，陶(táo)瓷(cí)電容(róng)等(děng)多類(lèi)電容(róng)器量身打造，提供一套(tào)多通道，全自(zì)動，高準(zhǔn)確度(dù)的(dí)溫變(biàn)特(tè)性綜合測試(shì)方案。

係統(tǒng)支(zhī)持至(zhì)多64通道同(tóng)步測(cè)量(liáng)，可(kě)按(àn)8通(tōng)道倍(bèi)數靈活(huó)選配，可實現64路樣品(pǐn)並行測(cè)試(shì)，1 分鐘(zhōng)內即(jí)可完成(chéng)全(quán)參(cān)數掃描，大幅優化測(cè)試通量(liáng)與(yǔ)效(xiào)率，告別單通道(dào)逐(zhú)點測試的漫長(cháng)等(děng)待(dài)。

設備搭載三(sān)大(dà)測試模(mó)式(shì)：溫度特性測(cè)試，恒(héng)定運行測試(shì)，頻(pín)率特(tè)性測試，實現對(duì)電(diàn)容(róng)性能的三(sān)維(wéi)評估。支持(chí)至高201步頻(pín)率掃(sǎo)描(miáo)，掃(sǎo)描範(fàn)圍(wéi)可按需定(dìng)製，全維(wéi)度(dù)追蹤電容(róng)量(C)，損耗(hào)係數(D)，阻抗(Z)，電(diàn)阻(zǔ)(Rs，Rp)，電感(Ls，Lp)等(děng)關鍵參(cān)數隨溫度(dù)，頻(pín)率的變化規律。

測量采用(yòng)高準度交流四端(duān)對(duì)測(cè)量法(fǎ)，測量頻率覆蓋20Hz～1MHz，直流偏壓(yā)範圍為(wéi)0～±40V，可(kě)覆(fù)蓋電容(róng)器電參數(shù)的準確測量需(xū)求，為(wéi)電容器的材(cái)料研發，品質管控，可(kě)靠性驗證與老(lǎo)化(huà)評估(gū)，提供(gōng)一(yī)站式，標準化的(dí)便捷測(cè)試解決方(fāng)案。