>

塞(sāi)貝克(kè)係(xì)數是(shì)評估材(cái)料熱(rè)電(diàn)性(xìng)能(néng)的關(guān)鍵指標,華測(cè)儀(yí)器(qì)HC-RD-1100塞貝克係數(shù)電(diàn)阻測(cè)試儀(yí)是為(wéi)材(cái)料研(yán)究(jiū)與(yǔ)工業(yè)質控打造(zào),提(tí)供一站式準(zhǔn)確測試方案(àn),助力科研與(yǔ)產業提質(zhì)。
儀器(qì)采用(yòng)靜態(tài)直流法測塞貝(bèi)克係數(shù),四(sì)端法測(cè)電阻率(shuài),一鍵(jiàn)同步獲取兩(liǎng)大參數,規避(bì)分(fēn)步測試(shì)誤差,縮短(duǎn)周(zhōu)期;四端(duān)法(fǎ)可減少接觸電(diàn)阻幹(gān)擾,確保數據可靠。測(cè)試(shì)精度突出:塞(sāi)貝(bèi)克係數準(zhǔn)確(què)度±7%,重復性±3%;電阻(zǔ)率準確(què)度±5%~8%,覆蓋(gài)絕緣體至導(dǎo)體全品(pǐn)類(lèi)材(cái)料,輸出(chū)穩定(dìng)準確(què)數(shù)據(jù)。寬(kuān)溫區(室溫至1100℃)搭配(pèi)多(duō)氣氛模擬(惰性,氧化,還原(yuán),真空),還(huán)原(yuán)真(zhēn)實工況(kuàng),滿(mǎn)足熱電材料,高溫合(hé)金等多(duō)種測(cè)試需求(qiú)。樣品兼容性(xìng)強(qiáng),適(shì)配(pèi)圓柱,棱柱,圓盤(pán)等(děng)試樣,無(wú)需額外(wài)工裝;可調(tiáo)探頭搭配(pèi)三(sān)明(míng)治(zhì)夾持(chí)結(jié)構,接觸(chù)穩定,減少誤(wù)差,優化效(xiào)率。配置(zhì)0~1A穩定電源,支(zhī)持72小時長周期高溫實驗(yàn);搭載K/S/C型熱(rè)電(diàn)偶(ǒu),溫控準確,確保測(cè)試結果重復(fù)可靠。
儀(yí)器覆蓋實驗(yàn)室科研(yán)與工業(yè)質(zhì)控場(cháng)景(jǐng),為(wéi)熱電(diàn)轉換(huàn),高(gāo)溫材料(liào)評(píng)估(gū)等領域提供(gōng)支(zhī)撐,助力推進(jìn)科研,優化產品(pǐn)質量。
華測(cè)儀器的業務(wù)涵蓋從(cóng)單(dān)台測試(shì)設備(bèi)供應(yīng)到整(zhěng)體實(shí)驗室規劃(huá)建設的全過(guò)程。建設(shè)絕緣材(cái)料(liào)或功(gōng)能(néng)材料(liào)電(diàn)性(xìng)能檢(jiǎn)測(cè)實(shí)驗(yàn)室,華測儀(yí)器(qì)可(kě)提(tí)供從方案(àn)設計到交(jiāo)付驗收的(dí)完(wán)整(zhěng)服(fú)務。

微(wēi)信掃一(yī)掃(sǎo)